P. 1
microscopia fuerza atomica

microscopia fuerza atomica

|Views: 606|Likes:

More info:

Published by: Edith Margerie Hernandez on Jan 12, 2011
Copyright:Attribution Non-commercial

Availability:

Read on Scribd mobile: iPhone, iPad and Android.
download as PPT, PDF, TXT or read online from Scribd
See more
See less

07/11/2013

pdf

text

original

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA

Edith Margarita Hernandez Torres

Es una herramienta de imagen con un amplio rango dinámico. Las aplicaciones son muy diversas: medidas de propiedades como la conductividad superficial. (SPM) La microscopia SPM consiste en una familia de formas de microscopia donde una sonda puntiaguda barre la superficie de una muestra. . campos magnéticos. y modulación elástica. También se le considera como un perfilador con una resolución 3-D. monitorizándose la interacciones que ocurren entre la punta y la muestra. fricciones localizadas. distribución de carga estática.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscopías de Sonda de Barrido. que abarca los reinos de los microscopios óptico y electrónico.

. Las técnicas de microscopia SPM tienen en común: . (SPM) Las dos principales formas de microscopias SPM son: 1) Microscopía de Tunelamiento.Un detector. 2) Microscopía de Fuerza Atómica.Una punta. . .Un escaner .MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscopías de Sonda de Barrido.Un sistema de aislamiento de vibración.Una electrónica y/o informática de control. .

expandiéndose en una dirección y contrayéndose en otra como resultado del voltaje aplicado a sus electrodos.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de Operación de las SPM La punta se selecciona de acuerdo al tipo de muestra y a las propiedades que se desean obtener. su rango de barrido el cual depende del material piezoeléctrico. También se caracterizan por su frecuencia de resonancia. ésta puede ser de diferentes materiales. las más comunes son de Nitruro de Silicio o de Silicio. El mayor intervalo de operación de un escáner es de »100 micras en movimiento lateral y »10 micras en movimiento vertical. . Estos escáneres se caracterizan por tener tres grados de libertad. El diseño del escáner tiene forma de tubo y es de un material cerámico piezoeléctrico que cambia de dimensiones como respuesta a un voltaje aplicado. sus dimensiones y el voltaje aplicado.

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de Operación de las SPM No se usan lentes. El tamaño de la sonda es la que limita la resolución en vez de los efectos de difracción .

para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología. Este tipo de medida se puede realizar en aislantes. Al analizar una muestra. El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento mecanoóptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewton. se registra continuamente la altura sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. de sólo unos 200 —m de longitud.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscopio de Fuerza Atómica. La sonda va acoplada a un listón microscópico. muy sensible al efecto de las fuerzas. . semiconductores y conductores.

. Las fuerzas entre la punta y la muestra provocan la deflexión del cantilever. electrostáticas. magnéticas y de enlace químico. las fuerzas entre la punta y la muestra deflectan el cantilever según la ley de Hooke. Al acercar el cantilever a la superficie de la muestra.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. simultáneamente un detector mide esta deflexión a medida que la punta se desplaza sobre la superficie de la muestra generando una micrografía de la superficie.k x Ley de Hooke Varias son las fuerzas que contribuyen a la flexión del cantilever como la fuerza de van der Waals. F = . que puede ser de nitruro de silicio. El Microscopio de Fuerza Atómica monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm que se localiza al final de un cantilever. de mecánica de contacto.

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. La detección de la deflexion del cantilever se realiza mediante la reflexion de un láser hacia un arreglo de fotodiodos. .

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscópio de Fuerza Atómica .

La fuerza interatómica se puede detectar cuando la punta está muy próxima a la superficie de la muestra. la superficie es barrida en el plano de la superficie por la punta. Durante el barrido la fuerza interatómica entre los átomos de la punta y los átomos en la superficie de la muestra. El microscopio de AFM puede realizar dos tipos de medidas: 1)imagen y 2)fuerza. En la modalidad de imagen. Esta flexión es registrada por el sensor adecuado y la señal obtenida se introduce en el circuito o lazo de realimentación. provoca una flexión del cantilever.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. .

El Microscopio de Fuerza Atómica provee la imagen de una superficie sin que intervegan los efectos eléctricos. También es útil en estudios de indentación de materiales blandos (polímeros) que permitan caracterizar propiedades elásticas de la muestra como el módulo de elasticidad o visco elásticas. por lo que también resulta útil para materiales no conductores. En medidas de fuerza la punta se hace oscilar verticalmente mientras se registra la flexión del cantilever. Las medidas de fuerza son útiles en estudios de fuerzas de adhesión y permiten estudiar a nivel de una sola molécula interacciones específicas entre moléculas así como caracterizar la elasticidad de polímeros.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. al medir las fuerzas mecánicas en la punta detectora. .

You're Reading a Free Preview

Descarga
scribd
/*********** DO NOT ALTER ANYTHING BELOW THIS LINE ! ************/ var s_code=s.t();if(s_code)document.write(s_code)//-->