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Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo

Subestacin/Baha:
Subestacin:

TRANSOFRMADOR SS/AA
ESTACIN A

Baha:

Direccin de subestacin:
Direccin de baha:

Dispositivo:
Nombre/descripcin:
Tipo de dispositivo:
No de serie:
Info adicional 1:
Info adicional 2:

RELE OVERCURRENT ASA U1


RELE SOBRECORIENTE

Fabricante:
Direccin del dispositivo:

SIEMENS
SWG U1

NELSON FLORES B.

Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo

No de serie

CMC256-6-EP BC388D

Comprobacin del hardware


Realizado en

Resultado

10/10/2011 17:47:09

Correcta

Detalles

Overcurrent:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
General - Valores:
Tol. tiem. abs.:
To. tiem. rel.:

0,04 s
5,00 %

Tol. corr. abs.:


Tol. corr. rel.:
Direccional:

0,05 Iref
5,00 %
No

Conexin del TT:


Conexin del pto. de
estrella del TC:

En equipo protegido
A equipo protegido

Elementos - Fase:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

S
S

I #1 Fase
I #2 Fase

CEI extremadamente Inversa


CEI Tiempo definido

0,80 Iref
6,00 Iref

1,00
0,30 s

0,95
0,95

No direccional
No direccional

Elementos - Residuales:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

I #1 Residual

CEI Tiempo definido

4,00 Iref

0,10 s

0,95

Mdulo de prueba
Nombre:

OMICRON Overcurrent

Versin:

2.40

No direccional

Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

10-oct-2011 17:47:48
NELSON FLORES BARRAZA
NORGENER

Fin:
Director:

10-oct-2011 17:47:54
TRANSMISIN

Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:
Referencia de tiempo:
Corriente de carga:
ngulo de carga:
Tiempo de pre-falta:
Tiempo mx. abs.:
Tiempo de post-falta:
Tiempo mx. rel.:
Activar salida de tensin:
Tensin de falta LN (todas fases menos las
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas):
CC en disminucin activa:
Constante de tiempo:
Tiempo mn. car. IP:
Reposicin trmica activa:
Mtodo de Habilitar reposicin:
Mensaje de reposicin trmica:

Inicio de la falta
0,00 A
0,00
0,10 s
240,00 s
0,50 s
100,00 %
No
30,00 V
51,96 V
No
0,05 s
0,05 s
No
Manual
Reinicie la memoria trmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.

Prueba de disparo:
Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

tmin

tmax

L1-E
L1-E
L1-E
L1-E

I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual

1,025
1,075
1,125
1,175

20,50 A
21,50 A
22,50 A
23,50 A

n/a
n/a
n/a
n/a

0,10 s
0,10 s
0,10 s
0,10 s

0,06 s
0,06 s
0,06 s
0,06 s

3,70 s
0,14 s
0,14 s
0,14 s

Salidas binarias:
Nombre

Estado

Sal. bin 1
Sal. bin 2
Sal. bin 3
Sal. bin 4

No
No
No
No

Entradas binarias:
Lgica del trigger:

And

Nombre

Estado del trigger

Entr.bi. 1
Entr.bi. 2

1
X

Resultados de la prueba de disparo:


Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

treal

Sobrecarg
Resultado
a

L1-E
L1-E
L1-E
L1-E

I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual
I #1 Residual

1,025
1,075
1,125
1,175

20,50 A
21,50 A
22,50 A
23,50 A

n/a
n/a
n/a
n/a

0,10 s
0,10 s
0,10 s
0,10 s

0,12 s
0,12 s
0,12 s
0,12 s

No
No
No
No

Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Grficos para tipos de falta:


Tipo

ngulo

L1-E

n/a

10000,00
5000,00
1000,00
500,00
100,00

t/s

50,00
10,00
5,00
1,00
0,50
0,10
0,05
5

10

20
I/A

Estado:
4 de 4 puntos probados.
4 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta

Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo

No de serie

CMC256-6-EP BC388D

Comprobacin del hardware


Realizado en

Resultado

10/10/2011 17:14:38

Correcta

Detalles

Overcurrent:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente

30

50

70

General - Valores:
Tol. tiem. abs.:
To. tiem. rel.:

0,04 s
5,00 %

Tol. corr. abs.:


Tol. corr. rel.:
Direccional:

0,05 Iref
5,00 %
No

Conexin del TT:


Conexin del pto. de
estrella del TC:

En equipo protegido
A equipo protegido

Elementos - Fase:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

S
S

I #1 Fase
I #2 Fase

CEI extremadamente Inversa


CEI Tiempo definido

0,80 Iref
6,00 Iref

1,00
0,30 s

0,95
0,95

No direccional
No direccional

Elementos - Residuales:
Activo

Nombre

Caracterstica de disparo

I
arranque

Tiempo

Relacin de
Direccin
restauracin:

I #1 Residual

CEI Tiempo definido

4,00 Iref

0,10 s

0,95

No direccional

Mdulo de prueba
Nombre:
Comienzo:
Nombre de usuario:
Compaa:

OMICRON Overcurrent
10-oct-2011 17:41:48
NELSON FLORES BARRAZA
NORGENER

Versin:
Fin:
Director:

2.40
10-oct-2011 17:46:57
TRANSMISIN

Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:
Referencia de tiempo:
Corriente de carga:
ngulo de carga:
Tiempo de pre-falta:
Tiempo mx. abs.:
Tiempo de post-falta:
Tiempo mx. rel.:
Activar salida de tensin:
Tensin de falta LN (todas fases menos las
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas):
CC en disminucin activa:
Constante de tiempo:
Tiempo mn. car. IP:
Reposicin trmica activa:
Mtodo de Habilitar reposicin:
Mensaje de reposicin trmica:

Inicio de la falta
0,00 A
0,00
0,10 s
240,00 s
0,50 s
100,00 %
No
30,00 V
51,96 V
No
0,05 s
0,05 s
No
Manual
Reinicie la memoria trmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.

Prueba de disparo:
Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

tmin

tmax

L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L1-L2-L3
L1-L2-L3
L1-L2-L3
L1-L2-L3

I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase

2,500
2,750
3,000
3,250
3,500
3,750
4,000
4,250
4,500
4,750
2,500
2,750
3,000
3,250
3,500
3,750
4,000
4,250
4,500
4,750
2,500
2,750
3,000
3,250
3,500
3,750
4,000
4,250
4,500
4,750
2,250
2,500
2,750
3,000

10,00 A
11,00 A
12,00 A
13,00 A
14,00 A
15,00 A
16,00 A
17,00 A
18,00 A
19,00 A
10,00 A
11,00 A
12,00 A
13,00 A
14,00 A
15,00 A
16,00 A
17,00 A
18,00 A
19,00 A
10,00 A
11,00 A
12,00 A
13,00 A
14,00 A
15,00 A
16,00 A
17,00 A
18,00 A
19,00 A
9,00 A
10,00 A
11,00 A
12,00 A

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

15,24 s
12,19 s
10,00 s
8,37 s
7,11 s
6,12 s
5,33 s
4,69 s
4,16 s
3,71 s
15,24 s
12,19 s
10,00 s
8,37 s
7,11 s
6,12 s
5,33 s
4,69 s
4,16 s
3,71 s
15,24 s
12,19 s
10,00 s
8,37 s
7,11 s
6,12 s
5,33 s
4,69 s
4,16 s
3,71 s
19,69 s
15,24 s
12,19 s
10,00 s

12,90 s
10,36 s
8,52 s
7,14 s
6,08 s
5,24 s
4,57 s
4,02 s
3,56 s
3,18 s
12,90 s
10,36 s
8,52 s
7,14 s
6,08 s
5,24 s
4,57 s
4,02 s
3,56 s
3,18 s
12,90 s
10,36 s
8,52 s
7,14 s
6,08 s
5,24 s
4,57 s
4,02 s
3,56 s
3,18 s
16,59 s
12,90 s
10,36 s
8,52 s

18,10 s
14,42 s
11,79 s
9,84 s
8,35 s
7,18 s
6,25 s
5,49 s
4,86 s
4,34 s
18,10 s
14,42 s
11,79 s
9,84 s
8,35 s
7,18 s
6,25 s
5,49 s
4,86 s
4,34 s
18,10 s
14,42 s
11,79 s
9,84 s
8,35 s
7,18 s
6,25 s
5,49 s
4,86 s
4,34 s
23,54 s
18,10 s
14,42 s
11,79 s

Salidas binarias:
Nombre

Estado

Sal. bin 1
Sal. bin 2
Sal. bin 3
Sal. bin 4

No
No
No
No

Entradas binarias:
Lgica del trigger:

And

Nombre

Estado del trigger

Entr.bi. 1
Entr.bi. 2

1
X

Resultados de la prueba de disparo:


Tipo

Relativa a

Factor

Magnitud

ngulo

tnom.

treal

Sobrecarg
Resultado
a

L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L1-L2
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L2-L3
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L3-L1
L1-L2-L3
L1-L2-L3
L1-L2-L3
L1-L2-L3

I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase
I #1 Fase

2,500
2,750
3,000
3,250
3,500
3,750
4,000
4,250
4,500
4,750
2,500
2,750
3,000
3,250
3,500
3,750
4,000
4,250
4,500
4,750
2,500
2,750
3,000
3,250
3,500
3,750
4,000
4,250
4,500
4,750
2,250
2,500
2,750
3,000

10,00 A
11,00 A
12,00 A
13,00 A
14,00 A
15,00 A
16,00 A
17,00 A
18,00 A
19,00 A
10,00 A
11,00 A
12,00 A
13,00 A
14,00 A
15,00 A
16,00 A
17,00 A
18,00 A
19,00 A
10,00 A
11,00 A
12,00 A
13,00 A
14,00 A
15,00 A
16,00 A
17,00 A
18,00 A
19,00 A
9,00 A
10,00 A
11,00 A
12,00 A

n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a
n/a

15,24 s
12,19 s
10,00 s
8,37 s
7,11 s
6,12 s
5,33 s
4,69 s
4,16 s
3,71 s
15,24 s
12,19 s
10,00 s
8,37 s
7,11 s
6,12 s
5,33 s
4,69 s
4,16 s
3,71 s
15,24 s
12,19 s
10,00 s
8,37 s
7,11 s
6,12 s
5,33 s
4,69 s
4,16 s
3,71 s
19,69 s
15,24 s
12,19 s
10,00 s

14,50 s
11,68 s
9,61 s
8,09 s
6,88 s
5,93 s
5,17 s
4,56 s
4,05 s
3,62 s
14,50 s
11,68 s
9,62 s
8,08 s
6,88 s
5,93 s
5,18 s
4,55 s
4,03 s
3,61 s
14,49 s
11,68 s
9,60 s
8,08 s
6,89 s
5,93 s
5,18 s
4,56 s
4,05 s
3,62 s
18,54 s
14,49 s
11,68 s
9,61 s

No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No
No

Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta
Correcta

Grficos para tipos de falta:


Tipo

ngulo

L1-L2

n/a

10000,00
5000,00

1000,00
500,00

100,00

t/s

50,00

10,00
5,00

1,00
0,50

0,10
5

10

20
I/A

Tipo

ngulo

L2-L3

n/a

30

50

70

10000,00
5000,00

1000,00
500,00

100,00

t/s

50,00

10,00
5,00

1,00
0,50

0,10
5

10

20

30

50

70

20

30

50

70

I/A

Tipo

ngulo

L3-L1

n/a

10000,00
5000,00

1000,00
500,00

100,00

t/s

50,00

10,00
5,00

1,00
0,50

0,10
5

10
I/A

Tipo

ngulo

L1-L2-L3

n/a

10000,00
5000,00

1000,00
500,00

100,00

t/s

50,00

10,00
5,00

1,00
0,50

0,10
5

10

20
I/A

Estado:
34 de 34 puntos probados.
34 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta

30

50

70