Introduccin a la Inspeccin por Corrientes Eddy

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Objetivos de la Inspeccin de Materiales

Todas las pruebas realizadas a materiales tienen como objetivo determinar alguna propiedad especfica. Algunos ejemplos son: Aleacin Dureza Calidad de la superficie, tales como: Rugosidad, grietas, poros, etc. Propiedades magnticas, por ejemplo: Fuerza coercitiva (fuerza del campo coercivo) Propiedades elctricas, por ejemplo: Conductividad Medicin de espesores de pelcula

Estas propiedades de un material especficamente, pueden ser importantes en dos formas: 1. Para el monitoreo de la produccin en busca de errores metdicos. 2. Para el cumplimiento de requerimientos de inspeccin de normas y estndares.

Mtodos de inspeccin para la deteccin de defectos comparados con el mtodo de corrientes Eddy

Pieza a inspeccionar Defectos superficiales

Defectos subsuperficiales

Defectos internos

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Tipo de Defecto
Defectos superficiales

Inspeccin con corrientes Eddy

Otros Mtodos No Destructivos

Deteccin y anlisis de Inspeccin con lquidos defectos penetrantes Inspeccin con partculas magnticas Inspeccin por fuga de flujo magntico Inspeccin ultrasnica con sensores especiales Inspeccin por fuga de flujo Defectos subsuperficiales Predominantemente magntico deteccin de defectos, ultrasnica con aplicacin restringida Inspeccin sensores especiales como mtodo de anlisis Defectos internos No es posible utilizar Inspeccin ultrasnica corrientes Eddy, a Inspeccin radiogrfica (rayos-X, menos que sea en rayos-Gamma) materiales con espesor de pared muy delgado (tubos con el mismo espesor de pared que la profundidad de penetracin)

Para la inspeccin superficial no destructiva de materiales existen 3 mtodos importantes: Inspeccin con lquidos penetrantes Inspeccin con corrientes Eddy Inspeccin por fuga de flujo magntico

Principales aplicaciones de la inspeccin por corrientes Eddy

1) Inspeccin automtica Productos semi-terminados (alambres, barras, tubos): Inspeccin de defectos superficiales, Inspeccin de cordones de soldadura (en el caso de tubos soldados), Deteccin de inclusiones de hierro (en el caso de materiales no ferrosos, Ej. cobre o aluminio)

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Campos de aplicacin:

Materiales no porosos (elctricamente conductivos y no conductivos)

Inspeccin con Lquidos Penetrantes

Materiales electricamente conductivos (ferromagnticos y no ferromagnticos)

Inspeccin con corrientes Eddy

Materiales ferromagnticos

Inspeccin por fuga de flujo magntico

con sensores / con partculas magnticas

Componentes producidos en masa / productos terminados (discos de frenos, tambores de frenos, vlvulas, pernos, etc.): Medicin de propiedades de material (Ej. Conductividad ) Clasificacin de materiales (aleacin, tratamiento trmico, dureza, geometra, etc.) Inspeccin de defectos superficiales 2) Inspeccin manual (en mantenimiento / revisin / produccin): Medicin de conductividad elctrica Medicin de espesores pelcula (aislante NFe, NFe Fe, aislante Fe) Medicin del contenido de ferrita Determinacin del espesor de un material Inspeccin de corrosin Deteccin de grietas superficiales Inspeccin de rivetes (aviones) Inspeccin de cavidades (aviones )

Generacin de corrientes Eddy en un material

Alejado de la teora de la electrodinmica, se sabe que en la naturaleza los campos elctricos y magnticos estn siempre acoplados:

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Una alteracin temporal del campo elctrico (E / t, desplazamiento d corriente de Maxwell) da como resultado un campo magntico circular H en el lugar de la alteracin:
E

Las alteraciones del campo magntico (H / t, Ley de induccin de Faraday) dan como resultado un campo elctrico circular E, tambin llamado fuerza electromotriz:

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En materiales conductores de electricidad, E tiene un efecto de voltaje circular acelerado para portadores libres de carga. Entonces surgen las corrientes Eddy, en forma de un campo magntico de forma circular HS con su respectivo flujo secundario S :
H

HS

La cantidad de voltaje inducido y por lo tanto de corrientes Eddy crecen a medida que aumenta la velocidad de alteracin del campo y esto es, en caso de estimulacin de forma sinusoidal, directamente proporcional a la frecuencia:

Voltaje inducido [ V ]

Alteracin de campo rpida Alteracin de campo lenta

Tiempo [s]

Aumentando la frecuencia la densidad absoluta de corrientes Eddy en la superficie del material aumenta tambin, incluso el flujo secundario S aumenta cuando crece el escudo de campo en lo profundo del material (Efecto Piel). Debido a esto la selectividad por alteraciones en la superficie crece considerablemente lo cual da a la prueba por corrientes Eddy su importante reconocimiento como un mtodo sensible de inspeccin superficial. Resumido en una frase, el principio fsico de inspeccin por corrientes Eddy puede ser descrito como sigue: Energa electromagntica generada para interactuar con un material y cuya reaccin es determinada metrologicamente

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Principio de operacin del mtodo de corrientes Eddy

El principio de inspeccin no destructiva de un material es tal que el material a ser inspeccionado es puesto en un estado fsico adecuado de energa donde la energa fluye dentro del material. Defectos e irregularidades dentro del material causan anomalas en el flujo de energa, y estas pueden tambin ser conocidas externamente sin penetrar destructivamente dentro del material. EL mtodo de corrientes Eddy genera una corriente elctrica alterna (corriente eddy) con una apropiada direccin, magnitud y frecuencia en la parte a ser inspeccionada.
Hprimario
Corriente de excitacin

Hsecundario (corrientes

Corrientes Eddy

Las irregularidades que ocurren en esta corriente son analizadas por medios electrnicos y electrotcnicos. Una ventaja particular es que la corriente alterna puede ser inducida en el material, de manera que no se necesita estar en contacto directa o indirectamente - con el material. Una bobina de induccin de forma determinada es puesta cerca del material a ser inspeccionado y excitada con una corriente alterna. La bobina genera un campo magntico alterno que tambin penetra dentro del material a ser inspeccionado. Como una reaccin a esto, en el material se generan corrientes eddy, y esto en consecuencia genera un campo magntico de direccin opuesta al campo magntico generado. De esta forma, el campo primario generado y el campo opuesto de corrientes eddy salen del material, y regresan a la bobina con un efecto debilitado. Debido a este efecto, la reactancia de la bobina es reducida en una cantidad la cual aumenta a medida que las corrientes eddy aumentan tambin. Alguna irregularidad en el material, como una grieta, obstruyen a las corrientes eddy ya que estas tienen que rodear la grieta (la grieta representa una gran resistencia par alas corrientes eddy):

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HEC

Corrrientes

Grieta

Las corrientes eddy disminuyen, y consecuentemente el campo de corrientes eddy ( HEC ) el cual tiene un efecto reactivo en la bobina tambin se reduce y la reactancia en la bobina contina incrementndose. Este efecto es utilizado en el mtodo de corrientes eddy con el fin de detectar las discontinuidades. Si la bobina es desplazada sobre una placa de metal a una distancia de separacin constante, un cambio momentneo se presenta en la reactancia y en la corriente de la bobina cuando esta pasa sobre una grieta o defecto. Este cambio puede ser amplificado y mostrado, por ejemplo en un instrumento registrador. Un muy sencillo detector de grietas por corrientes eddy puede realizarse con un circuito como el mostrado a continuacin:
Instrumento registrador Punto Zero Batera Sensibilidad

Un generador de corriente alimenta la bobina de prueba con Corriente Alterna (CA). En la bobina se produce un voltaje alterno, y este voltaje cambia cuando la bobina pasa sobre un defecto. El voltaje alterno es rectificado y su valor base es compensado con un voltaje DC de polaridad opuesta.
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Generador de Corriente

Bobina de Prueba

Los cambios en el voltaje de la corriente son indicados en el instrumento registrador. En la prctica no se usa este tipo de detector de grietas por corrientes eddy. Este instrumento solo sera capaz de indicar defectos muy burdos. Los instrumentos actuales de corrientes eddy son considerablemente ms elaborados. Con el fin de entender el principio de operacin de las corrientes eddy, se debe examinar ms detenidamente el principio de operacin y las caractersticas de las bobinas de prueba por corrientes eddy. La siguiente figura muestra una bobina de corrientes eddy la cual es localizada a una distancia de separacin A de un material conductivo. La bobina es considerada como ideal, es decir que no tiene perdidas ohmicas.
L

jL = componente inductivo P1 =0

incremento

Z = f ()

P2

P3

R = componente ohmico

En la figura anterior la reactancia de la bobina en el plano complejo es mostrada como una funcin de la conductividad del material a ser inspeccionado a una separacin constante A.

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Si el material es un aislante es decir, que su conductividad sea 0 -, las propiedades de la bobina no son afectadas por que no se producen corrientes eddy. Su reactancia jL0 permanece sin cambio (punto P1). Si el material tiene un valor de conductividad finito, entonces se presentaran corrientes eddy y habr perdidas. La bobina sealar esto con un incremento en las perdidas, por ejemplo en el componente ohmico, con una reduccin simultnea en el componente inductivo. Con el incremento de la conductividad, el punto de operacin cambia de P1 al punto P2. Si la conductividad aumenta a un valor muy alto y se aproxima al valor esperado de ,entonces ya no habr mas perdidas ohmicas en el material. El componente ohmico de la impedancia de la bobina debe nuevamente desaparecer. Aunque sin embargo siguen fluyendo corrientes eddy muy poderosas, el campo opuesto que estas corrientes generan reduce la reactancia de la bobina considerablemente (punto P3). Se puede demostrar teorica y prcticamente que la resistencia de la bobina en el plano complejo pasa a travs de un semi-circulo aproximado desde el punto P1 va el punto P2 y hasta P3 si la conductividad del material vara empezando en un valor 0 (aislante) a travs de valores practicos (ej. aluminio o cobre) hasta llegar a un valor (superconductor).

La conductividad tiene una influencia determinante en la impedancia de la bobina si la bobina es acercada a un material conductivo

No solo la conductividad del material a inspeccionar tiene influencia en la impedancia de la bobina, tambin la tiene la separacin A de la bobina con la superficie de la pieza. Si la separacin es muy grande, el campo de la bobina no llega a tener efecto en la pieza; por lo tanto no se llegan a producir corrientes eddy cuyo campo producido pueda tener efecto en el campo de la bobina. La impedancia de la bobina permanece sin cambio, incluso si la conductividad pasa por los valores desde 0 hasta . La curva de impedancia que para una separacin A finita se aproximaba a un semi-crculo se aleja hasta el punto P1:

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A A A= 0

j P1

A = constante, =
A1

= constante, A =

A2

A= 0

Si la separacin A cambia desde un valor muy grande hasta valores finitos debajo de 0 (los cuales no pueden ser alcanzados en la practica), las curvas de impedancia continuan expandiendose hasta que finalmente pasan por el origen a una distancia de separacin 0. Con una muy alta conductividad y una separacin A igual a 0, tenemos por una parte que no hay perdidas, y por lo tanto no hay componentes ohmicos en la impedancia. Por otra parte, el acoplamiento de la bobina con el material es ideal de manera que el campo generado es cancelado completamente por el campo de las corrientes eddy. De modo que esto significa que la bobina tampoco tiene reactancia, es decir, que su resistencia efectiva es 0. Por lo tanto la curva de impedancia tambin pasa a travs del origen (estos valores no pueden ser obtenidos en la practica, por lo tanto se considera al origen como un punto teorico).

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Tambin la separacin de la bobina con el material a ser inspeccionado tiene una influencia determinante en la impedancia de la bobina

Utilizando las leyes establecidas, es posible especificar la impedancia de la bobina para todas las conductividades existentes en combinacin con todas las separaciones posibles. Cuando se inspecciona en busca de defectos, el objetivo no es medir conductividad o separacin sino establecer la presencia de defectos. El fin principal no es, por lo tanto, conocer la influencia de la conductividad y la separacin en la impedancia de la bobina, sino principalmente estar conciente de la influencia de los defectos en el material. Como ya se mencion los defectos en el material tambien tienen un efecto sobre la impedancia de la bobina:

jL

defecto Z A

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Si la bobina pasa sobre una grieta, la impedancia de la bobina varia en un valor especificado en la direccin del vector. Si por otra parte la bobina cambia su separacin de la superficie, el vector cambia en otra direccin.

Este efecto es muy significativo. Es utilizado en dispositivos electrnicos con el fin de evaluar el efecto de discontinuidades en un material.

Las relaciones mostradas en la figura anterior aplican a valores particulares de conductividad. Para valores pequeos de conductividad, las relaciones son menos favorables debido a la diferencia de un vector generado por cambios en la distancia bobina superficie y un vector generado por el efecto de una grieta es posible solo en una dimensin reducida:
jL
Efecto de una grieta 1

Efecto por separacin bobina material

Efecto de una grieta Efecto por separacin bobina material

Para la conductividad 1 los dos vectores tienen casi la misma direccin, pero para la conductividad 2 difieren bastante en el angulo. Sin posibilidades adicionales, esta situacin podra significar que los materiales de baja conductividad son ms difciles de inspeccionar que los materiales con alta conductividad, por que en este ltimo caso los efectos originados por una grieta son diferenciados mejor que los efectos indeseados por el cambio en distancia. La posibilidad adicional es provista por una variacin en la frecuencia de inspeccin. La influencia de la frecuencia de inspeccin en la impedancia de una bobina situada cerca de un material conductivo no ha sido discutida hasta el momento:
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jL
f = constante = variable

jL f f1 f = variable =

fg

f2

R
Influencia de la conductividad en la

R
Influencia de la frecuencia cuando hay conductividad constante

Ambas cantidades ejercen la misma influencia en la impedancia, lo cual significa que la impedancia reacciona a un incremento en conductividad en exactamente la misma forma que en un incremento en frecuencia. Esta situacin es muy significativa por que permite seleccionar un punto de trabajo favorable en la curva de impedancias para cada valor de conductividad existente seleccionando una determinada frecuencia, y por lo tanto, se puede obtener la diferenciacin angular optica entre las seales generadas por defectos y las generadas por efectos indeseables, como se menciono anteriormente. Debido a esto, las caractersticas de la inspeccin por corrientes eddy se vuelven independientes de la conductividad particular del material a ser inspeccionado. La frecuencia optima puede ser calculada o, en el caso practico, ser determinada experimentalmente con materiales patrn. En el caso de materiales ferromagnticos tambien la permeabilidad del material tienen una influencia en la seal de las corrientes eddy :

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jL
f

r = 10 r = 5

r = 1 R

Hasta el momento, se han discutido las llamadas bobinas de escaneo, ej. la bobina de corrientes eddy que es guiada por un dispositivo mecanico (cabezal giratorio) sobre la superficie a ser inspeccionada. Adems existen tambin las llamadas a travs o bobinas envolventes :

La inspeccin con este tipo de bobinas es haciendo pasar el material a travs de ella contnuamente. Las caractesticas de estas bobinas en funcin de la conductividad y la frecuencia puede ser descrita de forma similar a la de las bobinas de rastreo. La influencia de la separacin en el caso de las bobinas de rastreo corresponde a la influencia del factor de llenado en el caso de las bobinas envolventes. El factor de llenado se refiere a la relacin de la seccin transversal de material y la seccin transversal de la bobina:

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jL
f

Alto factor de llenado Bajo factor de llenado

La amplitud de la seal de la grieta depende directamente del factor de llenado (en el caso de las bobinas de rastreo depende de la distancia entre la bobina y la superficie del material):

Grieta

D1

amplitud

Alto factor de llenado (D1 > d)

tiempo

Grieta

D2

amplitud

Bajo factor de llenado (D2 >> d)

tiempo

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Generacin de la seal
Como se menciono en la seccin anterior, la direccin del voltaje de una bobina en el plano complejo varia cuando pasa por un defecto. Debido a esto se considera que un defecto en el material inspeccionado causa un efecto en la impedancia de las corrientes eddy. La explicacin fsica de este cambio en impedancia ser ahora explicado en el funcionamiento de una bobina envolvente. En la prctica, por razones tcnicas (mejoras en la relacin seal-rudo), la bobina que genera las corrientes eddy es frecuentemente separada de la bobina encargada de interpretar las seales, en otras palabras, se utilizan una bobina primaria (bobina de excitacin, transmisora) y una secundaria (bobina de medicin, receptora). Las leyes mencionadas anteriormente tambin aplican a estos tipos de bobina en exactamente la misma forma. Arreglo bsico (bobina envolvente ) :
Campo magntico de la bobina de excitacin

Bobina de excitacin

Bobina de medicin

Material inspeccionad

Corrientes dd

Campo magntico de las corrientes eddy

Asumiendo el flujo de corriente en la direccin especificada en la bobina de excitacin, se produce el campo magntico mostrado en la imagn anterior. Ahora, si la corriente de excitacin es una funcin del tiempo, sern generadas corrientes eddy en el material a ser inspeccionado, de acuerdo con la ley de Maxwell. De acuerdo con las reglas de Lenz estas corrientes eddy fluyen en direccin opuesta a la corriente en la bobina de excitacin.
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La magnitude de estas corrientes eddy dependen de la frecuencia f de la corriente de excitacin, la conductividad y la permeabilidad del material bajo prueba as como de la geometra del arrglo. Como resultado del efecto piel, la profundidad de penetracin es muy pequea par alas frecuencias usadas comunmente. Esto puede ser determinado aproximadamente con la siguiente expresin:

=1/

Ahora, si hay una discontinuidad en el material por ejemplo una grieta longitudinal, las corrientes eddy son desplazadas y tienen que fluir, por ejemplo, por debajo de la grieta:

Grieta longitudinal

Debido al gran espacio que hay entre las corrientes eddy y la superficie, el campo magntico es reducido en la zona de la discontinuidad fuera del del material, el flujo magntico asociado a las corrientes hed y contenido en la bobina de medicin se vuelve pequeo. Consecuentemente, el voltaje en la bobina de medicin se incrementa debido a que las corrientes eddy tartan de obstruir el flujo magntico de la bobina de excitacin a travs de la bobina de medicin:

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Umea

Reduccin y suppression de interferencias en la inspeccin por corrientes Eddy

De los principios fundamentals de inspeccin por corrientes eddy queda claro que la influencia de discontinuidades en el material genera ciertas caractersticas en la bobina de medicin las cuales son utilizadas para descubrir dichas discontinuidades. Tambin es claro, que ademas de esto existen otros factores que influyen en la impedancia de las bobinas de medicin. Estos factores de ben considerarse como factores de interferencia los cuales dificultan o hacen imposible la deteccin de discontinuidades. La mejor opcin es que el sistema sea capaz de suprimir estos factores de interferencia y se pueda obtener la major seal durante la inspeccin, con esto se pueden descubrir incluso defectos muy pequeos. Definicin de interferencia de acuerdo con DIN 54 140 parte 2: DIN designa como interferencia a todas las seales que contienen informacin irrelevante para la inspeccin. Definicin de interfrencia de acuerdo con EN 1330-5 (reemplazo para DIN 54 140 part 2): Se designa como seal de interferencia cualquier seal indeseable que pueda interrumpir la seal de inspeccin. Ejemplos de interferencias durante la inspeccin: Vibraciones de la pieza de prueba durante la inspeccin (variaciones de distancia). Fluctuaciones dimensionales repentinas de la pieza de prueba durante la inspeccin (variaciones de distancia). Interrrupcin de la inspeccin por rugosidad superficial excesiva en comparacin con la profundidad de las grietas superficiales que se quieren detectar.
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 Fluctuaciones de la permeabilidad local a lo largo de la pieza de prueba, en material ferrromagntico.

La relacin seal-rudo:
La relacin de amplitudes entre una seal til y una seal de interferencia es llamada relacin seal-ruido. Ejemplo: Factor de interferencia debido a rugosidad superficial
defecto defecto

N / S1 < N / S2
amplitud seal N del defecto seal N del defecto time

seal de interferencia S1

seal de interferencia S2

Requerimiento para inspeccin automtica:

seal del defecto N / seal de interferencia S 3

Debido a esto, todos los equipos de inspeccin por corrientes Eddy son ms o menos diseados para obtener la major relacin seal-rudo posible durante la inspeccin. En cada equipo de inspeccin por corrientes Eddy existen controles tpicos que permites optimizar la inspeccin para obtener la mejor relacin seal-rudo. A continuacin describiremos los factores tpicos de interferencia y las operaciones requeridas en el equipo para poder reducirlos. En general, hoy en da se realizan cuatro tipos de operaciones: Cambios en los sensores de corrientes Eddy, generalmente en las bobinas de medicin (optimizacin de la geometra de los sensores o combinacin de varias bobinas).
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 Optimizacin de la evaluacin electronica para dar prioridad a direcciones especficas de vector. Optimizacin de filtros en la seccin electrnica. En caso de material ferromagntico una pre-magnetizacin adicional de CD para eliminar la influencia de variaciones por permeabilidad en el material. 1) Cambios en las bobinas de medicin: Cambios repentinos en la distancia entre el sensor y el material originan considerables seales de interferencia. Estos cambios en la distancia pueden dificilmente ser evitados en la practica incluso si el sensor y el material son perfectamente centrados uno con el otro (ondulacin en la superficie del material, vibracin del material o del sensor durante la inspeccin,...). Este factor de interferencia puede ser reducido considerablemente usando dos bobinas de medicin adyacentes conectadas diferencialmente. De esta forma los cambios en la separacin afectan las caractersticas de ambas bobinas en la misma proporcin y as se compensa la seal obtenida. Si el arreglo se mueve sobre la grieta de modo que, primero que todo, tenga influencia en una bobina y luego en la otra a exactamente la misma amplitude que con una sola bobina; por ejemplo mantener al mximo la sensibilidad de la discontinuidad mientras la sensibilidad de la separacin del material puede reducirse en la practica en el orden de una magnitud 2 a 3. Bobina envolvente (sistema solo con bobina de medicin sin bobina de excitacin):

Bobina absoluta envolvente

Bobina diferencial envolvente

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Bobina de excitacin

Bobina de medicin 1

Bobina de medicin 2

Hprimaria

Hcorrientes eddy Sensor diferencial

Bobina de rastreo (sistema solo con bobina de medicin sin bobina de excitacin):

Bobina absoluta de rastreo

Bobina diferencial de rastreo

Bobina de excitacin Hprimaria Bobina de medicin 2

Bobina de medicin 1

Sensor diferencial

Seales de la bobina diferencial envolvente con diferentes tipos de defectos:

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Defecto puntual o defecto transversal

amplitu

Defecto longitudinal

amplitu

Diferencias en la representacin de una grieta longitudinal con una bobina envolvente y con una bobina giratoria de rastreo:

Bobina diferencial

amplitud

Grietas longitudinales con incremento en la profundidad

Bobina diferencial de escaneo

amplitud

Grietas longitudinales con incremento en la

curva

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2) Optimizacin de la evaluacin electronica para dar prioridad a direcciones especficas de vector: Esto puede ser visto desde los principios fundamentales de que la seal de voltaje generada por los defectos difiere del voltaje de interferencia (por ejemplo del generado por cambios en la separacin del material) para un particular angulo amplio en el nivel de impedancia si es seleccionada una determinada frecuencia de prueba:
jL

Direccin del d f t Direccin de la separacin

Separacin de fase de las seales de interferencia y un defecto para una determinada frecuencia de prueba seleccionada:
Seal del defecto

Seal de interferencia (a 90 de la direccin de evaluacin y visualizacin suprimida completamente

Se usa parte de la seal del defecto para evaluar y mostrar 90

Direccin de evaluacin y

En el sistema de evaluacin elctrico, es usado un amplificador el cual suprime completamente aquellos voltajes que aparecen en una direccin de vector especfica. La direccin de evaluacin y visualizacin de este amplificador puede ser ajustada como se requiera.

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Si la direccin de evaluacin y visualizacin es ajustada perpendicularmente (90) a la direccin de las seales de interferencia (por ej. variaciones de distancia de separacin) la inspeccin se vuelve poco sensible a cambios en la distancia de separacin donde la sensibilidad con respecto a los defectos es fuertemente reducida por la proyeccin bajo un pequeo angulo a la direccin de evaluacin y visualizacin. Los equipos de inspeccin por corrientes Eddy incorporan un control de fase el cual permite mostrar la direccin de evaluacin que puede ser de 0 a 360, y por lo tanto se pueden suprimir defectos indeseados en cualquier direccin.

Consideracin de las diferencias de fase entre una seal util y una seal de interferencia al evaluar la seal de un defecto:
Para el anlisis de seales de defectos se generan electronicamente las llamadas mascaras de evaluacin en la pantalla del monitor (en la presentacin X/Y). En la actualidad se utilizan tres diferentes mscaras de evaluacin: La evaluacin por Vector (tambin llamada evaluacin por amplitud o evaluacin alrededor). La evaluacin en componente Y. La evaluacin por Sector (tambin llamada evaluacin amplitud-fase).

1) Evaluacin por Vector (evaluacin por amplitud): La evaluacin por vector es independiente de la fase (no se evalua la posicin de la fase de las seales, solo la amplitud). Se aplica siempre que, la posicin de la fase de las seales no es conocida o si se busca encontrar varios tipos de defectos con posiciones de fase diferentes, y/o las seales de interferencia son reducidas por el sistema electrnico del instrumento (filtros) que no logran exceeder ninguno de los niveles de deteccin de defectos.

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Representacin grafica de la pantalla X/Y en la evaluacin vectorial:

Nivel de deteccin F3

Seal de defecto 1

Seal de defecto 2 Pequea seal de interferencia Nivel de deteccin F1

Nivel de deteccin F2

2) Evaluacin en el componente Y: En la evaluacin del componente Y solo una parte de las sealesd es evaluada, la parte que en la grfica X/Y apunta en la direccin del componente Y. Se aplica siempre que, el ajuste del instrumento puede ser optimizado para un tipo de defecto esecfico (misma fase que el defecto de calibracin), y/o Para eliminar grandes seales de interferencia las cuales difieren claramente en fase de las seales de los defectos. Representacin grafica de la pantalla X/Y en la evaluacin del componente Y:

Nivel de deteccin F3 Seal de defecto 1 Nivel de deteccin F1 Seal de interferencia 1 Seal de interferencia 2 Nivel de deteccin F2 Seal de defecto 2

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3) Evaluacin por sector: En la evaluacin por sector solo se evalua parte de las seales, las cuales en el formato de pantalla X/Y se muestran en una posicin de fase y sector de rea definidos. Este tipo de evaluacin tiene aplicacin si, varios tipos de defectos (con diferentes posiciones de fase) deben ser evaluados en una forma diferente y/o Para bloquear seales de interferencia grandes las cuales difieren en una posicin de fase insuficiente de las seales de los defectos. Representacin en el formato de pantalla X/Y del tipo de evaluacin por sector:

Seal de interferencia 2

Seal de defecto 1 (ej. grieta)

Seal de defecto 2 (ej. golpe)

Seal de defecto 3 (e.g. laminacin) Seal de interferencia 1

4) Mediciones de filtrado: El voltaje de salida de una bobina de medicin de corrientes eddy se modula cuando pasa sobre un defecto. Voltaje de salida cuando pasa sobre un material sin defectos:

Voltaje de salida cuando pasa sobre un material con defectos:

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Debido al defecto se obtiene un voltaje de salida con amplitud modulada

Voltaje de salida rectificado (seal, la cual ser evaluada)

El voltaje modulado es rectificado y proporciona un pulso debido al defecto el cual es procesado para obtener la indicacin del defecto. Este pulso es relativamente corto (alta frecuencia) por los defectos (ej. grietas) comparado con los pulsos provocados por las seales de interferencia. Una interferencia puede, por ejemplo, ser una variacin en la conductividad del material que no representa un defecto. Este cambio en conductividad generalmente no se manifiesta de forma abrupta sino que se incrementa gradualmente y despus desaparece de nuevo. Esto por lo tanto modula la salida de voltaje con un pulso relativamente plano (baja frecuencia). Los cambios en conductividad causados por ligeras variaciones en la aleacin lo cual es una interferencia tpica para muchos materiales, modula en el siguiente ejemplo el voltaje de la bobina en casi la misma dimensin que lo hace un defecto. Si solo se mide la altura de la seal modulada y se toma como criterio para establecer la existencia de un defecto (evaluado por el umbral de deteccin de un disparo) entonces el cambio en conductividad podra simular un defecto (pseudo indicacin).

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X
defect (e.g. crack)

interference (e.g. change in conductivity)

U modulated output X voltage

trigger threshold

output voltage after X rectification U trigger threshold

output voltage after X HP-filter

El hecho de que factores de interferencia tales como cambios en conductividad generen pulsos ms anchos que los defectos es utilizado para mejorar la relacin seal-rudo. Las seales de salida son generadas en este caso despus de la rectificacin a un filtro el cual acepta components de alta frecuencia (seales de defectos) preferencialmente pero donde los componentes de baja frecuencia (cambios en conductividad) estan en desventaja. Con esto se consigue que la seal producida por el cambio en conductividad no va a alcanzar el umbral de deteccin (disminuida en magnitud por el filtro) y no provoca una indicacin de pseudo defecto. Ya que es posible, y que por cierto es en casos muy raros, que tambien aparezcan seales de interferencia de alta frecuencia hay tambien disponible un filtro para seales de alta frecuencia (LP) debajo del filtro para seales de baja frecuencia (HP). Un sistema d inspeccin por corrientes eddy tiene controles para ajustar filtros de baja frecuencia (HP) y alta frecuencia (LP), los cuales pueden ser ajustados para
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optimizar la supresin de ruido dependiendo de la velocidad de la bobina de medicin sobre el defecto. En la inspeccin de defectos superficiales con corrientes eddy se dan tres diferentes tipos de espectro de frecuencia: La frecuencia de prueba fP La frecuencia de la seal del defecto fD La frecuencia de la seal de interferencia fS En general se tiene:

fP > fD > fS

La frecuencia de prueba fP: La seleccin de la frecuencia de prueba es parcialmente determinada por la aplicacin particular de inspeccin y por el tipo de material a inspeccionar. La frecuencia de prueba es ajustada en el instrumento de inspeccin (parmetro Frecuencia kHz). Los siguientes factores tienen influencia en la seleccin de la frecuencia de prueba: Material a inspeccionar (conductividad) Tipo de defecto buscado Tipo de sensor de prueba (bobina envolvente, bobina de barrido) La major relacin seal-rudo

En general: Incrementar la conductividad significa disminuir la frecuencia de prueba.

baja ej. austenitico alta ej. cobre

f
alta baja

La frecuencia de la seal de interferencia fS:

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 Esta es una de las influencias indeseables que puede ocurrir durante la deteccin de defectos superficiales. Se minimiza principalmente corrigiendo el mecanismo de transporte del material a inspeccionar (pobre calidad en la conduccin del material alta inestabilidad grandes seales de interferencia). La frecuencia de la seal del defecto fD: La frecuencia de la seal del defecto es una funcin de la velocidad de la bobina de medicin sobre el defecto:

fD Vvelocidad sobre el defecto

Se pueden generar frecuencias de seales de defectos del orden de kHz. La mxima frecuencia de seal que puede ocurrir es parcialmente determinada por la frecuencia de prueba, ya que la seal del defecto es una superimposicin de amplitud modulada de la seal de prueba. La frecuencia de seal de un defecto fD en relacin a la velocidad de la bobina de medicin sobre el defecto Vvelocidad sobre el defecto :

Bobinas de medicin diferenciales

Vvelocidad sobre el defecto

V1

f1

V2 = 2 V1

f2 = 2 f1

V3 = 4 V1

f3 = 4 f1

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Resumen del tema Filtros:

Funciones de los filtros: Reduccin de las seales de interferencia a las cuales esta sujeto el sistema de inspeccin debido a la pieza inspeccionada y a causas externas. Los filtros mejoran la relacin seal ruido en la deteccin de defectos superficiales con corrientes eddy. En la inspeccin con instrumentos que no cuentan con filtros automaticos se debe asegurar uniformidad en la velocidad de inspeccin. Estructura y caractersticas de los filtros: Es preferible utilizar filtros activos, debido a lo simple de su estructura. Los filtros utilizados deben ser ajustados considerando tanto caractersticas de filtrado como su ancho de banda. Se deben considerar las siguientes caractersticas en un filtro: FILTRO PASA BAJOS (LP) FILTRO PASA ALTOS (HP) FILTRO DE PASO DE BANDA (BP) El filtro pasa bajos (LP): Seales de interferencia de alta frecuencia son depuradas por un filtro pasa bajos. Un filtro pasa bajos suprime frecuencias que son mayores al limite superior de frecuencia que se ha establecido para el. Un filtro pasa bajos limita en el caso de una bobina envolvente la mxima velocidad sobre el defecto (en el caso de instrumentos con filtros automticos). Diagrama del circuito de un filtro pasa bajos:
R

sus

Ue

Ua

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Caractersticas de un filtro LP:

IAI dB 0,1 0 -20 -40 1 10 100
#

f fg

Efecto del filtro pasa bajos en una seal de corrientes eddy:

Ue

Seal antes del filtro LP

Ua

Seal despus del filtro LP

El filtro pasa altos (HP): Seales de interferencia de baja frecuencia son depuradas por un filtro pasa altos. Un filtro pasa altos suprime frecuencias que son menores al limite inferior de frecuencia que se ha establecido para el. Un filtro pasa altos limita en el caso de una bobina envolvente la mxima velocidad sobre el defecto (en el caso de instrumentos con filtros automticos).

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Diagrama del circuito de un filtro pasa altos:

C

Ue

Ua

Caractersticas de un filtro HP:

IAI dB 0,1 0 -20 -40 1 10 100
#

f fg

Efecto del filtro pasa altos en una seal de corrientes eddy:

Ue

Seal antes del filtro HP

Ua

Seal despus del filtro HP

El filtro de paso de banda (BP):

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 El filtro de paso de banda tiene influencia en las seales con componentes de baja y alta frecuencia, en relacin al espectro de paso del filtro de paso de banda. Un filtro de paso de banda require, en el caso de una bobina envolvente una velocidad de inspeccin constante (en el caso de instrumentos sin ajuste automatico de filtros). Un filtro de paso de banda es una combinacin de filtros pasa altos y pasa bajos. Diagrama del circuito de un filtro de paso de banda:
C R

Ue

Ua

Caractersticas del filtro BP:

IAI dB 0,1 0 -20 -40 1 10 100
#

f fg

Efecto del filtro de paso de banda en una seal de corrientes eddy :

Ue Seal antes del filtro BP

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Ua

Seal despus del filtro BP

Ejemplos prcticos del ajuste de filtros : 1. Accin de filtrado por medio de un filtro de paso de banda (combinacin de filtros HP y LP ). La figura muestra un ajuste desfavorable. El filtro de paso de banda esta completamente abierto, por lo tanto no existe supresin de las seales de interferencia:

HP 1

LP 18

2.

Accin de filtrado por medio de un filtro de paso de banda (combinacin de filtros HP y LP). La figura muestra un ajuste optimo. El filtro de paso de banda es ajustado de manera tal que se obtiene la major relacin seal ruido:

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HP 10

LP 14

3.

Accin de filtrado por medio de un filtro de paso de banda (combinacin de filtros HP y LP). La figura muestra un ajuste desfavorable. El ajuste del filtro HP se encuentra sobre el ajuste del filtro LP; el filtro de paso de banda esta completamente cerrado, todas las seales (incluyendo la del defecto) son discriminadas totalmente:

HP 10

LP 9

5) Mediciones adicionales en la inspeccin de materiales ferromagnticos:

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La inspeccin de materiales ferromagnticos, por ejemplo tubos de acero, casi siempre presentan variaciones en la permeabilidad las cuales no representan un defecto pero que pueden provocar perturbaciones considerables en la inspeccin debido a la generacin de grandes seales de interferencia. Estos efectos por interferencia pueden ser eliminados mediante la saturacin magntica del material en el momento de la inspeccin. La permeabilidad es reducida a un valor cercano a 1 y por lo tanto esto mismo sucede con las variaciones de permeabilidad. Ejemplo de saturacion magntica en un tubo de acero:
Bobinas de magnetizacin

Tubo de acero

Sistema de bobinas de medicin diferencial

Se utilizan dos poderosas bobinas alimentadas con corriente directa, y esto produce un campo magntico en el eje longitudinal del tubo. El sistema de bobinas de medicin de corrientes eddy es colocado entre estas dos bobinas de campo directo, as que el tubo a inspecionar es saturado magnticamente (si se ajusto la corriente de magnetizacin adecuada en la unidad de control de las bobinas de magnetizacin) en el punto donde se localiza el sistema de bobinas de medicin mientras el tubo pasa a travs durante la inspeccin. Ejemplos prcticos: 1. Tubo de acero ferromagntico: Inspeccin con bobina envolvente.

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barreno

ranura longitudinal

sin

X magnetizacin
A con magnetizacin

2.

Alambre ferromagntico: Inspeccin con bobina envolvente.

sin magnetizacin

con magnetizacin

Posibilidades adicionales para eliminar la influencia de la permeabilidad:

Inspeccin de materiales ferrosos por encima del punto curie (aprox. 1000). Inspeccin de materials ferrosos a una relative frecuencia de inspeccin alta con reduccin simultnea en las dimensiones del sensor (bobina de barrido).

Caractersticas de diferentes sensores de corrientes eddy

Bobina envolvente Construccin: Como regla, se utiliza el principio del transformador es decir aislamiento electrico de los devanados primario y secundario. Todas las bobinas LMD cuentan adems del canal de medicin diferencial con un canal de medicin absoluto. El sistema de medicin diferencial de las bobinas actuales es un sistema multidiferencial.
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Applicaciones: Inspeccin superficial de productos semiterminados tales como barras, tubos y alambres con perfil transversal redondo. La inspeccin se puede realizar tanto en materials fros como en materiales calientes (con bobinas trmicas especiales enfriadas por agua). Predominantemente utilizado para la deteccin de defectos transversals o defectos longitudinales cortos (razn: configuracin fsica de la bobina de medicin diferencial). Intervalo de medidas: Bobinas de inspeccin LMD (Low Frequency Multi Differential Coil): dimetro de bobina de 1,2mm 180mm Frequency Differential Coil): Bobinas de inspeccin HD (High dimetro de bobina de 0,3mm 5,6mm Bobinas trmicas LMD (Bobinas LMD enfriadas por agua para la inspeccin de materials con temperaturas por encima de los 1200C). Sensibilidad de deteccin de defectos: Inspeccin de tubos: Defectos internos (ID): 20% del espesor de pared Defectos externos (ED): 10% del espesor de pared (Condicin: el espesor de pared debe de estar en el rango de 1mm hasta maximo 5mm) Inspeccin de material slido / inspeccin de barras: Defectos externos 1-2% del diametro externo del material pero no menos que 0,1mm. Bobina segmentada: Construccin: Como regla, se utiliza el principio del transformador. Frecuentemente una sola bobina de medicin, la cual no importa su localizacin fsica relativa a la bobina de excitacin funciona como una bobina diferencial. Aplicaciones: Inspeccin de cordones de soldadura en tubos soldados. Preferiblemente materiales austeniticos y aluminio. en

En algunos casos mejora la resolucin en la deteccin de defectos en relacin a la que se obtiene con una bobina envolvente, ya que las bobinas segmentadas se pueden guiar major en relacin a la superficie de la pieza de prueba. Intervalo de medidas: El radio del segmento se encuentra entre 10mm y 500mm. El ancho del segmento es de 30mm para radios <100mm y de 60mm para radios >100mm.

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Sensibilidad de la deteccin de defectos: La sensibilidad dentro del ancho del segmento es usualmente identical a la de una bobina envolvente. La sensibilidad de la inspeccin se debe determinar preferiblemente por el ancho del segmento, ej. la sensibilidad es casi constante, independientemente del dimetro del material a inspeccionar. Bobina de barrido: Construccin: Las bobinas de barrido funcionan predominantemente por el proceso de reflexin. Los sistemas con bobinas de barrido que funcionan por el proceso de transmision son dificilmente encontrados en funcionamiento en estos dias. Aplicaciones: Las bobinas de barrido tienen dos campos tpicos de aplicacin: Medicin de variables fsicas y geometricas y de propiedades (ej. conductividad, espesor de pelcula...). En este caso se utiliza siempre un sistema de bobinas de medicin absoluta. En la deteteccin de defectos superficiales; ambos en modo de inspeccin manual y automtico. En este caso es usualmente un sistema de bobinas de medicin diferencial. Sensibilidad en la deteccin de defectos: Es una caracterstica fundamental de las bobinas de barrido que entre menor interaccin de volumen (ancho efectivo) se utilice en el sistema de bobinas de barrido, se pueden detectar defectos ms pequeos en la superficie del material a inspeccionar. En algunas aplicaciones es possible detectar defectos con profundidades de 30m. El voltaje de la seal del defecto de un defecto definido (como regla un defecto artificial) con una geometra de bobina de barrido dada es siempre independiente del dimetro de la pieza de prueba.

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Comparacin de la sensibilidad de los diferentes sistemas

Profundidad del defecto [mm]

Bobina envolvente Mejor caso

0,6

Peor caso

0,4 Ro 65 0,2 Ro 20/35 20 35 65

Peor caso Ro 130 Mejor caso 130 diametro [mm]

Valores caractersticos de los sensors de barrido de corrientes eddy

1. Ancho efectivo (distancia de cobertura):

Definicin de acuerdo con EN 1330-5: El ancho efectivo es la caracterstica del sensor la cual cuantifica la cobertura del producto a ser inspeccionado en la direccin de la ruta de barrido. As que es la extension del campo efectivo de bobina en la direccin de movimiento del probador: Ejemplo de un sensor de barrido giratorio:

Ancho efectivo

Ejemplo de una bobina envolvente:

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Direccin de movimiento

Ancho efectivo

El ancho efectivo define junto con la velocidad de inspeccin del material con que frecuencia aparecera la seal del defecto. 2. Ancho de pista (ancho de cobertura):

Definicin deacuerdo con EN 1330-5: El ancho de pista es la caracterstica del probador la cual cuantifica la cobertura del producto a inspeccionar en direccin perpendicular a la ruta de barrido. Asi que es la extension del campo de bobina efectivo perpendicular a la direccin de movimiento del sensor:

Ancho de pista

Esto determina la velocidad mxima permitida a la que puede pasar el material a travs del sistema transmisor para poderlo inspeccionar sin interrupcin (cobertura de inspeccin al 100%).

n [U/min] V [m/s]

Para realizar una inspeccin sin interrupcin aplica:

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VMAX = n BS SA
n = velocidad rotacional del cabezal giratorio BS = ancho de pista de un sensor SA = numero de sensores instalados en el sistema transmisor

Angulo de orientacin y amplitud de seal en el caso de un sensor de barrido diferencial

sensibilidad Bobina de medicin absoluta Bobina de medicin diferencial

= 0
Bobina de excitacin

Angulo de orientacin

= 90

Sistema de bobinas de medicin diferencial

Defectos Naturales Defectos Artificiales

No existe relacin entre los dos tipos de defectos. Un defecto natural de la misma profundidad que un defecto artificial produce una seal de amplitud menor. (experimentalmente se obtienen un valor de aprox. 4 6 dB). Por esto los defectos artificiales solo deben usarse como referencias de ajuste. Los defectos artificiales que deben detectarse se especifican en varios cdigos (ej. DIN, EN, BS, JIS, ASTM, API, etc.)

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Profundidad del defecto

seal aprox. 4 6 dB

ruta

Profundidad de penetracin de las corrientes eddy

Definicin de profundidad de penetracin:

100%

Densidad de corrientes eddy en la

1/e = 36,8% 1/e3 = 5% Profundidad de penetracin estndar

Profundidad de penetracin efectiva E

La profundidad de penetracin estndar es la profundidad a la cual la densidad de las corrientes hed ha cado a un valor 1/e = 36,8% de su valor en la superficie del material. De la formula: =

f 0 r

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se puede calcular la profundidad de penetracin estndar para una bobina envolvente. f = frecuencia de inspeccin [Hz] 0 = permeabilidad absoluta = 1,257 10-6 [Vs / Am] r = permeabilidad rlativa del material [Vs / Am] = conductividad elctrica del material [106 S / m] Notas: La formula solo aplica exactamente a bobinas de longitud infinita. La formula no es directamente aplicable a bobinas de barrido. Para bobinas de barrido aplica lo siguiente: La profundidad de penetracin actual no es tanto como el valor calculado. Entre menor sea el ancho efectivo del sensor menor ser la profundidad de penetracin actual. La formula solo podr ser usada en la inspeccin de tubos si el espesor de pared del tubo w es mucho mayor que la profundidad de penetracin ccalculada . De otra manera, la densidad de corrientes eddy incrementa en la pared interna del tubo en un valor mayor que a la misma profundidad en un material slido. La frmula es aproximadamente vlida cuando:

- el espesor de pared w - el radio de un cilindro slido r - el espesor de una placa d

es aprox. 2 3

Ejemplos de profundidades de penetracin en relacin con la frecuencia de inspeccin f (valores calculados con la frula anterior):

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