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Expo Sic Ion Control Estadistico
Expo Sic Ion Control Estadistico
Las aplicaciones fuera de la manufactura no difieren sustancialmente de las aplicaciones para la industria, pero algunas requieren inventiva.
1.- La mayora de las operaciones no manufactureras carecen de un sistema de medicin natural. 2.- La observabilidad del proceso puede ser muy baja. Los diagramas de flujo y de operacin del proceso son particularmente tiles al desarrollar la definicin y comprensin de un proceso. Esto es algunas veces llamado mapeo del proceso. Usado para identificar actividades de valor agregado contra actividades sin valor agregado.
2. Enfoque de equipo.
3. Capacitacin de los empleados en todos los niveles. 4. nfasis en la reduccin de la variabilidad. 5. Medir el xito en trminos cuantitativos (econmicos). 6. Un mecanismo para comunicar los resultados exitosos a travs de la organizacin.
1926: HAROLD F. DODGE Y HARRY G. ROMIG, desarrollaron las tcnicas de Muestreo Estadstico Durante la 2a. Guerra Mundial se expande el uso del CEP en la industria de manufactura
1950s: EDWARD DEMING / JOSEPH JURAN: Entrenaron a lderes industriales en tcnicas del CEP
1950s: KAOURU ISHIKAWA: Es un seguidor de Deming y desarrolla el Diagrama de Ishikawa, los Crculos de calidad e impulsa el control de calidad total CWQC. Los japoneses implantaron el CEP y lograron productos de alta calidad, Occidente retoma los mtodos de CEP hasta despus de los 1980s. En Mxico el programa Ford ITESM de los 1990s impuls al CEP con poco xito, hoy se retoma con el ISO 9000:2000