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INTERPRETACION DE REGISTROS A HUECO ABIERTO

Instructor: Ing. Efran Cruz
Fecha: Febrero del 2001

INTERPRETACION DE REGISTROS A HUECO ABIERTO

CONTENIDO:
INTRODUCCION: CAPITULO A: CAPITULO B: CAPITULO C: CAPITULO D: CAPITULO E: Introduccin. Evaluacin de Formaciones Teora de la Evaluacin de Registros Resistividad y SP Porosidad y Rayos Gamma Saturacin de Agua, Interpretacin Clculo del Volumen de Arcilla

CAPITULO F:
CAPITULO G: CAPITULO H: CAPITULO I:

Porosidad en Arenas Arcillosas

SW en Arenas Arcillosas Porosidad en Litologas Complejas Estimaciones de Produccin

INTERPRETACION DE REGISTROS A HUECO ABIERTO

CAPITULO A
A1.0 INTRODUCCIN A LA INTERPRETACIN DE REGISTROS A HUECO ABIERTO A.1 USOS DE LOS REGISTROS A.2 GEOLOGA BSICA DEL PETRLEO A.3 CONCEPTOS DE INTERPRETACIN DE REGISTROS BSICOS A.4 RESISTIVIDAD COMO UNA BASE PARA LA INTERPRETACIN LA ECUACIN DE ARCHIE A.5 DEFINICIONES a. b. c. d. e. f. g. h. i. Porosidad de la formacin (PHI) Resistividad de la formacin (R) Factor de la Formacin (F) Saturacin de agua: Sw Saturacin del Hidrocarburos (Shy) Formaciones Limpias Formaciones Arcillosas Frmulas ms importantes Smbolos importantes

A.6 ESCALAS DE REGISTROS Y PRESENTACIONES

UNIDAD DE PERFILAJE

INTRODUCCIN A LA INTERPRETACIN DE REGISTROS A HUECO ABIERTO USO DE LOS REGISTROS EL GEOFISICO:

Son los topes dnde usted inicialmente lo predijo de las lneas ssmicas? Son las zonas potenciales porosas tal como usted asumi de los datos ssmicos? Qu muestra de la seccin ssmica sinttica?

INTRODUCCIN A LA INTERPRETACIN DE REGISTROS A HUECO ABIERTO USO DE LOS REGISTROS

EL GEOLOGO:
A

qu profundidades estn los topes de las formaciones?

Es el ambiente conveniente para la acumulacin de hidrocarburos? Existe la evidencia de Hidrocarburo en este pozo?

Qu tipo de Hidrocarburo est presente en este pozo?

Los Hidrocarburos se presentan en cantidades comerciales? Cun bueno es el pozo? Cules con las reservas? Podra esta formacin ser comercial en otros lugares cercanos a este pozo?

INTRODUCCIN A LA INTERPRETACIN DE REGISTROS A HUECO ABIERTO USO DE LOS REGISTROS

EL INGENIERO DE PERFORACION:

Cul es el volumen del pozo para la cementacin del casing? Existen deformaciones del pozo (Dog legs) u otras deformaciones? Dnde puedo localizar un buen lugar para asentar un packer para una prueba en el pozo?.

Dnde es el lugar mejor para poner herramienta de desviacin?

INTRODUCCIN A LA INTERPRETACIN DE REGISTROS A HUECO ABIERTO USO DE LOS REGISTROS

EL INGENIERO DE RESERVORIOS:

Cun potente es la zona de pago? Cun homognea es la seccin de pago? Cul es el volumen de hidrocarburos?

El pozo ser ecomicamente rentable?

Cunto tiempo se espera de produccin?

INTRODUCCIN A LA INTERPRETACIN DE REGISTROS A HUECO ABIERTO USO DE LOS REGISTROS

EL INGENIERO DE PRODUCCION:

Dnde debe completarse el pozo y en que zona(s)? Qu tasa de produccin puede esperarse? Debe considerarse cualquier produccin de agua?

Cmo debera ser completado el pozo?

Est la zona potencial hidrulicamente aislada? El pozo requerir de alguna estimulacin? Qu tipo de estimulacin sera mejor?

GEOLOGIA DEL PETROLEO

SHALE (Sit & Clay) SAND (Quartz, Silt & Clay) SHALE (Sit & Clay)

(Organic & Chemical)

CLAY LIMESTONE DOLOMITE ANHIDRITE

Figure A1: Clastic Deposition Vs. Carbonate Deposition

GEOLOGIA DEL PETROLEO

ORIGEN DEL PETROLEO

GEOLOGIA DEL PETROLEO

FORMACION DE CAPAS. OFFLAP

GEOLOGIA DEL PETROLEO

FORMACION DE CAPAS. ONLAP

GEOLOGIA DEL PETROLEO

TIPO DE TRAMPAS: ANTICLINAL

GEOLOGIA DEL PETROLEO

TIPO DE TRAMPAS: DOMO

GEOLOGIA DEL PETROLEO

TIPO DE TRAMPAS: DOMO SALINO

GEOLOGIA DEL PETROLEO

TIPO DE TRAMPAS: ESTRUCTURA ASOCIADA CON FALLA

GEOLOGIA DEL PETROLEO

TIPO DE TRAMPAS: ESTRUCTURA ASOCIADA CON DISCORDANCIA

GEOLOGIA DEL PETROLEO

TIPO DE TRAMPAS: ESTRUCTURA LENTICULAR

CONCEPTOS BASICOS

HYDRO CARBON

WATER

WATER

porosity = water filled

Sw = 100%
Figure A2

Cube "A" :

Cube "B" : porosity = Oil & Water in Porosity

Sw = 100%

CONCEPTOS BASICOS

a. Porosidad (PHI) b. Factor de Formacin (F)

c. Saturacion de Agua (SW)

d. Resistividad de la Formacin (R) e. Resistividad del Agua de Formacin (Rw) f. Permeabilidad (k)

CONCEPTOS BASICOS
RESISTIVIDAD

a. El agua es un Conductor (Baja Resistividad) b. Los Hidrocarburos y rocas, son aislantes (Alta resistividad) c. Rt Directamente proporcional a Rw: Rt Rw d. Rt Inversamente Proporcional a PHI: Rt 1/PHI e. Rt Inversamente Proporcional Sw: Rt 1/Sw f. Rt Rw x 1/PHI x 1/Sw, entonces

g. Rt Rw/PHI x Sw h. Ro= Rt (Cuando Sw= 100%) i. Ro= F x Rw

CONCEPTOS BASICOS
RESISTIVIDAD

ROCK WATER WATER

ROCK
HYDROCARBON

WATER

Cube "C" Conditions : - Constant Current - Porosity = 100% - Sw = 100%

Cube "D" Conditions : - Constant Current - Porosity = 75% - Sw = 100%

Cube "E" Conditions : - Constant Current - Porosity = 75% - Sw = 70%

Figure A3

CONCEPTOS BASICOS
RESISTIVIDAD: ECUACION DE ARCHIE

Swn= Ro/Rt Swn= F x Rw/Rt

Swn= a/PHIm x Rw/Rt

CONCEPTOS BASICOS
POROSIDAD Y FACTOR DE FORMACION

PHI= (Volumen Poroso/Volumen Total) x 100% F= a/ PHIm, donde a es una constante emprica y m= Factor de Cementacin F= 0.62/PHI2.15 F= 0.81/PHI2 F= 1/PHI2 Para Arenas no consolidadas (Humble) Para Arenas compactas Para Carbonatos

CONCEPTOS BASICOS
SATURACIONES

Saturacin de Agua (Sw) Sw= Agua que ocupa volumen poroso/Volumen poroso total Saturacin de Hidrocarburos: Fraccin del volumen poroso lleno de Hidrocarburos Shy= 1 - Sw

CONCEPTOS BASICOS
FORMACIONES LIMPIAS Y ARCILLOSAS

Formaciones Limpias
Sin presencia de arcilla Formaciones Arcillosas Espacios Porosos con presencia de Arcilla de diferente tipo

CONCEPTOS BASICOS
FORMACIONES LIMPIAS Y ARCILLOSAS

B. RESISTIVIDAD DE LA FORMACION

B asic Material

Gen
Resistivity of the zone Resistivity of the water in the zone Water saturation in the zone Mud Rm Adjacent bed Rs

hm c Rmc (Bed thickness) dh Mudcake h

Uninvaded zone Flushed zone Zone of transition or annulus Rt Rw Sw

R xo Rmf Sxo

di dj Adjacent bed (Invasion diameters) rj dh Hole diameter

Rs

Schlumberger

F igure B 3

1-1

CONCEPTOS BASICOS
REGISTROS, ESCALAS Y PRESENTACIONES

a. Registros: Curvas Vs. Profundidad.

b. Registros, diseo: Cabeza, Registro, Taln, Extras.

c. Escalas: 1:200, 1:500. Especiales 1:40, 1:5. d. Mallas: Lineal, Logartmica, combinadas.

e. Informacin extra:
Volumen integrado del pozo Volumen integrado de cemento

f.

Tiempo de trnsito integrado

Velocidad del registro

LWD

B. RESISTIVIDAD DE LA FORMACION
INTRODUCCION

La resistividad depende de: Resistividad del Agua de Formacin (Rw) La Cantidad de Agua presente (Sw) La Geometra de la estructura del poro

R= r x A/L R: resistividad en ohm-m r : resistencia especfica en ohm A: area unitaria en m2 L: longitud en metros

B. RESISTIVIDAD DE LA FORMACION
RESISTANCE INCREASES WITH LENGHT, DECREASES AS CROSS- SECTIONAL AREA INCREASES

RESISTIVIDAD DEL AGUA DE FORMACION

Rw Depende de: Volumen de agua (Porosidad) Geometra del espacio poroso (Tipo de Porosidad)

Temperatura de la Formacin
Salinidad del agua

F= Ro/Rw F= a/PHIm

PERFIL DE INVASION

Rxo
Resistivity

radial depthintoformation
Distance of complete flushing (Diameter de invasion, Di)

Figure B4: Invasion Process

PERFIL DE INVASION

Rxo R Ri Rt R

Rxo Ri Rt R

Rxo Ri Di Rt

Di

Di D2

Case 1 Step Profile (a)

Case 2 Transition Profile (b)

Figure B5

Caso 3 Annulus Profile (c)

POTENCIAL ESPONTANEO (SP)

Definicin: Cada Natural de Potencial entre dos puntos. Componentes Potencial Electrocintico o de membrana Potencial Electroqumico (Lutitas)

Potencial de Contacto de lquidos

SP, SSP y PSP. Usos del SP

Detectar Capas Permeables

Determinar Rw Determinar volumen de Arcilla. Ambientes de Depsito

POTENCIAL ESPONTANEO (SP)

POTENCIAL ESPONTANEO (SP)

POTENCIAL ESPONTANEO (SP)

FACTORES QUE AFECTAN LAS LECTURAS DEL SP
Espesor de Capa: capa. SP disminuye proporcional al espesor de la

Invasin: Reduce el valor SP Arcillosidad: la presencia de arcilla en la formacin reduce el SP Hidrocarburos: los Hidrocarburos reducirn ligeramente el SSP en formaciones arcillosas

Filtrado de lodo: La magnitud y direccin de la deflexin del SP desde la lnea base arcilla, depende de las resistividades relativas del filtrado de lodo y del agua de la formacin. Lodo Dulce - SP negativo. Rmf > Rw Lodo salino - SP positivo. Rw > Rmf Rw = Rmf - cero SP, no existe deflexin

REGISTRO DE INDUCCION
PRINCIPIOS

CLASIFICACION DE LOS REGISTROS DE RESISTIVIDAD

INDUCTION LOGS (measure conductivity)

ELECTRODE LOGS (measure resistivity)

Normal logs Lateral Log+ Laterologs* Spherically Focused Log (SFL)* Microlaterolog (MLL)* Microlog (ML)*

Proximity Log (PL)*

Microspherically Focused Log (MSFL)*

PROFUNDIDAD DE INVESTIGACION DE LOS REGISTROS

Flushed Zone (Rm)

Microlog*
Microlaterolog* Proximity* Log Microspherically Focused Log*

PROFUNDIDAD DE INVESTIGACION DE LOS REGISTROS

Invaded Zone (Ri)

Short Normal ++
Laterolog 8*++ Spherically Focused Log*++

Medium Induction Log

Shallow Laterolog*

PROFUNDIDAD DE INVESTIGACION DE LOS REGISTROS

Uninvaded Zone (Rt) Long Normal Lateral Log Deep Induction Log Deep Laterolog* Laterolog 3* Laterolog 7* Induction Log 6FF

REGISTRO DE INDUCCION - SFL

CARACTERSTICAS DE LA HERRAMIENTA Y APLICACIONES La herramienta de Induccin Doble-SFL, es muy efectiva con lodos moderadamente conductivos, por ejemplo cuando Rmf/Rw >2.5. El enfoque vertical es bueno, valores confiables de Rt se pueden obtener donde el espesor de la capa es mayor a 12 pies. Por cuanto la herramienta actualmente mide la conductividad de la formacin y luego lo convierte a valores de resistividad, los resultados son ms precisos en zonas de baja resistividad.

La registracin de tres curvas que investigan cantidades diferentes de volumen de la formacin, nos permite estudiar los perfiles de invasin y donde la invasin es profunda para hacer las correcciones para obtener Rt.
La Induccin puede correrse en pozos perforados con aire o en pozos perforados con lodos no conductivos. (El SFL requiere un camino conductivo a travs del lodo de perforacin y no puede estar presente en estos casos). Una curva de Rayos Gamma normalmente registrada en lugar del SP. Las cartas de correccin estn disponibles por cada compaa que registra para corregir por la influencia de: Agujero (dimetro y resistividad del lodo). Espesor de la capa Invasin

REGISTRO DE INDUCCION - SFL

PRESENTACIN DEL REGISTRO

Logartmico: En una escala 1:200 se presentan curvas de la resistividad en una escala logartmica. Esta es la presentacin preferida para los Analistas de Registros Log-Lineal: Aqu la escala 1:200 presenta dos curvas de resistividad, la curva SFL promediada y la curva de ILD sobre una escala de resistividad lineal. Tambin esta incluida la curva equivalente al ILD que es la curva de conductividad. Esta presentacin es principalmente til para propsitos de correlacin. Se registran ambas presentaciones simultneamente.

REGISTRO DE INDUCCION - SFL

LAS RESPUESTAS DEL REGISTRO

Para pozos perforados con lodos frescos (Rmf / Rw > 2.5, Rxo / Rt > 2.5) las conclusiones generales siguientes pueden ser sacadas por inspeccin del registro: Cuando SFL = ILM = ILD; Rt = ILD, esto indica cero o la invasin muy poco profunda. Cuando SFL > ILM = ILD; Rt = ILD, esto indica invasin moderada. Cuando SFL > ILM > ILD, y si Rxo = SFL, entonces Rt < ILD, este indica invasin profunda.

Cuando SFL = ILM > ILD, y si Rxo = SFL, nosotros debemos utilizar la carta de Schlumberger Rint2c obtener Rt. Esta respuesta indica invasin muy profunda. En general, lo ms cerca de la curva media es para el SFL, lo ms profundo de la invasin. El resultado de corregir por invasin es obtener un Rt que sea ms bajo que ILD. Por lo tanto utilizando las lecturas del ILD sin la correccin, obtendremos una Sw optimista.

REGISTRO DE INDUCCION - SFL

USO Y VENTAJAS
El registro de Induccin Doble (Dual Induction)-SFL, puede usarse mas Efectivamente en agujeros llenos de lodo ligeramente conductivo, lodos no-conductivos y pozos perforados con aire. El enfoque vertical es bueno y da valores confiables de Rt, para capas ms gruesas que 12 pies. Mide bajas resistividades en forma precisa (menos de diez ohm-metros). Registracin de 3 medidas de resistividad enfocada, las cuales investigan diferentes volmenes de formacin, nos permite estudiar el perfil de invasin en el caso de invasin profunda. Las Cartas de correccin estn disponibles por cada compaa de Servicios: Agujero Espesor de la capa Invasin

REGISTRO DE INDUCCION - SFL

DESVENTAJAS

No confiable para el resistividades > 250 ohm-m (utilizar un registro Dual Laterolog). Agujeros grandes y lodos salinos producen seales grandes las cuales dan una resistividad aparente muy baja (en este caso es recomendable utilizar el DLL). .

REGISTRO DE INDUCCION - SFL

PROFUNDIDAD DE INVESTIGACION

Registro de Enfoque Esfrico - un dispositivo de lectura poco profundo afectado principalmente por la zona lavada (Rxo). (Distancia radial = 30 cm o 12 pulgadas) Induccin Media (ILM) - dependiendo del dimetro del perfil de invasin, el ILM puede estar influenciado por la zonas Rxo o Rt o ambas. (Distancia radial = 60-80 cm. 24-32 pulgadas) . Induccin profunda (ILD) - est principalmente afectada por Rt , a menos que la invasin sea muy profunda. Cada curva de induccin o las dos pueden estar influenciadas si un anulo est presente. (Distancia radial = 1.2-1.5 m.)

REGISTRO DE INDUCCION - PHASOR

PRINCIPIO DE LA HERRAMIENTA

REGISTRO DE INDUCCION - PHASOR

PRESENTACIN DEL REGISTRO

a. Induccin Profunda (IDPH) - el registro utiliza la sigla de IDPH para identificar proceso de Phasor. b. Induccin Media (IMPH) - el registro utiliza la sigla de IMPH para identificar proceso de Phasor.

REGISTRO DE INDUCCION PHASOR

APLICACIONES Y MEJORAS
El registro de Induccin Phasor-SFL, puede usarse mas Efectivamente en agujeros llenos de lodo ligeramente conductivo, lodos no-conductivos y pozos perforados con aire.
El enfoque vertical mejora paralecturas de Rt, para capas hasta 7.5 pies. Mide bajas resistividades en forma precisa (menos de diez ohm-metros).

Registracin de 3 medidas de resistividad enfocada.

Lecturas confiables hasta 1000 ohm-m. Antes 250 ohm-m. Lecturas exactas en pozos de hasta 21 de dimetro. Operea en diferentes frecuencias, mejora relacion seal-ruido

Transmisin de datos digitales

Calibracin automtica Correcciones por: Agujero, Espesor de capa, Invasin

REGISTRO DE INDUCCION PHASOR

RESOLUCIONES

REGISTRO DUAL LATEROLOG

PRINCIPIOS

REGISTRO DUAL LATEROLOG

RESPUESTA DE LA HERRAMIENTA

REGISTRO DUAL LATEROLOG

HERRAMIENTA

REGISTRO DUAL LATEROLOG

CARACTERISTICAS Y APLICACIONES DE LA HERRAMIENTA 1. 2. 3. 4. 5. El Dual Laterolog es ms efectivo en lodos salinos (alto Rt/Rm) o donde Rmf / Rw < 2.5. La herramienta tiene un excelente rango de resistividad, de 0.2 a 40,000 ohm-m es posible. La resolucin vertical es excelente, Rt puede obtenerse en capas tan delgadas como de 60 cm ( 2 pies). El LLD tiene muy pequeos efectos por pozo en agujeros largos. Cuando es combinado con una medida de Rxo, las curvas del LLd, y del LLs pueden ser usadas para estudiar perfiles de invasin y computar un valor de Rt ms exacto.

6.

Asumiendo que las condiciones de pozo son adecuadas, la separacin entre las curvas LLS y LLD pueden ser usadas para dar una mirada rpida de indicacin de hidrocarburos; particularmente en lodos salinos. En lodos salinos la relacin Rxo / Rt ser menor a uno para una mejor zona, mientras mayor la separacin entre LLs y LLd.

REGISTRO DUAL LATEROLOG

LIMITACIONES
1. 2. 3. Las herramientas no deberan usarse en lodos frescos (Rmf / Rw > 2.5.) Las herramientas requieren de una buena centralizacin para minimizar las influencias del pozo en el LLs. Si la invasin es profunda, un valor bueno de Rxo (e.g. de un registro Microesfricamente Enfocado) se requiere corregir LLd por la influencia de la invasin para obtener un valor exacto de Rt. Las cartas de correccin estn disponibles por la influencia de: El pozo (dimetro y resistividad del lodo). La invasin. (Carta Rint-9b) El espesor de capa.

4.

RESISTIVIDADES
SELECCIN DEL TIPO DE REGISTRO

30

25

INDUCTION LOG PREFERRED

ABOVE APPROPRIATE Rw CURVE

20
(%) PO SI TY

15 RO
LATEROLOG PREFERRED

Rw = 0.1 - M

10

Rw = 0.1 - M Rw = 0.01 - M
USE BOTH LOGS

Bellow appropriate Rw curve

0
.5 .7 1. 2. 3. 4. 5. 7 10. 20 30 Rmf / Rw Figure B22: Preferred ranges of applications of Induction logs and laterologs

REGISTROS DE MICRORESISTIVIDAD
HERRAMIENTA: MSFL

REGISTROS DE MICRORESISTIVIDAD
HERRAMIENTA: MLL Y MICROLOG

REGISTROS DE MICRORESISTIVIDAD
HERRAMIENTA DE MICROLATEROLOG

MSFL
APLICACIONES
1. 2. Identificacion de Zonas Permeables Excelente Valor de Rxo

LIMITACIONES
1. 2. Profundidad de invacin mayor que 4.7 (12 cm) Espesor de la Costra menor que 0.04 (1.2 cm)

3.

Investigacin Radial de 4 (10 cm)

REGISTROS DE POROSIDAD
REGISTRO SONICO
Un transmisor emite un pulso de sonido y un receptor lo registra Tipo de Registros: BHC LSS Array Sonic DSI PHIS = (Dtlog Dtma)/ (DTf Dtma)

CALCULO DE LA POROSIDAD SONICA:

REGISTROS DE POROSIDAD
REGISTRO SONICO

REGISTROS DE POROSIDAD
REGISTRO SONICO: BHC - GR

REGISTROS DE POROSIDAD
REGISTRO SONICO

Valores de Matriz del DT: Arena Caliza Dtmatriz = 55.5 sec/pie. Dtmatriz = 47.6 sec/pie

Dolomita
Anhidrita

Dtmatriz = 43.5 sec/pie

Dtmatriz = 50.0 sec/pie.

REGISTROS SONICOS
FACTORES QUE AFECTAN AL REGISTRO SONICO

Litologa, Correccin por matriz Arcilla. Lecturas altas de DT por el agua Tipo de Fludos. Zona Lavada Petrleo. No lo Afecta

Agua. No lo afecta, Salvo alta salinidad

Gas. Lecturas altas DT Compactacin. Alto DT en zonas Friables

Porosidad Secundaria. Lo ignora.

Costra de lodo. No lo afecta Agujero. Est compensado

REGISTRO DE DENSIDAD
PRINCIPIO DE MEDIDA

REGISTRO DE DENSIDAD
VARIACIONES DE ESPECTRO DE RAYOS GAMMA

REGISTRO DE DENSIDAD
POROSIDAD DEL REGISTRO DE DENSIDAD
DENSIDAD DE LA FORMACION:

b = f + (1 - )ma (zona limpia y acufera)

donde: b f es la densidad total leda del registro ma es la densidad de la matriz. es la densidad del fluido (Agua). es el porcentaje de volumen de espacio poroso.

(1 - ) es el porcentaje de volumen de la matriz.

Esto puede escribirse como:

D = (ma - b) / (ma - f))

REGISTROS DE DENSIDAD
FACTORES QUE AFECTAN AL REGISTRO DE DENSIDAD

Litologa, Correccin por matriz Arcilla. Rhoma igual al de la arena Tipo de Fludo. Zona Lavada Petrleo. Valores Altos

Agua. No lo afecta
Gas. Lecturas altas RHOB Compactacin. No lo afecta

Porosidad Secundaria. Porosidad Total

Costra de lodo. Correccin Automtica Agujero. Est compensado. Pozos de 15, oK.

REGISTRO NEUTRONICO
PRINCIPIO DE MEDIDA

REGISTRO NEUTRONICO
CONFIGURACION DE LA HERRAMIENTA CNT - G

REGISTROS NEUTRONICO
FACTORES QUE AFECTAN AL REGISTRO NEUTRONICO

Litologa. Matriz conocida Arcilla. Valores altos de Porosidad Agua. Bajos valores en agua salada Petrleo. Poco efecto

Gas. Baja porosidad

Compactacin. No lo afecta Porosidad Secundaria. Porosidad Total

Costra de lodo. Ver cartas

Agujero. Rugosidad, Caliper de Densidad

REGISTROS DE RAYOS GAMMA

PRINCIPIO

Medida de la Radioactividad de la formacin Se registran en pozos abiertos o entubados Bajo GR, en formaciones limpias. Alto Gamma Ray en formaciones arcillosas

REGISTROS DE RAYOS GAMMA

CLASES DE ARCILLA

REGISTROS DE RAYOS GAMMA

ESPECTROS DE EMISION

REGISTROS DE RAYOS GAMMA

ESPECTROS DE EMISION

REGISTROS NGS
CLASE DE MINERALES RADIOACTIVOS

REGISTROS GAMMA RAY

APLICACIONES DEL NGS: Torio, Uranio, Potasio, CGR, SGR

Definicin de capas arcillosas

Contenido (Vsh) y tipo de Arcilla Correlacin Arenas Radioactivas

a)

Litologas complejas
Topes formacionales Gamma Ray Vsh = (GR(zone) - GR(clean)) / (GR(shale)GR(clean))

b)

Herramienta de Rayos Gamma Naturales, NGT Vsh = (CGR(zone) - CGR(clean)) / (CGR(shale)CGR(clean))

MODELO DE DOBLE AGUA

Rw - DETERMINATION
a. Rw from sample or catalogue b. Rw = Ro/F c. Ro = F. Rw Rxo= F. Rmf d. SP method 1. Determine SSP 2. Obtain Rmfe/Rwe SP 1 3. Determine Rmfe Rmf @ measured T Rmf @ formation T GEN 9 If MF < 70 000 PPM NaCl Rw = Rmf . (Ro / Rxo)

(Water zone Sw = Sxo = 100%)

use Rmfe = 0.85 Rmf

. If Mf > 70 000 PPM NaCl use SP 2 4. 5. Calculate Rwe Rw from SP 2

MODELO DE DOBLE AGUA

DEFINICIONES DE SATURACION
Water Saturation Graphical Definitions
UNIT VOLUME

E
MATRIX OIL FREE WATER BOUN WATER DRY COLLOID

OIL

FREE WATER

BOUN WATER
SWB

SH

SWF

SWT

Figure G3

MODELO DE DOBLE AGUA

EVOLUCION DE LA POROSIDAD
Evolution of T with Shaliness
T
MATRIX
FREE WATER

T
MATRIX
S H A L I N E S S

FREE WATER

T
MATRIX
BOUNDER WATER

T
BOUNDER WATER 100%

DRY COLLOID

Figura G4

MODELO DE DOBLE AGUA

DEFINICIONES
- Saturacin de Agua Total, SWT: se define como la fraccin de la porosidad total que est ocupado por agua adherida y agua libre.
- Saturacin de Agua Adherida, SWB: se define como el fragmento de la porosidad total ocupado por agua adherida a las arcillas. - Saturacin de Agua Libre, SWF: Se define como la porcin de la porosidad total ocupada por agua libre. - Saturacin de Agua Efectiva, SWE: se define como el fragmento de la porosidad efectiva ocupado por agua libre. Puede derivarse de la saturacin de agua total.

1. SWT = WF + WB T 3. T = WF + WB + H presente) (Si el hidrocarburo est T

2. SWB = WB