ENINVIE Encuentro de Investigacin en IE, 45 Marzo, 2004 ENINVIE UAZ 2004 Encuentro de Investigacin en Ingeniera Elctrica Zacatecas, Zac,

, Marzo 4 5, 2004

Reconstruccin tridimensional de un objeto rotado mediante reconocimiento de patrones de lnea de luz

J. Apolinar Muoz Rodrguez Centro de Investigaciones en ptica, A.C. Lomas del Bosque 115, Col. Lomas del Campestre, 37150, Len, Gto., Mxico TEL: +(477) 773 10 18, ext. 284, correo-e: munoza@foton.cio.mx Edgar F. Velsquez Pedroza Universidad de Guadalajara Enrique Daz de Len S/N, Col. Paseos de la Montaa, 47460, Lagos de Moreno Jal., Mxico TEL: +(474) 74 24314, correo-e: evelazquez@facademicos.cualtos.udg.mx y Ramon Rodrguez Vera Centro de Investigaciones en ptica, A.C. Lomas del Bosque 115, Col. Lomas del Campestre, 37150, Len, Gto., Mxico TEL: +(477) 773 10 18, ext. 191, correo-e: rarove@foton.cio.mx

Resumen En este trabajo se presenta una tcnica para reconstruir la forma tridimensional de objetos rotados. Esta tcnica est basada en la proyeccin de una lnea de luz. Para reconstruir la forma tridimensional, el objeto es rotado cuatro veces por medio de un dispositivo electromecnico. En cada rotacin se extrae una vista del objeto, mediante un barrido de lnea de luz sobre su superficie de ste. Estas vistas son conectadas mediante el origen y ngulo de rotacin, para obtener la forma tridimensional completa. El origen y ngulo de rotacin se determinan por medio de reconocimiento de patrones, usando Momentos Invariantes de Hu. Se presentan resultados experimentales, as como el tiempo empleado en el procesamiento.

Abstract In this job, a technique for tridimensional shape reconstruction of rotated objecs is presented. This technique is based on light line projection. To obtain the tridimensional shape, the object is rotated four times. In each rotation, an object view is obtained by scanning the surface of it. The obtained views are connected using the rotation angle and origing. The rotation angle and origing are determined by applying Hu invariant moments. Experimental results and time processing obtained in this technique are presented.

Palabras clave rereconstruccin tridimensional, proyeccin de lnea de luz, Momentos Invariantes de Hu, origen y ngulo de rotacin.

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I. INTRODUCCIN visin robtica y metrologa ptica, se han desarrollado tcnicas para reconstruir la forma tridimensional (3D) de objetos rotados usando proyeccin de luz estructurada. Mtodos pticos tales como: proyeccin de franjas, proyeccin de una lnea de luz y proyeccin de un haz han sido usadas para reconstruir la forma 3D de objetos rotados [1-6]. El uso de luz estructurada en estas tcnicas, hace que el sistema se muy confiable y los datos adquiridos son fciles de interpretar. En el mtodo de proyeccin de franjas, la superficie del objeto se obtiene aplicando un algoritmo de deteccin de fase [1-4]. Este mtodo usa el origen y ngulo de rotacin para obtener la forma 3D completa. En la tcnica de proyeccin de lnea de luz la forma del objeto se determinada por triangulacin, usando la geometra del arreglo ptico [4-5]. Este mtodo tambin usa el origen y ngulo de rotacin para extraer la informacin completa de la superficie del objeto rotado. En el mtodo de proyeccin de un haz, la forma 3D se obtiene por triangulacin, usando la geometra del arreglo ptico [6]. Al igual que en los dos mtodos anteriores, se usa el origen y ngulo de rotacin para reconstruir la forma 3D completa. Estos dos parmetros son obtenidos de manera externa y enviados al sistema computacional para obtener la forma 3D. En el mtodo propuesto en este trabajo, la forma 3D se obtiene proyectando una lnea de luz. El origen y ngulo de rotacin se determinan por un proceso computacional, el cual usa reconocimiento de patrones usando Momentos Invariantes de Hu [7]. Este algoritmo se usa para reconocer el patrn de una lnea de luz proyectada sobre un objeto rotado. Con este algoritmo se procesan tres imgenes para detectar un patrn comn que existe en cada una de estas, pero en diferente posicin debido a la rotacin. Aplicando Momentos Invariantes de Hu, se detecta la posicin de estos patrones en cada una de las imgenes. Con la posicin de cada patrn, el origen y ngulo de rotacin se determinan resolviendo un sistema de ecuaciones lineales. El clculo de estos dos parmetros de manera computacional representa una aportacin a los mtodos de deteccin de forma de un objeto rotado, ya que se evitan mediciones sobre el arreglo experimental. El mtodo perfilomtrico est basado en la relacin geomtrica entre la superficie del objeto y el comportamiento de la lnea de luz en la imagen [8].
N

II. DESCRIPCIN DEL ARREGLO PTICO

El arreglo experimental usado en este trabajo es muy simple, como se muestra en la Figura 1. En este arreglo el objeto se fija en una plataforma con movimiento lineal y rotacional. El objeto se rota cuatro veces y en cada rotacin el objeto es barrido por una lnea de luz. En el proceso de barrido se captura un conjunto de imgenes de lnea de luz, mediante una cmara CCD. Estas imgenes son procesadas para extraer informacin topogrfica, mediante el mtodo de Aproximacin Gaussiana. La informacin producida por cada una de las imgenes, corresponde a una seccin transversal del objeto. La forma 3D completa se genera conectando la informacin de todas las imgenes procesadas.

CCD L ase r dio d e

O b je ct

PC

Figura 1. Arreglo experimental.

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Para describir la relacin geomtrica entre la imagen de la lnea de luz y la superficie del objeto, se usa la geometra mostrada en la figura 2. En esta figura, en el plano de rotacin se encuentran localizados el eje x y el eje y. La distancia radial que va del origen de rotacin a la superficie del objeto, es indicada por r(x, y). Los puntos O y P corresponden a la lnea de luz proyectada sobre el origen de rotacin y sobre la superficie del objeto respectivamente. Cuando una lnea de luz es proyectada sobre una superficie, esta se desplaza del punto xo al punto xp debido a la variacin de la superficie. Este desplazamiento se puede representar como: s(x,y) = xo - xp . (1)

Para obtener este desplazamiento, se mide la posicin de la lnea de luz en cada rengln de la imagen. La medicin de la posicin se realiza mediante Aproximacin Gausiana, ya que la intensidad de la lnea de luz tambin es Gaussiana. Con s(x,y) y las coordenadas del origen, se calcula distancia radial r(x,y).

C C D A rre g lo L a se r L e n te

P r(x ,y ) O

O b je to

E je d e rota cio n

Figura 2. Geometra del arreglo experimental.

La relacin geomtrica entre el objeto rotado y el origen de rotacin, se puede describir usando la Figura 3. Cuando un objeto es rotado, un punto del objeto en la posicin (x1,y1) se mueve a la posicin (x2,y2). Este movimiento describe un arco, por lo tanto, el movimiento se puede describir con la ecuacin de la circunferencia. La ecuacin de la circunferencia incluye las coordenadas del origen
(h,k) y se describe como: x2 + y2 + Dx + Ey + F = 0 , (2)

De esta ecuacin, se calculan las coordenadas del origen (h, k), usando los coeficientes D y E. Estos dos coeficientes se obtienen resolviendo la ecuacin de la circunferencia, para lo cual se usan tres puntos (x, y). De esta manera la coordenadas del origen se definen como: h =-D/2 y k =-E/2. La distancia radial r(x,y) se obtiene con (h,k) y F. Usando la distancia radial y la distancia entre dos puntos d, el ngulo de rotacin se calcula por triangulacin como:

d 1 = sin 1 . 2r

(3)

De esta manera quedan determinados los parmetros del arreglo ptico para la rotacin.

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eje-y

P3(x3, y3) P 2(x2, y2)

r
2 1

r r

P1(x1, y1)

eje x

Figura 3. Geometra de un objeto rotado.

III. PROCESAMIENTO DE UNA LNEA DE LUZ

La distribucin de intensidad proyectada por un diodo lser en direccin transversal es una distribucin Gaussiana [9]. Por lo tanto, una manera natural de representar la intensidad de una lnea de luz, es utilizar una funcin Gaussiana. Los valores de estos pixeles son representados por: (x1, z1), (x2, z2), (x3, z3),......,(xn, zn), donde xi y zi es la posicin y la intensidad del pixel. Para expresar este conjunto de pixeles como una funcin continua f(x), se utiliza la siguiente funcin Gaussiana:
Ni f ( x) = e 2 2 1 x
2

(4)

De la Ec. (4), es la desviacin estndar, Ni es el rea bajo la curva, la cual se puede calcular como:

Ni = z i l ,
i =1

(5)

Donde, n es el nmero de pixeles y l es la distancia entre cada pixel. La media representa el centro de la funcin Gaussiana, la cual se puede determinar como:

z x
i =1 n i

(6)

z
i =1

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Para obtener la posicin de la lnea de luz, la intensidad zi y la posicin xi se sustituye en la ecuacin (6). Este valor corresponde a la posicin de la lnea de luz, el cual ser utilizado en la ecuacin (1), para calcular el s(x,y). En la Figura 4, se muestra un conjunto de pxeles de un rengln de una imagen de lnea de luz. De estos pxeles, se calcula la media de la funcin Gaussiana para obtener la posicin de la lnea de luz. Tambin, se calcula el factor de normalizacin y la desviacin estndar para graficar la funcin Gaussiana mostrada en la figura 4.

Instnsidad del pixel

250

P osici n d e la lnea de luz

200

f( x )

150

100

50

10

12

14

16

18

20

Posicin del pixel

Figura 4. Funcin Gaussiana de un grupo de pixeles.

El procedimiento para obtener la posicin de una lnea de luz, se aplica a todos renglones de la imagen. Con esto se obtiene un perfil que corresponde a el desplazamiento de la lnea de luz. La Figura 5, muestra tres lneas capturadas de un objeto rotado a tres ngulos diferentes. De cada una de estas imgenes se calcula la media para todos los renglones, con lo que se determina el perfil correspondiente. En la Figura 6, se muestra el perfil de cada una de las imgenes.

Figura 5. Lneas proyectadas en un objeto rotado .

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Figura 6. Perfil de las lneas de la Figura.5.

IV. RECONOCIMIENTO DE UN PATRN DE LNEA DE LUZ Cuando una lnea de luz se proyecta sobre un objeto rotado, un patrn del objeto cambia de posicin en cada imagen de la lnea de luz. Para detectar este patrn comn en diferentes imgenes, se usa el mtodo de Momentos Invariantes de Hu. Para efectuar este proceso, primero, se extrae el perfil de la lnea de luz como se muestra en la figura 6. Despus se aplica el mtodo de Momentos invariantes Hu a lo largo de todo el perfil, para detectar el patrn comn. Con este proceso se extrae la posicin de cada patrn en las diferentes imgenes. Los Momentos Invariantes de Hu se describen a partir de los Momentos Centrales y los Momentos Estadsticos. Los Momentos Estadsticos se definen como:

m pq = xip y q f ( x, y ) , j
i =0 j =0

m1 n 1

(7)

Donde f(x,y) es la estructura bajo anlisis, en este caso es la intensidad del pxel. Los momentos Centrales son definidos por:

pq = ( xi x ) p ( y y ) q f ( x, y ) ,
i =0 j =0

m 1 n 1

(8)

donde

x=

m10 m00

y=

m01 . m00

Los Momentos Normalizados se definen por: pq pq = , 00

(9)

donde = p + q + 1. 2

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Usando los Momentos Normalizados se generan los cuatro principales Momentos Invariantes de Hu, los cuales estn definidos por

1 = 20 + 02 ,
2 2 = ( 20 + 02 ) 2 411 ,
2 3 = ( 30 + 312 ) 2 (311 03 ) 2 ,

(10)
(11)

(12) (13)

2 4 = ( 30 + 12 ) 2 ( 21 03 ) 2 .

Para determinar un patrn de la lnea de luz, se seleccionan cinco puntos del perfil de la lnea de luz. La intensidad y la posicin de estos cinco puntos del perfil se sustituyen en la ecuacin (7), para calcular los Momentos Estadsticos. Estos momentos se usan para calcular los Momentos Centrales mediante la ecuacin (8). Despus, se calcula con p=q=5. Con los Momentos Centrales y , se calcula los Momentos Normalizados mediante la ecuacin (9). Con los Momentos Normalizados se calculan los Momentos Invariantes de Hu, 1, 2, 3, 4. Este proceso se aplica a cada cinco puntos del perfil de la lnea de luz. De esta manera se determina que los valores de los Momentos invariantes de Hu, son iguales en la esquina de cada perfil de la Figura 6. Los valores obtenidos son: 1 =4.61x1010, 2=2.13x 1021, 3 =2.55x10-21, 4=-2.55x10-21. Con esto tambin queda determinada la posicin de cada uno de estos patrones, que en este caso es: (x1=11.07,y1=118), (x2=11.75,y2=102), (x3=12.08, y3=69). Estos puntos son utilizados para determinar el origen y ngulo de rotacin.

V. RESULTADOS EXPERIMENTALES

La Figura 1, muestra el arreglo experimental de este trabajo. En este arreglo, el objeto se mueve en el eje de rotacin en pasos de 1.27 mm. Una lnea de luz se proyecta sobre la superficie del objeto por medio de un diodo lser de 5mW. En cada paso del movimiento se captura una lnea de luz por medio de una cmara CCD. Estas imgenes son 320 x 200 pixeles y 256 niveles de gris. Mediante el procesamiento de esta imgenes se extrae la informacin topogrfica de una vista del objeto, aplicando Aproximacin Gaussiana. Despus, el objeto es rotado para obtener la superficie de otra vista del objeto. De esta forma se obtienen cuatro vistas, las cuales se conectan por medio del origen y ngulo de rotacin para obtener la forma 3D completa. Este experimento se realiza con un objeto cuadrado, del cual se muestran dos vistas en la Figura 7 respectivamente.

Figura 7. Dos vistas de un objeto rotado.

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Cuando el objeto se mueve en forma lineal sobre el eje de rotacin, el objeto es barrido por la lnea de luz. Durante el barrido se captura un conjunto de imgenes, las cuales son procesadas para obtener un perfil. Este perfil corresponde a una seccin transversal del objeto. Esto se realiza calculando la media de la funcin Gaussiana en cada rengln de la imagen. El resultado de procesar el conjunto de imgenes, es la superficie de una vista del objeto. Despus el objeto se rota a un ngulo y se mueve linealmente, para ser barrido en otra vista de la superficie del objeto. Con esto, se extraen otras tres vistas del objeto. Estas cuatro vistas son conectadas usando el origen y ngulo de rotacin. El origen se calcula usando tres lneas proyectadas sobre el objeto, de tres rotaciones diferentes. Usando reconocimiento de patrones mediante Momentos Invariantes de Hu y la ecuacin de la circunferencia (2) para tres patrones reconocidos, se calcula el origen de rotacin. Con el origen se calcula la distancia radial. Tambin se calcula la distancia entre dos patrones. Usando la distancia radial y la distancia entre dos patrones se calcula el ngulo de rotacin va ecuacin (3). Para conectar la cuatro vistas, se rota cada una de las vistas a su respectivo ngulo de rotacin a partir del origen. Con esto queda conformada la forma 3D completa del objeto. La relacin de pxeles a mm se obtiene midiendo el desplazamiento de lnea de luz proyectada sobre objetos con dimensiones conocidas. Para conocer la precisin de los resultados se calcula el valor rms [10], usando mediciones obtenidas con una mquina de medicin por coordenada MMC. El valor rms se define como:

rms =

1 n (ho hc ) 2 n i =1

(14)

donde ho es el dato obtenido con la MMC y hc es el dato calculado con proyeccin de lnea de luz. En este caso el resultado es rms =0.173 mm. En la figura 8 se muestra el resultado de la forma 3D. La computadora empleada en este experimento es una PC 5x86 a 166 Mhz. Cada imagen se procesa en un tiempo de 0.063 seg.

Figura 8. Forma 3D del objeto rotado con escala mm.

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VI. CONCLUSIONES Se present una tcnica para reconstruir la forma de objetos rotados, mediante el reconocimiento del patrn de una lnea de luz. La tcnica descrita provee una herramienta valiosa en inspeccin industrial. Esta tcnica evita que realicen mediciones de parmetros externos al sistema computacional, como es comn en los mtodos de proyeccin de lnea de luz. Esto mejora la precisin de los resultados, ya que no se introducen errores al sistema. Tambin, se logra una buena repetibilidad en cada experimento efectuado.

RECONOCIMIENTOS J. Apolinar Muoz Rodrguez, agradece a CONACYT Mxico y CONCYTEG Guanajuato el apoyo brindado a este trabajo.

REFERENCIAS
[1] A. Asundi, C. S. Chan and M. R. Sajan, 360-deg profilometry: new techniques for display and acquisition, Opt. Eng. 33-8 (1994), pp. 2760-2769. [2] M. R. Sajan, C. J. Tay, H.M. Shang, and A. Asundi, Improved spatial phase detection for profilometry using a TDI imager, Optics Comm. 150 (1998), pp. 66-70. [3] Y. Song, H. Hong, W. Chen and Y. Tan, 360-degree 3D profilometry, SPIE Proc. 3204 (1997), pp. 202-208. [4] S. R. Marokkey, Ch. J. Tay, H. M. Shang and A. K. Asundi, Time Delay an integration imaging for inspection and profilometry of moving objects, Opt. Eng. 36-9 (1997), pp. 2573-2578. [5] A. Asundi and W. Zhou, Mapping algorithm for 360-deg profilometry with time delay integration imaging, Opt. Eng. 38-2 (1999), pp. 339-344. [6] W. Zhou and A. Asundi, Unified Calibration Technique and its Applications in Optical Triangular Profilometry , Appl. Optics 36-16, (1999) pp. 3556-3561. [7] M. K. Hu. Visual Pattern Recognition by Moments Invariants, IRE Trans. Info. Theory, IT-8, (1962) pp. 179-187. [8] J. A. Muoz-Rodriguez, R. Rodriguez-Vera, and M. Servin, Direct object shape detection base on skeleton

extraction of a light line, Opt. Eng. 39-9, (2000) pp. 2463-2471.

[9] W. D. Herzog, M.S. Unlu, B.B. Goldberg, and G.H. Rhodes, Beam divergence and waist measurement of laser

diodes by near field scanning optical microscopy, Appl. Phys. Lett. 70-6, (1997) pp. 688-690. [10] W.J. Dixon and F. J. Massey Jr., Introduction to statical analysis, Mc Graw Hill, U.S.A (1969).