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S ISTEMA DE G ESTIN DE C ALIDAD

Profesor: Cristin Carvallo

Ayudante: Csar Pastn

A LCANCE

DEL

SGC

Para describir los procesos, productos y las reas de la organizacin en donde se aplicar el SGC

Debe basarse en la naturaleza del producto

rea de Operaciones (mayor variabilidad al producto final)

P ROCESO P RODUCCIN

P UNTOS

CRTICOS DEL PROCESO

Mayor rigurosidad debido a los efectos que producira una falla en el producto o proceso Procesos crticos:

Adhesin: De sticker que perzonaliza al pendrive Corte: De bordes de sticker Seguridad de operarios

A NLISIS G LOBAL DEL P ROCESO


Grfica de Tiempo[s]
150 UCL=148,6 125

Valor individual

100

_ X=98,1

Capacidad de proceso de Tiempo [s]


75
P rocesar datos LIE O bjetiv o LS E M edida de la muestra N mero de muestra Desv .E st. (Dentro) Desv .E st. (G eneral) 60 * 120 98,0741 54 16,8272 18,3096

LIE

LSE Dentro de General


C apacidad (dentro) del potencial Cp 0,59 C PL 0,75 C P U 0,43 C pk 0,43 C apacidad general Pp PPL PPU P pk C pm 0,55 0,69 0,40 0,40 *

50 1 6 11 16 21 26 31 Observacin 36 41 46 51

LCL=47,6

60
Desempeo observ ado P P M < LIE 0,00 P P M > LS E 111111,11 P P M Total 111111,11

75

90

105

120

135

E xp. Dentro del rendimiento P P M < LIE 11828,80 P P M > LS E 96287,12 P P M Total 108115,92

E xp. Rendimiento general P P M < LIE 18787,31 P P M > LS E 115553,34 P P M Total 134340,65

A NLISIS I NDIVIDUAL DEL P ROCESO


Grfica de Tiempo p1 [s]
150 UCL=151,3 125

Valor individual

100

_ X=98
P rocesar datos

Capacidad de proceso de Tiempo p1 [s]


LIE LSE Dentro de General
C apacidad (dentro) del potencial Cp 0,56 C PL 0,71 C P U 0,41 C pk 0,41 C apacidad general Pp PPL PPU P pk C pm 0,56 0,71 0,41 0,41 *

75

50 1 3 5 7 9 11 Observacin 13 15 17

LCL=44,7

LIE O bjetiv o LS E M edida de la muestra N mero de muestra Desv .E st. (Dentro) Desv .E st. (G eneral)

60 * 120 98 18 17,7826 17,74

60
Desempeo observ ado P P M < LIE 0,00 P P M > LS E 111111,11 P P M Total 111111,11

80

100

120

140

E xp. Dentro del rendimiento P P M < LIE 16302,45 P P M > LS E 108013,60 P P M Total 124316,06

E xp. Rendimiento general P P M < LIE 16094,42 P P M > LS E 107462,05 P P M Total 123556,47

A NLISIS I NDIVIDUAL DEL P ROCESO


Grfica de Tiempo p2 [s]
150 UCL=155,9

125

Valor individual

100

_ X=95,6
P rocesar datos LIE O bjetiv o LS E M edida de la muestra N mero de muestra Desv .E st. (Dentro) Desv .E st. (G eneral)

Capacidad de proceso de Tiempo p2 [s]


LIE LSE Dentro de General
C apacidad (dentro) del potencial Cp 0,50 C PL 0,59 C P U 0,40 C pk 0,40 C apacidad general Pp PPL PPU P pk C pm 0,53 0,63 0,43 0,43 *

75

50 LCL=35,2 1 3 5 7 9 11 Observacin 13 15 17

60 * 120 95,5556 18 20,1293 18,878

60
Desempeo observ ado P P M < LIE 0,00 P P M > LS E 111111,11 P P M Total 111111,11

75

90

105

120

135

E xp. Dentro del rendimiento P P M < LIE 38668,09 P P M > LS E 112303,31 P P M Total 150971,40

E xp. Rendimiento general P P M < LIE 29820,51 P P M > LS E 97683,62 P P M Total 127504,13

A NLISIS I NDIVIDUAL DEL P ROCESO


Grfica de Tiempo p3 [s]
140 130 120 UCL=137,12

Valor individual

110 100 90 80 70 60 1 3 5 7 9 11 Observacin 13 15 17 LCL=64,21 _ X=100,67


P rocesar datos LIE O bjetiv o LS E M edida de la muestra N mero de muestra Desv .E st. (Dentro) Desv .E st. (G eneral) 60 * 120 100,667 18 12,1506 18,9799

Capacidad de proceso de Tiempo p3 [s]


LIE LSE Dentro de General
C apacidad (dentro) del potencial Cp 0,82 C PL 1,12 C P U 0,53 C pk 0,53 C apacidad general Pp PPL PPU P pk C pm 0,53 0,71 0,34 0,34 *

60
Desempeo observ ado P P M < LIE 0,00 P P M > LS E 111111,11 P P M Total 111111,11

80

100

120

140

E xp. Dentro del rendimiento P P M < LIE 408,63 P P M > LS E 55788,85 P P M Total 56197,48

E xp. Rendimiento general P P M < LIE 16071,75 P P M > LS E 154190,92 P P M Total 170262,67

C ONCLUSIONES
Tiempo por operador: Parmetros 6 Sigma
Lmite de Especificacin Superior: 120 [s]

98 [segundos]

95,6 [segundos]
100,67 [segundos]

Lmite de Especificacin Inferior: 60 [s]

Desviacin Estndar: 5 [s]

C ONCLUSIONES

Estandarizar Habilidades Motricidad Fina

Medida
Comprar a Medida Troquelado

Mantener Stock Disminuir tiempo de Espera

Capacitacin

Estimar Demanda

S ISTEMA DE G ESTIN DE C ALIDAD

Profesor: Cristin Carvallo

Ayudante: Csar Pastn