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Y
FOMENTO INDUSTRIAL
NORMA MEXICANA
NMX-Z-12/1-1987
MUESTRO PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS-PARTE 1:
INFORMACION GENERAL Y APLICACIONES
SAMPLINGN POR INSPECTION BY ATRIBUTES-PART 1 GENERAL
INFORMATION AND APPLICATIONS
NMX-Z-12/1-1987
PREFACIO
Debido a la existencia y utilizacin en Mxico de diferentes procedimiento y tablas de
muestro para la inspeccin por atributos destinado a la aceptacin de lotes de materias
primas, artculos y productos determinados, tales como: Dodge-Roming, Philips SSS, MIL
STD- 10SD, los fines de la inspeccin de calidad podran haber tenido una validez precaria
y objetable, a consecuencia de la relativa incompatibilidad para poder compararlos entre si.
Inclusive, la falta de unificacin en la terminologa de inspeccin provocaba dificultades de
entendimiento entre inspectores e inspeccionados.
Por tal motivo con base en un trabajo presentado por el Subcomit de Estadstica
perteneciente al Comit Consultivo de Normalizacin Bsica, con sede en el Consejo
Nacional de Ciencia y tecnologa y tomando en cuenta las opiniones expresadas por el
sector industrial tanto pblico como privado, la Direccin General de Normas de la
Secretara de Industria y Comercio expidi en 1975, la Norma Oficial Mexicana DGN-R18 Muestreo para la inspeccin por atributos partes I,II,III,IV y V (actualmente NOM-Z12) para coadyuvar la mutuo entendimiento sobre criterios unificados en la inspeccin entre
proveedores y compradores.
La base estadstica de esta norma es la misma adoptada por la Secretara de la Defensa de
los Estados Unidos de Norteamrica, contenida en su Norma MIL-STD-105D misma que
origin sucesivamente la adopcin mundial de estos conceptos por parte de la Comisin
Electrotecnia Internacional (IEC) y de la Organizacin Internacional de Normalizacin
(ISO) en sus normas IEC (1973) e ISO 2859 (19749) respectivamente.
Con la entrada de Mxico al Acuerdo General sobre Aranceles Aduaneros y Comercio, la
comercializacin de productos tendrn como base de operacin las normas internacionales
por lo que las Direccin General de Normas de la Secretara de Comercio y Fomento
Industrial ha revisado y actualizado el citado documento con el propsito de coadyuvar a
implementar el mecanismo de certificacin de productos conforme a norma facilitando con
ello las actividades comerciales.
Con el propsito de homologar estos documentos con sus similares internacionales, la parte
I de la edicin 1975 ha sido cambiada para hacerla totalmente concordante con el texto de
la norma ISO 2859 conservando las dems partes el mismo contenido.
Para facilitar su manejo y aplicacin, la nueva edicin se ha reestructurado en 3 partes de
acuerdo a lo siguiente :
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Cabe mencionar tambin de que este documento contiene la informacin, las definiciones y
tablas de muestreo correspondientes a la norma de la ISO y adems proporcionan en la
parte 3 la descripcin y uso de la Regla de Clculo para los planes de muestreo por
atributos, que es un dispositivo que facilita la elaboracin de planes de muestreo.
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Esta primera parte de la norma proporciona informacin general sobre los conceptos y los
procedimientos bsicos de muestreo en general y en especial, el muestreo por atributos,
proporcionando los elementos para la aplicacin apropiada de la inspeccin por muestreo,
de gran utilidad para personal de los departamentos de control de calidad, diseo o
ingeniera, personal que labora normas y especificaciones y en general a todas aquellas
personas relacionadas con los problemas de inspeccin; dando a estas las bases y ejemplos
para la toma de decisiones en el campo de la inspeccin por muestreo, ya sea en materias
primas, materiales en proceso, componentes, productos y operaciones en las distintas fases
de los procesos, as como en registros y procedimientos administrativos.
SECCION 1: INFORMACION GENERAL SOBRE INSPECCION DE MUESTREO
2
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Existen varios esquemas, pero slo uno ser considerado en detalle en esta norma. No debe
interpretarse como si los otros no fuesen importantes; lo que sucede es que propsito
principal de esta norma es ayudar a usar las tablas de muestreo por atributos e
inevitablemente debe darse el principal espacio a los mtodos respectivos.
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3.1
Atributos o variables
El mtodo o inspeccin por atributos consiste en examinar una unidad de producto o una
caracterstica y clasificarla como buena o defectuosa . la accin a tomar se decide
contado el nmero de defectuosas encontradas. El mtodo por variables consiste en realizar
una o ms mediciones sobre el artculo de tal manera que la informacin disponible indique
cuando una dimensin. La decisin se toma sobre la base de clculos realizados con las
mediciones.
El mtodo por variables tiene la ventaja de que, siempre que sean verdaderas ciertas
suposiciones requiere un tamao de muestra menor que el mtodo por atributos para
obtener un cierto grado de proteccin contra decisiones incorrectas.
El mtodo por atributos tiene la ventaja de que, es mucho ms libre de suposiciones y
tambin es ms simple de usar. Su tamao de muestra mayor puede quedar justificado por
estas razones. El mtodo por atributos se usa en las tablas de esta norma y se trata asimismo
con detalle.
3.2
El mtodo lote por lote supone que los artculos para inspeccin deben ofrecerse no en
forma individual, sino en grupos. Dicho grupos de artculos se llama lote en algunos
pases o partida, en otros. En esta norma se usarn ambos trminos indistintamente.
De cada lote se extrae una muestra y se inspecciona, como resultado se emite un dictamen
del lote. Cada lote es tratado ms o menos como unidad independiente aunque la regla para
el dictamen, pueden variar algunas veces de acuerdo a los resultados de lotes vecinos.
Por el contrario, el mtodo continuo trata slo un artculo a la vez y no requiere de
agrupado de artculos.
En las tablas de esta norma se usa el mtodo de lote por lote y se trata as mismo en detalle
en esta norma.
3.3
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Las tablas de esta norma estn diseadas principalmente para el primero de estos casos, y
sern tratados con ms detalle, con cuidado adecuado, asimismo, se pueden usar tambin
para el segundo caso (vase inciso 37)
3.4
UNIDAD DE PRODUCTO
Al usar inspeccin por atributos, es necesario contar cosas como el tamao del lote, tamao
de la muestra, numero de defectuosas (1), etc. Este conteo se hace en trminos de la unidad
de productos. Usualmente la unidad de producto ser un articulo simple ( del lote que esta
siendo inspeccionado ) y cuando ser un articulo puede usarse si se desea en lugar de
unidad de producto
(1)
En esta norma emplearn indistintamente los trminos defectuosa o defectuoso, en
el primer caso se usa para calificar a la unidad de producto y en el segundo se refiere al
artculo, este ltimo caso en razn de la costumbre
La razn para introducir el trmino unidad de producto es que algunas veces se desea
realizar la inspeccin por muestreo de un producto que o consiste de artculos individuales
o en el que la entidad bsica a inspeccionar consiste de un nmero de artculo.
Ejemplos:
La unidad de producto puede ser un solo artculo, un par, una docena, o un juego, tambin
puede ser una materia prima, un material en proceso, un componente de un producto
terminado, el producto terminado mismo o un material almacenado. As mismo tambin
puede ser una operacin, por ejemplo de produccin, de compra, de mantenimiento o de
almacenamiento; o puede ser un procedimiento administrativo, una tarjeta perforada con
registro de datos o cualquier otra forma de datos o registros. Estas unidades de producto se
pueden medir en base a sus magnitudes como la longitud, rea, volumen, masa o cualquier
otra base de medicin adecuada o acordada. La unidad de producto, para fines de
inspeccin, puede ser o no la misma unidad de compra, suministro, produccin o embarque.
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Esto es, el lote tiene 5.2 defectos por cada 100 unidades.
Con relacin a cul de ellos debe usarse, es un aspecto a considerar en cada caso particular.
Lo importante es que sea considerado y especificado de antemano no dejarlo hasta que una
muestra haya sido inspeccionada y luego considerada. Algunos factores a tomar en cuenta
al hacer la decisin son los siguientes:
a)
La inspeccin por porcentaje de defectuosos supone que si un artculo es totalmente
defectuoso, el nmero de defectos que contiene, no tiene mayor importancia. Un artculo
con un defecto es malo; un artculo con tres defectos es tambin malo y no necesita hacerse
distincin entre ellos.
Por otro lado la inspeccin por defectos por cien unidades, supone que si se encuentra un
artculo con tres defectos, stos podran causar el mismo grado de afectacin que si se
hubiesen encontrado tres artculos con slo un defecto.
b)
La inspeccin de defectos por cien unidades considera que los posibles defectos son
independientes unos de otros. Supngase que hay dos posibles defectos, por ejemplo,
longitud incorrecta y dimetro incorrecto. Si estos dos defectos son independientes,
significa que si se tomaran todas las unidades producidas y fueran divididas en dos grupos
de acuerdo a cuando fuesen defectuosas o no con respecto a la longitud, el porcentaje de
defectuosas para el dimetro podra esperarse que fuese el mismo en cada uno de los dos
grupos, o, alternativamente, si fueran divididos en dos grupos de acuerdo a cuando fuesen
defectivos o no respecto al dimetro, el porcentaje de defectuosos podra ser el mismo en
los dos grupos. Se pude demostrar matemticamente que los dos procedimientos son
equivalentes.
Si dos defectos no son independientes, se dice que estn correlacionados. Si el dimetro es
ms frecuentemente defectivo entre las unidades defectuosas por longitud que entre
aquellas que estn correctas por longitud, los defectos de longitud y dimetro estn
correlacionados positivamente. Por el contrario, si el dimetro es menos frecuentemente
defectivo entre las unidades defectuosas por longitud, los dos defectos estn
correlacionados negativamente.
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MUESTREO SENCILLO
:
:
:
125
5 defectuosos
6 defectuosos
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Se puede operar un plan de muestreo sin conocer las propiedades de su COC. Sin
embargo es necesario un claro entendimiento de las implicaciones de la COC para la
aplicacin inteligente del muestreo de aceptacin.
Cada posible plan tiene su propia curva nica, y es la comparacin de las COC lo
que permite que un plan de muestreo sea comparado con otro. Para un plan de muestreo
particular, cada punto sobre la curva muestra un valor de porcentaje de defectuosas en la
escala horizontal, y en la escala vertical el porcentaje de lotes que se espera sean aceptados,
si se aplica dicho plan de muestreo y se ofrecen para y si se ofrecen para aceptacin lotes de
un proceso que fabrique unidades con ese porcentaje de defectuosas.
Por ejemplo, si se considera el siguiente plan de muestreo :
Tamao de la muestra
Nmero de aceptacin
Nmero de Rechazo
:
:
:
200
7 defectuosas
8 defectuosas
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g)
Este examen ha demostrado lo que el plan de muestreo har bajo
circunstancias particulares. Para este propsito, se ha asumido que se conoce el verdadero
porcentaje de defectuosas en el proceso que produce cada lote. En la prctica esto podra
ser no conocido. Si lo fuere, la decisin acerca de los lotes podra ser tomada directamente
en lugar de usar un plan de muestreo. No se sabr, por lo tanto, que uno de los lotes
aceptados es aproximadamente 6% defectivo, que 10 son perfectos y as sucesivamente
simplemente se sabr que han sido aceptados.
h)
Es til considerarla escala horizontal de una COC como indicativa del nivel
de calidad del proceso de produccin. Los lotes individuales varan un poco alrededor de
este nivel de calidad en promedio. Bajo estas circunstancias, la COC es enteramente
independiente del tamao del lote, que puede ser ignorado, en tanto que sea de inters para
un plan dado la COC y sus consecuencias.
En este ejemplo, 2.3% defectivo es presumiblemente considerada una calidad bastante
buena, para el artculo en cuestin, si no fuese as no se habra elegido una curva con un
90% de posibilidad de aceptacin en este punto. Sin embargo hay un 10% de posibilidad de
que sea rechazado un lote bueno
Esto es declarando algunas veces en la forma, el plan de un 10% de riesgo del producto a
un porcentaje defectivo de 2.3%
Similarmente, 6% defectivo es presumiblemente considerada una calidad bastante
mala. Sin embargo hay un 10% de posibilidad de aceptacin. Esto es alguna declarado en la
forma, el plan da un 10% de riesgo del consumidor al 6% defectivo.
En la misma forma, la informacin proporcionada en todos los otros puntos de la
curva puede ser declarada en trminos de los riesgos del productor y del consumidor.
8.
CLASIFICACION DE DEFECTOS.
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Para muchos propsitos, son suficientes dos grupos, nombrados defectos mayores
que vuelven intil el artculo, o prcticamente intil, y defectos menores que hacen el
artculo menos til de lo que debera ser pero no necesariamente. Algunas veces es
necesario introducir clases adicionales o subclases dentro de estas clases.
La clase ms importante de todas contiene los defectos crticos que vuelven al
artculo no solamente intil sin peligroso.
Los defectos crticos son un caso especial y se discuten con ms detalle en el inciso
9. Por el momento la discusin ser restringida a las clases mayores y menores. Debe de
notarse que estas clases se refieren a la importancia relativas de diferentes defectos en un
producto dado, y puesto que los productos mismos varan en importancia, las clases no
corresponden a algn patrn absoluto de importancia. No hay, por lo tanto, un plan
particular de muestreo que normalmente vaya con alguna clase.
Si un artculo tiene ms de un defecto y los defectos corresponden a diferentes clases, se
cuenta con un defectivo de la clase ms seria, ( si, no obstante, la inspeccin est en
trminos de defectos ms que en trminos de defectivos, todos los defectos en la muestra
contarn en sus clases apropiadas.
Es importante que la clasificacin de defectos sea hecha adecuadamente, es claro
que debe tomarse cuidando de no subclasificar ( por ejemplo clasificar como un defecto
menor uno que debera ser mayor ), puesto que esto conducir a un plan ms relajado para
la caractersticas en cuestin que lo que realmente requiere. Asimismo, a menudo no se
comprende, que es tambin muy importante no sobre clasificar ( por ejemplo clasificar
como mayor una caracterstica que debe ser menor ). Hacer esto conducira a un plan de
muestreo ms estricto que lo necesario, con un incremento consecuente en las dificultades
de la produccin. Esto a menudo significa que el consumidor recibir sus primeros
suministros en una fecha posterior, entregados a ritmos ms lento y constando ms si otro
fuera el caso.
Cuando se adopte el sistema de clasificacin de defectos, es necesario designar
diferentes planes a cada clase para asegurarse que los defectos de mayor importancia son
sujetos a inspeccin ms estricta que los defectos menores que son por definicin de menor
importancia. Esto es una medida econmica y una ayuda a la produccin.
Para mayores detalles de esta cuestin vase el inciso 35 de esta parte.
9.
DEFECTOS CRITICOS.
Los defectos crticos forman una categora especial. Es imposible elegir algn valor de
porcentaje de defectuosas para estos defectos y decir, este porcentaje de defectuosas es
tolerable
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La frmula es:
Esta frmula es exacta solamente para valores pequeos de porcentaje defectivo es decir,
no mayor de 10, pero esto no es desventajoso puesto que nunca deseamos considerar
valores altos de porcentaje defectivo para defectos crticos en cualquier caso.
Si la frmula se usara por ejemplo, para 20 o 50% defectivo, se podra sobreestimar el
tamao de muestra necesitado.
Ejemplo 3: para cierto producto, la inspeccin para defectos crticos es destructiva y se
decide que si el lote fuera a contener 2% defectivos crticos, debe de tomarse un riesgo de
slo 1 en 10 000 de fallar de encontrar un defectivo en la muestra. La frmula da:
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Un plan alternativo para defectos crticos, donde el defecto es algo que pueda medirse ms
que un atributo puro, es muestrear con un margen de seguridad. As si la carga mnima de
ruptura para algn componente fuere 2000 kg. podra ser posible, en vez de decir que el
lmite era 2500 kg. y el defecto era mayor. Justo donde los lmites deben de ser establecidos
y, que plan es el apropiado, depende de algn conocimiento pasado de la cantidad de
variabilidad observada en el esfuerzo de los componente en cuestin. Cuando este criterio
es posible, puede dar resultados ms satisfactorios para todo lo que concierna a la bsqueda
que pueda hacerse de defectos crticos.
10.
SUSPENSION DE LA INSPECCION
Puede haber una tentacin a detener la inspeccin en el momento en que los resultados que
se estn obteniendo hagan de los resultados finales casi una conclusin predeterminada.
Por ejemplo, supngase que se est usando el muestreo sencillo; el tamao de muestra es de
80, el nmero de aceptacin es de 10, el nmero de rechazo 11, y en las primeras 50
unidades de la muestra solamente 2 en 50, no es fcilmente creble que sern encontrados
otros 9 o ms en los restantes 30, por lo tanto. Esta tentacin debe ser resistida. Es verdad
que no es probable que se encuentren 9 o ms defectivos en los restantes 30, pero podra
suceder y el plan no debe suspenderse.
La suspensin pues no es permisible slo porque un cierto resultado parece poco probable,
pero es permisible si, antes de que la muestra sea completamente inspeccionada, se tiene la
certeza de cierto resultado ( a menos que se requiera un registro completo de los resultados
por alguna razn )
Por ejemplo, si el tamao de muestra es de 80, el nmero de aceptacin 10, el nmero de
rechazo 11, el encontrar solamente 3 defectivos en las primeras 73 unidades de la muestra
significa aceptacin an si todas las 7 unidades restantes son defectivas, mientras que el
encontrar 11 defectivas en las primeras 20 unidades de la muestra significa rechazo an si
las 60 unidades restantes de la muestra sean todas perfectas.
El que se suspenda la inspeccin bajo estas circunstancias, depende de conveniencia
administrativa, pues suspender es a veces ms problemtico que lo que cuesta. Adems si
se van a usar los resultados del muestreo para estimar la calidad promedio del proceso as
como para decidir sobre la aceptacin o rechazo, la suspensin puede conducir a resultados
desviados y es mejor evitarla por estas razones.
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11.
Una parte importante de cualquier inspeccin por muestreo es mantener una vigencia sobre
los lotes rechazados. No es bueno regresarlos al fabricante y olvidarse de ellos, porque
podran ser ofrecidos otra vez como lotes nuevos, y su calidad ser tal que hubiera, digamos
una posibilidad en 10, de aceptacin, si dichos lotes se ofrecieran suficientemente; las
posibilidades seran tales que eventualmente seran aceptados. Algn fabricante que hizo
esto incidentalmente, estara perjudicndose el mismo, pues si el lote se ofreciera como lote
nuevo varias veces, ello conducira a pensar que la calidad era peor que la que era en
realidad el caso, con tantos lotes malos llegando en su cesin. Esto podra conducir a un
cambio a un plan de inspeccin ms riguroso, seguido por la descontinuacin de la
inspeccin pendiente del mejoramiento de la calidad.
El rechazo no necesariamente significa desecho. De acuerdo a las circunstancias del caso
particular, puede indicar desecho o puede indicar inspeccin 100% con rectificacin o
reemplazo de defectivos encontrados, o puede an indicar aceptacin a un precio reducido.
Si se permite la inspeccin 100% con rectificacin o reemplazo de defectivos, el lote ser
eventualmente reenviado a inspeccin. El inspector necesita conocer que este es un lote
reenviado de tal manera que pueda dar atencin especial a las caractersticas por las cuales
fue rechazado. Los resultados de inspeccionar los lotes reenviados deben ser registrados
separadamente de los registros de lotes ofrecidos para inspeccin original, de tal manera
que no confundan cualquier clculo de calidad de la produccin que pueda requerirse.
Si hay que inspeccionar todas las clases de caracterstica de una partida reenviada, o
solamente las clases de caractersticas que causaron el rechazo, es principalmente una
decisin administrativa dependiendo de las condiciones del caso en particular. Debe estar
claro que, si una clase incluye tres dimensiones, digamos A,B y C y la partida fue
rechazada, debido a una gran cantidad de defectos C, debe ser reinspeccionada para A y B
as como para C, si se aplica todava el porcentaje defectivo original.
12.
MUESTREO DOBLE.
El muestreo dobles es un sistema en el cual se toma una primera muestra que es menor que
la podra ser tomada para un muestreo sencillo. Si la calidad del la primera muestra es
suficientemente buena o suficientemente mala, el lote puede ser aceptado o rechazado
inmediatamente. Solamente en el caso intermedio se toma una segunda muestra y se
examina para decidir si se acepta o rechaza el lote.
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MUESTREO MULTIPLE.
El principio del muestreo mltiple es el mismo del muestreo doble excepto que pueden
necesitarse ms de dos muestras. Un ejemplo podra ser
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Las reglas para el muestreo mltiple son una extensin obvia de las del muestreo doble por
lo tanto no necesitan ser especificadas aqu en detalle. El nico nuevo detalle es que
algunas veces el smbolo # en el lugar de un nmero de aceptacin. Esto indica que la
aceptacin no se permite, sino solo las dos decisiones posibles de rechazo o de tomar una
muestra posterior.
Es importante recordar que los nmero de aceptacin y rechazo de refieren a la muestra
total, no a la ltima muestra individual.
Como en el muestreo doble, no es esencial que todos los tamaos de muestra sean iguales
uno a otro, aunque en las tablas publicadas generalmente lo son.
Una forma particular de muestreo mltiple es conocida como muestreo secuencial.
Usa muestras sucesivas de una unidad solamente, y pude ser un mtodo muy eficiente en
circunstancias apropiadas, pero no aparece en las tablas de esta norma.
14.
Cuando se disponga de los tres tipos de planes para condiciones dadas, es necesario decidir
cual tipo utilizar. No puede decidirse que uno de los tipos sea siempre superior los otros
desde todos los puntos de vista; si as fuera, se sera el nico tipo que se mencionara. En
la medida que las COC sean conocidas no hay problema en elegir el plan, puesto que, es
usualmente posible encontrar un plan adecuado a cada necesidad particular.
Por ejemplo, los planes dobles y mltiple mencionados en las clusulas 12 y 13 han sido
diseados para dar casi la misma COC del plan sencillo.
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b)
Tamao promedio de muestra. El tamao de muestra del muestreo sencillo es fijo,
pero para los otros tipos vara de acuerdo a la cantidad de muestras a inspeccionarse, por
consiguiente para estos otros tipos, el tamao de muestra tiene que ser considerado como
un promedio y este depende de la calidad de los lotes presentados, en virtud de que se
necesitarn ms muestras para algunas calidades que para otras. En calidad la economa
mxima se alcanza cuando la calidad es muy buena o muy mala ya que es posible tomar
una decisin temprana. La figura 4 muestra las curvas para tamaos promedio de muestra
para los mismos planes que fueron utilizados en la figura 3.
NOTA:
c)
Variabilidad en el tamao de la muestra. Mientras ms se reduzca el tamao
promedio de muestra mayor es la variabilidad. El muestreo sencillo no da variabilidad, el
muestreo mltiple la mxima variabilidad. La variabilidad puede ser causa de dificultades
en aspectos como la estimulacin de la mano de obra necesaria para la inspeccin y en el
caso de inspeccin destructiva de la cantidad a disponer para asegurar una cantidad dada
despus de la pruebas. Es un problema a analizar en cada caso particular cundo estas
dificultades son importantes para considerar un promedio menor.
d)
facilidad de extraer unidades de muestra. Algunas veces extraer una segunda
muestra es perfectamente simple y extraer dos muestras no tiene ms problemas que extraer
una muestra de tamao combinado. En otras ocasiones, se presenta el caso donde la
extraccin de las unidades de la muestra forma una parte importante de las labores de
inspeccin u que habiendo desordenado el lote para extraer la muestra, es difcil
desordenarlo otra vez para extraer una segunda muestra. En estos casos el muestreo sencillo
es usualmente el mejor plan. Hay por supuesto la alternativa de extraer una muestra del
mximo tamao que pudiera necesitarse e inspeccionarla de acuerdo a un plan doble,
mltiple o secuencial, pero esto puede dar poco ahorro comparado con el plan sencillo.
e)
Duracin de la prueba. Si una prueba es de larga duracin y es posible aplicarla a un
nmero de unidades de producto simultneamente, generalmente ser mejor hacerlo as ms
que arriesgarse a encontrar que al final de la prueba de una primera muestra el resultado sea
inconcluso y que se necesite una segunda muestra o ms. Y que por lo menos se duplique el
tiempo tomado. Este es otro caso donde el muestreo sencillo es usualmente el mejor,
siempre que el total de tamao muestra sencillo pueda probarse de inmediato. Sin embargo
si slo uno o dos artculos pueden probarse a la vez, puede ser preferible el muestreo
mltiple ( o secuencial ).
f)
Defectos mltiples. Mientras ms complicado sea el producto en trminos del
nmero de defectos posibles y del nmero de clases de defectos, resulta ms conveniente el
uso del muestreo doble o mltiple. Es difcil el uso eficiente del equipo de trabajo y de
inspeccin si se tienen que inspeccionar todas las caractersticas en la primera muestra, una
segunda muestra slo para algunas caractersticas, y posiblemente una tercera para algunas
de estas.
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En general, puede decirse que una inspeccin complicada requiere un plan de muestreo
sencillo, mientras que la inspeccin es ms simple, un plan de muestreo ms complicado
puede pagar altos dividendos.
Ejemplo 4 : Se va a probar carne envuelta en papel estao ( paquetes ) para la
verificacin del mantenimiento de sus cualidades almacenando un nmero de paquetes
durante 3 semanas bajo ciertas condiciones atmosfricas.
Para lograr una COC deseada, la eleccin podra caer tal vez entre una muestra sencilla de
80 paquetes, un plan doble con muestras de 50 paquetes, y un plan mltiple de 7 etapas con
muestras de 20 paquetes cada una. Si se usa el muestreo sencillo, la respuesta estar
disponible en 3 semanas o en seis semanas. Bajo el muestreo mltiple podra requerirse
meses en un caso infortunado.
Bajo estas circunstancias, el muestreo sencillo sera probablemente el elegido.
Ejemplo 4: se va a realizar una inspeccin destructiva. Todos los artculos del lote
estn disponibles en el laboratorio y los aparatos de prueba pueden probar un artculo a la
vez. Puesto que el principal costo de la prueba es el costo del artculo destruido, es deseable
destruir tan pocos como sea consistente con la COC deseada.
Puesto que los artculos en la muestra tienen que ser probados uno a la vez de cualquier
modo, en este caso el uso del plan mltiple ms que el sencillo probablemente ahorre
tiempo as como disminuya el tamao promedio de muestra y sea bien considerado dicho
mrito.
15.
EXTRACCION DE MUESTRAS.
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Tal mtodo es el muestreo simple aleatorio; todas las posibles muestras del tamao
requerido tienen igual probabilidad de ser la muestra extrada. Las tablas que describen los
planes del muestreo presuponen que las muestras ( sencilla, doble o mltiple) se extraen
siguiendo, este mtodo. Es muy importante que esto sea en realidad el caso.
Ejemplo 6:Supongase que el tamao del lote es 4, y el tamao de muestra es 2.
Si cada artculo en el lote se identifica con una letra del alfabeto, el lote consiste de 4
artculos A,B,C y D. Hay seis posibles formas de obtener una muestra de tamao 2.
Estas son :
6
6
6
6
6
AyB
AyC
AyD
ByC
ByD
CyD
Y para muestreo simple aleatorio, cada una de estas 6 posibilidades deben tener igual
probabilidad. En este caso particular, se podra lanzar un dado ordinario de 6 caras y elegir
A y B si el dado muestra un punto, A y C sin son dos puntos, y as sucesivamente.
En el ejemplo que se acaba de dar, el problema del muestreo simple aleatorio es resuelto en
forma relativamente fcil, puesto que los nmero involucrados fueron elegidos
deliberadamente para ser muy pequeos, conduciendo a seis, posibilidades para la muestra.
Pero es claro que el nmero de posibilidades se incrementa muy rpidamente conforme se
incrementa el tamao del lote y el de la muestra.
Por ejemplo, para una muestra de 5 de un lote de 20 hay 15 504 posibilidades para una
muestra de 7 de un lote de 30 hay ms de 2 millones de posibilidades, para una muestra de
10 de un lote de 50 hay ms de 10 mil millones, y estos son todava tamaos de muestras y
de lote, bastante pequeos. Es claro que por consiguiente que el muestreo simple aleatorio,
con tamaos de lote y muestra como aquellos que a menudo se usan en la prctica, no es
fcil, pero se debe hacer un intento para hacer la eleccin lo ms cercana posible a una
muestra aleatoria.
El nico requisito realmente vital es que el lote entero se presente al inspector para que el
tome la muestra. Se ha sabido de casos en donde un fabricante ofreci a un inspector una
muestra preparada de antemano mientras mantena atrs el resto del lote, y an ha habido
casos donde un fabricante ha ofrecido al inspector la muestra tan pronto como se complet
el nmero de artculos del tamao de la muestra, informando al inspector que el resto del
lote no sera fabricado hasta que se conocieran los resultados del muestreo. Claramente bajo
ciertas circunstancias no hay razn para suponer que la muestra es en alguna forma
representativa del lote, y ste no deberan de ningn modo ser dictaminado en base a dicha
muestra.
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Debe de quedar claro que esto no prohibe el envo de muestras de pre-produccin. Es muy
comn y razonable que el fabricante remita, o se le solicite que remita, una muestra antes
de que empiece la produccin en masa para aprobar el artculo que est intentando
producir. Este no es el mismo caso del envo de una muestra para aceptacin o rechazo de
un lote.
Algunas veces es posible dar a cada artculo del lote un nmero, fsicamente o escribiendo
un nmero en l o en un lado, o mentalmente mediante algn artificio como al nombrar el
artculo 124 signifique la fila, 2da, caja, 4 artculo dentro de la caja. Si esto se puede
hacer, es posible extraer una muestra aleatoria usando una tabla de nmeros aleatorios. Un
ejemplo de dicha tabla es la tabla 1.
Ejemplo 7: Se va a extraer una muestra de 8 de un lote de 5,000. Los artculos en el lote se
van a etiquetar con nmeros de 1 a 5,000, y empezando en la parte superior de la primera
columna de la tala 1, los artculos a ser extrados de la muestra son los nmeros 110, 4,148,
2,403, 1,828, 2,267, 2,985, 4,313 y 4,691 ( los nmeros 5,327, 5,373, 9,244 etc. Son
ignorados por corresponder a artculos que no sern encontrados en el lote )
Deben notarse 3 puntos con relacin al uso de una tabla de nmeros aleatorios :
a)
b)
c)
no es necesario leer los nmeros en cuatro cifras. Si el tamao del lote fuere 1000 o
menos, las 3 primeras cifras sern las apropiadas, y podra leerse como 11,532,537
etc. Algunas veces dos cifras son suficientes, algunas veces se necesitan ms de 4.
Se pueden combinar muchas o pocas segn se desee.
No hay realmente dificultad al usar nmeros aleatorios, siempre que los artculos puedan
ser numerados, pero se argumenta a menudo que su uso no justifica el problema, y que una
muestra aleatoria intuitiva es tambin buena. En muchos casos puede ser, pero la muestra
aleatoriamente intuitiva est a menudo lejos de ser realmente aleatoria. Por ejemplo, las
personas que extraen artculos, supuestamente al azar, de una caja tomaran demasiados del
centro y las esquinas no estarn adecuadamente representadas. Cuando se les hace notar
que estn tomando muy poquitos de las esquinas, empiezan a tomar, a menudo, muchos de
las esquinas, la probabilidad es muy fugaz, y el problema extra de usar nmeros aleatorios
donde es posible, indudablemente que vale la pena.
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16.
PLANES Y ESQUEMAS.
Un plan de muestreo significa reglas particulares por medio de los cuales un lote se va a
inspeccionar y a dictaminar. Por ejemplo :
Es un plan de muestreo
Un esquema de muestreo significa una estrategia completa, que define qu planes de
muestreo se van a usar y bajo que circunstancias.
El diseo de un plan de muestreo y el clculo de los resultados que dar, son ejercicios
puramente matemticos, y existen tablas de muestreo que solamente dan las caractersticas
matemticas, sin sugerir algn esquema particular con cual usarse.
Otras tablas publicadas, incluyendo las tablas de esta norma, dan un esquema de muestreo,
junto con los planes que son necesarios para operarlos. El diseo de un esquema de
muestreo tiene tambin sus caractersticas matemticas pero estos no son suficientes por s
mismos y deben ser vinculadas con el arte, intuicin y cierta cantidad de ingenio para que
el esquema sea exitoso.
Puesto que un esquema no es un ejercicio puramente matemtico, es posible argumentar
acerca del mejor esquema a adoptar en tales circunstancias y un esquema tal como el que se
da en las tablas de esta norma no debera de considerarse ideal para todos los propsitos,
aunque es de creerse que sea un buen compromiso entre diversos requisitos, y as til para
muchos propsitos.
Si el esquema dado en esas tablas o en cualquier otra no se considera adecuado en
circunstancias particulares, no hay razn por la cual no se pueda disear un esquema
alternativo. Las tablas de esta norma pueden an ser tiles, considerndolas simplemente
como una coleccin de planes de muestreo con sus COC y cierta informacin
complementaria, an cuando el esquema dado sea ignorado.
Muy a menudo se puede encontrar un plan adecuado eligiendo solamente dos puntos a
travs de los cuales deba pasar la COC y encontrar un plan que rena esos requisitos.
Al disear un plan de muestreo se han encontrado tiles don caractersticas que son
conocidas como los valores de LCPS y CL (aunque no se usan en el esquema de la tablas
de esta norma ). Estos y otros trminos sern descritos ahora.
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17.
La idea de la calidad promedio de salida supone que todos los lotes rechazados son
eficientemente clasificados y que todos los defectivos de ellos y todos los defectivos
encontrados en los lotes aceptados son reparados o reemplazados por artculos buenos. Si
estos lotes clasificados, perfectos son ahora aceptados y adicionados a los aceptados por el
plan de muestreo, entonces para cualquier valor dado a la calidad de entrada ( es decir la
calidad ofrecida por el fabricante), la calidad promedio de los artculos de salida ( es decir
aquellos recibidos por el consumidor ) puede determinarse como se muestra en el diagrama
siguiente (fig. 5) puesto que la clasificacin 100% no es siempre perfecta, el resultado de
esta determinacin debe considerarse como precaucin.
Si se calcula una serie de CPS para un plan determinado, bajo las condiciones mencionadas
antes, para una sucesin de posibles valores de la calidad de entrada, se encontrar que la
CPS tiene un valor bajo en porcentaje defectivo, cuando la calidad de entrada es muy
buena, por haber pocos defectivos que encontrar, y tambin cuando la calidad de entrada es
muy pobre, pues muchos de los lotes estn sujetos a inspeccin 100% y los defectivos son
sustituidos por artculos buenos; pero entre estos dos extremos se eleva el valor de la CPS,
alcanzando un mximo cuando la calidad de entrada es algo peor que el NCA. A este valor
mximo se le conoce como el limite de la calidad promedio de salida (LCPS) pues
cualquiera que sea la calidad de entrada, la calidad promedio de salida no exceder este
valor a la larga.
18.
CALIDAD LIMITE
Un valor de calidad limite, o CL, define un valor de la calidad tal que la produccin a un
nivel ms malo tiene slo una baja posibilidad de aceptacin, usualmente elegida como un
riesgo del consumidor del 10% ( la calidad asociada siendo CL10) o del 5% (la calidad
asociada siendo CL5)
Debe enfatizarse que la CL no es un limite en el mismo sentido que el LCPS.
19.
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Es por consiguiente deseable mantener un registro del promedio global del proceso que est
siendo alcanzado porque ste da una medida excelente de la calidad y es tambin
informacin muy valiosa para aquellos que tengan que decidir que planes de muestreo
debern adoptarse cuando se diseen y fabriquen productos similares en el futuro.
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No se deduce de la definicin del NCA, pero se ha convenido, que si las tablas de muestreo
se enlistan por el NCA, indica que los planes sern elegidos para favorecer a cualquier
fabricante que consistentemente produce una calidad mejor que el NCA. Tales planes dan
el beneficio de la duda que pudiera haber, debido a la variabilidad del muestreo, al
fabricante, tanto como su proceso parezca ser mejor que el NCA (aunque no debe esperar
benificiarse del empeo deliberado, sistemtico y temerario de producir una calidad
promedio del proceso igual al NCA). No obstante, el corolario necesario es que un
fabricante que no rena los requisitos debe esperar tener este beneficio de la duda tomada
de l luego se establece planes ms severos para proteger al consumidor.
SECCION DOS: USOS DE LAS TABLAS
21.
Las tablas de esta norma estn diseadas para la inspeccin por atributos lote por lote. El
esquema es el particularmente apropiado para inspeccin externa de una secuencia de
lotes, tambin puede cubrirse la inspeccin interna, o un lote aislado ocasional,
considerando las tablas como una coleccin de planes de muestreo ms que un esquema de
muestreo.
Las tablas de esta norma que se encuentran en la parte 2 se designan como numerales
romanos, con subdivisiones, indicadas por letra maysculas, por ejemplo tabla I, tabla II-A,
tabla II-B, etc. Las tablas de esta parte de designan con nmeros arbigos, por ejemplo tabla
1, tabla 2, tabla 3, etc. Para la lectura de esta parte se requiere contar con un ejemplar de las
tablas de muestreo contenidas en la parte 2.
El propsito principal del esquema de las tablas de esta norma es controlar la aceptacin de
productos a un nivel de calidad que sea igual o mejor que el Nivel de Calidad Aceptable
(NCA). Sin embargo la designacin de un NCA no implica que el fabricante que el
fabricante tenga el derecho de suministrar a sabiendas algn producto defectuoso.
Una forma, por lo tanto, de considerar el NCA es como un ndice para los riesgos
calculados que el inspector est preparado para aceptar a fin de obtener el beneficio
econmico de inspeccin por muestro. Si, no obstante, no puede aceptarse el riesgo de
muestreo, o no se encuentra un plan apropiado, el producto debe de inspeccionarse 100%.
Cuando se esta usando la inspeccin por muestreo y el fabricante esta produciendo un
calidad ms mala que el NCA, un plan de muestreo bien elegido debe de rechazar
suficientes lotes para que se justifique el mejoramiento de la calidad sin demora alguna. Se
sabe que cuando la proporcin esta bajo control se puede esperar una calidad mejor que el
NCA.
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Tambin debe entenderse que es a menudo difcil y costoso asegurarse que una mquina,
un proceso una lnea de produccin no esta produciendo defectuosas. En la prctica es
generalmente aceptable algn porcentaje defectuosas, pero esto no significa necesariamente
que todos ellos se encontrarn en el producto final; algunos sern detectados en las ltimas
etapas de la inspeccin y otras pueden fallar en el ensamble o en funcionamiento de las
pruebas. El lmite de aceptacin para el porcentaje de defectuosas depende principalmente
de consideraciones econmicas, pues el cliente puede enfrentarse a la eleccin entre un
artculo razonablemente bueno que pueda adquirir y uno mejor que este fuera de su alcance.
Se puede considerar que la parte 2 de esta norma consta de 3 partes, denominadas el texto,
las tablas muestras (I a IX) y las derivadas (tablas X-A a X-S).
El texto define los trminos usados y da las reglas para la operacin de la inspeccin por
muestreo.
Las pginas del lado derecho de las tablas derivadas repiten informacin ya dadas en las
tablas muestras. Esto ser til en la practica al tener esta informacin descrita en dos formas;
algunas veces una descripcin es ms til, otras veces la otra.
El esquema se basa en el uso de conceptos del NCA, y los planes se clasifican por el NCA
y el tamao de la muestra. El tamao de la muestra mismo, no se usa directamente como un
ndice, sino se codifica en la forma de una letra clave del tamao de la muestra (vase 27),
donde se explica la razn de esto.
Se proporcionan planes sencillos, dobles y mltiples equivalentes.
Se proporcionan tablas para la inspeccin normal, rigurosa y reducida, conjuntamente con
reglas de cambio de una a otra.
22.
Antes de seleccionar un plan de muestreo, es necesario conocer cinco aspectos, los que a
continuacin se expresan:
1)
2)
En general, estos dos aspectos se acuerdan entre proveedores y consumidor para cada
producto en particular para iniciarse un contrato y permanecer constantes durante la
vigencia del mismo.
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3)
esto se decide estudiando los resultados del muestreo de los ltimos lotes, lo cual se explica
posteriormente en forma detallada (captulos 29, 30, 31 y 33) por el momento suponemos
que va a utilizarse la inspeccin normal.
4)
si va utilizarse el muestreo sencillo, doble o mltiple. Por el momento suponemos
que va a utilizarse el muestreo sencillo;
4)
Tambin se puede utilizar la tabla X-K-2, en la cual encontramos los mismos resultados.
Tamao de la muestra 125; as como los nmeros de aceptacin y rechazo que son 3 y 4
respectivamente.
Ejemplo 10: Suponemos que el NCA es de 0.40, que el nivel de inspeccin es de I y
que el tamao del lote es de 230. La tabla I nos proporciona E como la letra clave. Al
utilizar la tabla II-A encontramos que no hay nmeros de aceptacin y recazo
correspondientes a la letra clave E y un NCA de 0.40 pero encontramos una flecha hacia
bajo la cual nos dirige hacia los nmeros de aceptacin y rechazo 0 y 1 que pertenece a la
letra clave G; el plan de muestreo correspondiente es:
Tambin se puede utilizar la tabla X-E-2 pero esta pgina no cuenta con una columna para
un NCA de 0.40. En su lugar aparece el smbolo de un tringulo invertido que corresponde
a NCA menores de 1.0.
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Este tringulo nos conduce a la nota situada en la parte inferior, la cual dice; Utilcese el
siguiente tamao de muestra correspondiente a otra letra clave para la cual estn
disponibles nmeros de aceptacin y rechazo.
Si se considera al tringulo como si fuera una cabeza de flecha, est apunta hacia el borde
de la pgina que debe voltearse. Esto nos conduce a al tabla X-F para la cual una vez ms
no se proporciona un NCA de 0.40 esta tabla a su vez nos conduce a la tabla X-G para
encontrar el mismo plan de muestreo ya encontrado en la tabla II-A.
Es muy importante recordar que si el tringulo que apuntan hacia arriba, el significado es
similar. Los tringulos apuntan, una vez ms, hacia el borde de la pgina que debe
voltearse.
Ejemplo 11: Supongamos que el NCA es de 0.015, que el nivel de inspeccin es III
y que el tamao del lote es de 120. La tabla I nos proporciona G como la letra clave, pero al
referirnos a las tablas, una flecha (o una serie de tringulos) nos conducen hasta letra P
antes de que encontremos un plan. El plan encontrado tiene un tamao de muestra de 800,
el cual exceda el tamao del lote.
En este casos debe de tomarse el lote entero (120) como muestra. Los nmeros de
aceptacin y rechazo correspondientes son 0 y 1.
Se establece en la parte 2 de esta norma que los valores de NCA correspondientes a 10 o
inferiores a ste, pueden expresarse en porcentaje de defectuosas o en defectos por cien
unidades; en tanto que los valores superiores a 10 pueden nicamente expresarse en
defectos por cien unidades. Debe decidirse en primer trmino si es adecuado expresar la
inconformidad en porcentaje de defectuosas o en defectuosos por cien unidades para cada
caso en particular; a continuacin debe definirse el NCA en trminos de esta decisin. Por
esta razn los ejemplos 9, 10 y 11 estn incompletos; ya que los valores de NCA se toman
como nmeros puros y, en consecuencia, los nmeros de aceptacin y de rechazo se toman
tambin como nmeros puros. Los ejemplos sirven para demostrar cmo obtener un plan de
muestreo de las tablas, pero en la practica carecen de sentido por ser incompletos.
Ejemplo 12: En el ejemplo 9, con un NCA de 1.0 el plan de muestro fu:
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Si el NCA fuera de 1.0 defectos por cien unidades, el plan de muestreo sera:
NCA PREFERENTES.
Las tablas proporcionan 26 valores de NCA comprendidos entre 0.010 (v. gr. Una
defectuosa por 10 000 unidades de producto) y 1000 (v. gr. 1000 defectos por 100 unidades
del producto o un promedio de 10 defectos por unidad). Se seleccionaron estos 26 valores
de forma tal, que cada uno de ellos es a prximamente una y media veces mayor que el
anterior (la relacin es de hecho la raz quinta de 10 sea 1.585).
Cuando el NCA que se ha especificado para llevar acabo la inspeccin de cualquier
producto dado es uno de los NCA preferentes, pueden utilizarse las tablas. Sin embargo, si
el NCA especificado no es un NCA preferente, las tablas de la parte 2 no son aplicables.
Bajo esta circunstancia, es necesario dirigirse a quien haya especificado el NCA y
solicitarle que lo examine, para ver si cabe la posibilidad de que un NCA preferente fuera
satisfactorio. Si no fuera as, debe disearse especialmente un plan de muestro para el NCA
que se requiere (vase el Captulo 40).
No es probable que se utilicen con frecuencia los valores muy altos de NCA (100 y
superiores) puesto que implican que puede considerarse satisfactorio un producto del cual
cada unidad contiene defectos. Claramente esto sera posible nicamente en el caso de que
los defectos que se buscan fueran de naturaleza poco importante y de que la unidad de
producto fuera bastante compleja. Como por ejemplo un vehculo completo.
Ejemplo 13: Para la inspeccin de tela la cual va a utilizarse posteriormente para
confeccionar ropa la unidad del producto puede ser una superficie determinada de la
misma. Para la inspeccin de fallas de poca importancia en el tejido, pudiera ser aceptable
un promedio de 4 fallas por metro cuadrado, en cuyo caso podra especificarse un NCA de
400 defectos por cada cien metros cuadrados.
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24.
ESPECIFICACION DE UN NCA:
Al especificar un NCA, debe recordarse que ste constituye una indicacin de la calidad
que requiere el consumidor y con ello se le pide al fabricante que produzca lotes con una
calidad promedio superior al NCA. Por una parte, debe lograrse esta calidad en forma
razonable en la fabricacin, por otra parte debe ser una calidad razonable desde el punto de
vista del consumidor. Casi invariablemente esto significa un compromiso entre la calidad
que quisiera el consumidor y la calidad que esta dispuesto a pagar, puesto que entre ms
rigurosa esa este requisito la produccin ser ms costosa con el objeto de ajustarse a l y la
inspeccin ser tambin ms costosa, con el objeto de asegurarse que se esta cumpliendo
con ese requisito.
La principal consideracin debe ser los requisitos que establezca el consumidor, pero es
necesario asegurarse que este est comportndose en forma realista y de que no exige algo
ms riguroso de lo que en realidad requiere. Debe tomarse en cuenta como van utilizarse
los artculos en cuestin y cuales seran las consecuencias de una falla. Si pueden
conseguirse los artculos en grandes cantidades y la falla consiste simplemente en una falla
para el ensamble, de tal manera que el artculo defectuoso puede descartarse pudiendo
utilizarse otro en su lugar, puede ser tolerable un NCA relativamente poco riguroso. Si por
el contrario, el defecto va a ocasionar una falla en el funcionamiento de una pieza
importante y costosa de un equipo en un momento y lugar en que no es posible reemplazar
el artculo defectuoso, se requerir un NCA ms riguroso.
Es tambin ms necesario considerar el nmero de componentes que contendr el equipo.
Si, por ejemplo, se decide que un equipo que consta de tres componentes igualmente
importantes tenga un porcentaje de defectuosas de 10, entonces cada uno de los
componentes podr contener un mximo de 3.3% de defectuosas con lo que se ajustara al
requisito, en tanto que si el equipo consta de diez componentes, stos no podran contener
ms de 1% de defectuosas. En este caso se usara frmula siguiente:
En donde:
n
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En el valor de X no se han tomado en cuenta los defectos que puedan sufrir durante un
proceso de ensamble defectuoso. Bajo estas circunstancias es probable que el fabricante de
los componentes desee seleccionar lo que considere un NCA adecuado para cada
componente y luego calcular qu calidad puede esperar del conjunto, en tanto que el
consumidor deseara especificar un NCA para todo el equipo en conjunto para luego
calcular cual debera ser la calidad de os componentes.
En general, el segundo de estos es probablemente el ms razonable en el sentido de que es
el desempeo que tenga el equipo en conjunto lo que realmente importa, pero es tambin el
enfoque ms caro porque casi siempre conduce a NCA ms riguroso. Sin embargo debe
aceptarse que la buena calidad de un artculo complejo es inevitable ms costosa que una
calidad igualmente buena en el caso de artculos sencillos.
La pregunta: qu nivel de calidad puede razonablemente esperarse, a un precio que el
consumidor este dispuesto a pagar con los mtodos de produccin disponibles?, puede
contestarse a menudo examinado el nivel de calidad que se ha producido y aceptado en el
paso. Cuando se trata de un nuevo artculo y no ha habido produccin anterior, existen a
menudo otros artculos similares de los cuales puede obtenerse informacin relaciona con el
caso. Los clculos de la calidad promedio de un proceso pueden ser particularmente tiles.
Esta idea de ver la calidad que se ha logrado en el pasado no debe tomarse como si los
niveles de calidad que se han alcanzado en el pasado fueran inmutables y resultaran
siempre lo suficientemente buenos. Es simplemente uno de los factores que deben de
considerarse al determinar cual es el NCA debe especificarse en forma razonable.
Debe recordase que la mera especificacin de un NCA no proporciona al consumidor una
garanta de que no se aceptaran los lotes con una calidad inferior. En primer lugar el NCA
se refiere al promedio. Algunos lotes pueden ser ms malos que el NCA en tanto que el
promedio es mejor que el NCA. En segundo lugar si la calidad promedio que se ofrece es
ligeramente inferior al NCA, es probable que es aceptable cierta cantidad de lotes antes de
que se requiera el cambio a una inspeccin ms rigurosa y an des pues del cambio es
probable que se acepten algunos lotes con calidad inferior a la especificada. Sin embargo,
en general, puede esperarse que el consumidor obtenga un producto con una calidad
promedio superior al NCA ya que los planes de muestreo poseen un incentivo econmico
que forma parte de su propia estructura en el sentido de que un fabricante no puede
permitirse tener ms que un pequeo porcentaje de lotes rechazados, debiendo tomar las
medidas pertinentes para mejorar la produccin, si se excede este porcentaje.
Podra pensarse que esto no es muy satisfactorio desde el punto de vista consumidor, al
depender en la forma que lo hace de lo que es probable que suceda en lugar de lo que es
seguro que pase. Pero en la practica, la mayor parte de los fabricantes toman medidas para
hacer que su calidad promedio de proceso no exceda el NCA, aunque sea nicamente en
razn de los lotes que se le rechazan, ya que esto le causa problemas y le aumenta los
costos. De cualquier manera la produccin para el consumidor depende del lmite inferior
de las curvas de operacin caractersticas (COC), as como el lmite superior con el cual
est relacionado el NCA, y este lmite inferior puede ajustarse al considerar los valores de
calidad lmite de cualquier plan que se requiera.
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El nivel de inspeccin define la relacin entre el e tamao del lote y del tamao de la
muestra. Las tablas estn elaboradas en forma tal, que cuando el tamao del lote es grande,
el tamao de la muestra es generalmente mayor que cuando el tamao del lote es pequeo.
Sin embargo no aumenta, en proporcin directa, ya que para un lote grande la muestra es
proporcionalmente ms pequea que para un lote de menor tamao.
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Debe recordarse sin embargo, que para ciertos NCA las flechas de la tabla conducen a
tamaos de muestras diferentes a stos. Una tabla completa en al que se considere el
tamao de la muestra como una operacin del tamao del lote necesitara considerar
tambin el NCA en razn de la flechas. An en el caso de un valor debe, la relacin no es
uniforme ya que nicamente hay disponibles algunos valore del tamao de la muestra, en
tanto que se tienen que tomaren cuenta todos los posibles tamaos de lotes. Como
resultados, una tabla de esta clase dara lugar a ms confusiones en vez de ser una ayuda.
En la tabla 2 sin embargo, puede encontrarse un resumen til de esta situacin.
TABLA 2 Relacin entre el tamao de la muestra y el tamao del lote para los tres niveles
de inspeccin generales.
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NOTAS:
1)
Esta tabla debe considerarse slo como indicativa. Los tamaos de los lotes que se
muestran son tales que los llamamos ms grandes se ajustan a la condicin requerida. Sin
embargo, en todos los casos un tamao de lote menor en una unidad a los valores que ah se
muestran, ya no se ajustan a ella.
2)
Las cifras mostradas suponen que el NCA no es tal que necesite un tamao de
muestra que no se ajuste a las condiciones establecidas.
Los niveles de inspeccin especiales estn diseados para aquellas situaciones en las cuales
el tamao de la muestre debe mantenerse pequeo. Esto no deben especificarse sin
examinar cuidadosamente sus implicaciones en trminos de los riesgos tanto el fabricante
como para el consumidor, mediante un estudio de la COC.
En la parte 2 de esta norma se expresa: En la especificacin de los niveles de inspeccin
del S-1 al S-.4 de debe tener cuidado en no especificar NCA incompatibles con dichos
niveles de inspeccin (captulo 11.2).
El objetivo principal de los niveles de inspeccin especiales es que el tamao de la muestra
sea pequeo cuando esto sea realmente necesario. Por ejemplo las letras clave que se
encuentran bajo S-1 no van ms all de D, que equivale a un tamao de muestra de 8, pero
no tiene caos especificar S-1 con la esperanza de conservar el tamao de la muestra
reducido 8 o a menos de 8, cuando se tienen un NCA de 0.10 para el cual el tamao
mnimo de muestra es de 125 en inspeccin normal. La cantidad de informacin sobre la
calidad del proceso que puede obtener del examen de las muestras depende ms del tamao
absoluto de la muestra que del porcentaje del lote que se est examinando. Por lo tanto a
veces la pregunta: Por qu se hace depender el tamao de la muestra del tamao del lote?
hay tres razones:
a)
b)
c)
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26
TAMAO DE MUESTRA
Los tamaos de las muestras que aparecen en la Parte 2 de esta norma, para muestreo
sencillo, forman una serie (como la serie de los valores de NCA), en la cual cada nmero es
aproximadamente 1.585 veces el nmero anterior. Esto significa que el producto del NCA
por el tamao de la muestra es aproximadamente constante en diagonales de la Tabla II-A;
lo que da lugar a una tabla consistente en s misma, si es que se toman tambin los nmeros
de aceptacin como constantes en diagonales.
Esta caracterstica fue til para que el clculo de las tablas mismas y no necesariamente
representa una ventaja en su utilizacin. Sin embargo, el patrn resultante significa que las
tablas se prestan a la construccin de resmenes convenientes y de nomogramas especiales
o reglas de clculo que pueden ser tiles en algunas ocasiones (vase el captulo 42 y las
figuras 12 y 13.)
Los tamaos de muestras para el muestreo doble y el muestreo mltiple siguen el mismo
patrn, pero para una letra clave dada, el tamao de la muestra doble retrocede un espacio
en la serie, en comparacin con el muestreo sencillo, en tanto que el tamao de la muestra
mltiple retrocede dos espacios ms, en comparacin al muestreo doble. Los tamaos de las
muestras para la inspeccin reducida retroceden siempre dos espacios en comparacin con
la inspeccin normal correspondiente.
Como resultado, para cualquier letra clave dada, corresponden diferentes valores de
tamaos de muestras segn se utilice el muestreo sencillo, doble o mltiple y si est en
vigor o no la inspeccin reducida. Es por esto que se requieren las letras clave como ndices
de las tablas en vez de que se utilicen los tamaos de muestras.
27
Las tablas de la parte 2 de esta norma proporcionan tanto las grficas de las COC como los
valores tabulados en base a los cuales se elaboraron dichas grficas. Se aplican para el
muestreo sencillo, sin embargo coinciden tan de cerca con aquellas de los muestreos doble
y mltiple, que se pueden usar sin errores de consideracin.
Un estudio de las COC que aparecen en la parte 2 de esta norma muestra que cuando el
nmero de aceptacin es cero, el extremo superior de la curva es difcil de interpretar en
forma exacta. Hay, sin embargo, una frmula aproximada
La frmula es:
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Ntese que esta frmula es vlida nicamente para un nmero de aceptacin igual a cero,
nicamente para el extremo superior de la curva y cuando el porcentaje de lotes que se
espera que sean aceptados no es inferior a 80.
Ejemplo 15: Supongamos que tenemos un NCA de 0.40%de defectuosas y que la letra
clave es G. El plan de muestreo es:
Cual es el porcentaje de lotes que se espera que se acepten para el NCA especificado?. La
respuesta es:
100 - (32 x 0.40) = 87% de los lotes
Ejemplo 16: En las mismas circunstancias, cuntas tendran que ser las defectuosas en los
lotes que se presenten para que se aceptara un 95% de los lotes?. Invirtiendo la frmula
tenemos:
28
LOTES
De mutuo acuerdo entre fabricante y consumidor, se debe especificar el tamao del lote
considerando los intereses de ambos. No es necesario que se elija una cifra invariable.
Algunas veces puede permitirse una variacin, aunque en este caso es deseable que se
especifiquen los lmites inferior y superior del tamao del lote.
Los tamaos de lotes grandes presentan una ventaja desde el punto de vista de la inspeccin
por muestreo, ya que es posible tomar un tamao de muestra grande de un lote grande,
logrando mediante esto una mejor discriminacin entre los lotes buenos y malos, lo cual no
es posible en lotes pequeos, para el mismo NCA; sin embargo no debe llevarse este
concepto de "lotes grandes" a su extremo, si la integracin de un lote grande requiere que
se rena una serie de lotes pequeos que podran haber quedado separados, el lote grande
tiene ventajas nicamente si los lotes pequeos poseen una calidad similar.
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Si existe la probabilidad de que haya alguna diferencia esencial entre la calidad de los lotes
pequeos entonces es mucho mejor mantenerlos separados.
Por esta razn los lotes deben estar constituidos por unidades de producto que se produzcan
esencialmente bajo las mismas condiciones.
Ejemplo 17: Un fabricante esta produciendo artculos que se van a inspeccionar bajo las
siguientes condiciones:
NCA 2.5 % defectuosas
Nivel de inspeccin II
Inspeccin normal
Muestreo sencillo
El fabricante tiene dos mquinas, digamos la A y la B. Cada mquina produce 900 artculos
por hora y se decide que la produccin que una de las mquinas elabora durante una hora
sea el tamao del lote. Del uso de las tablas y de acuerdo con las condiciones antes
mencionadas, se obtiene el siguiente plan de muestreo, bajo la letra clave J:
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Caso 1:
Tanto la mquina A como la B estn produciendo con la misma calidad de 2.3% de
defectuosas. Esta calidad es mejor que el NCA, as que es deseable que el plan de muestreo
acepte tantos lotes como sea posible de los que se presenten. Si el tamao del lote es de 900
y el tamao de la muestra es de 80, la COC muestra que se aceptara 99% de los lotes y que
se rechazara 1%. Los artculos deberan inspeccionarse a una velocidad de 160 por hora.
Si el tamao del lote es 1800 y el tamao de la muestra 125, la COC muestra que se
aceptara un poco ms de un 99% y que se rechazaran un poco menos de 1%. Los artculos
deberan inspeccionarse a una velocidad de 125 por hora.
En este caso el lote mayor es claramente mejor.
Caso 2:
Tanto la mquina A como la B estn produciendo con la misma calidad de 10% de
defectuosas. Esta calidad es ms mala que el NCA, as que es deseable que el plan de
muestreo rechace tantos lotes como sea posible, de los que se presenten a inspeccin.
Si el tamao del lote es de 900 y el tamao de la muestra es de 80, la COC muestra que se
aceptara el 20% de los lotes y se rechazaran el 80%. Los artculos deberan inspeccionarse
a una velocidad de 160 por hora.
Si el tamao del lote es de 1800 y el tamao de la muestra es de 125. La COC muestra que
se aceptara el 13% de los lotes y se recharan el 87%. Los artculos deberan
inspeccionarse a una velocidad de 125 por hora.
En este caso una vez ms el lote mayor es claramente mejor.
Caso 3:
La mquina A produce con una calidad de 2.3% de defectuosas y la mquina B con una
calidad de 10% de defectuosas Si el tamao del lote es de 900 y el tamao de la muestra es
de 80, la COC muestra que se aceptara 99% y se rechazara un 1% de los lotes
provenientes de la mquina A, en tanto que se aceptara 20% y se rechazara 80% de los
lotes provenientes de la mquina B.
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O sea, alrededor de 40% de los lotes. Los lotes aceptados tendran una calidad promedio de:
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INSPECCION NORMAL
El NCA como se sabe ya, constituye la lnea divisoria entre lo aceptable y lo no aceptable
en la escala de calidad. Una vez que se ha especificado el NCA para cualquier producto en
particular. Lo ideal sera contar con un plan de muestreo con el que se pudieran aceptar
siempre los lotes cuya calidad fuera mejor a la del NCA tal como se muestra en la figura 6.
Esta situacin ideal sin embargo, constituye algo que ningn plan de muestreo puede
lograr; as que es necesario aceptar una COC que descienda a un ngulo inferior a la
vertical.
Ahora bien, una COC puede cruzar la lnea vertical ideal nicamente en un punto y la
pregunta es: En qu punto puede cruzarla?
Una solucin posible es dejar que la curva cruce a la lnea vertical en la proximidad de la
parte inferior de la lnea, como se muestra en la figura 7. La seleccin de un plan que se
ajusta a lo anterior tiene la ventaja de que se proporciona un alto grado de proteccin al
consumidor, ya que existe una alta probabilidad de que se rechace cualquier lote que se
presente con una calidad inferior al NCA. Dicha solucin, sin embargo, es insatisfactoria
desde el punto de vista del fabricante; este no tendr motivo de queja si se le rechaza casi
todo su producto si su calidad es inferior al NCA, pero s tendr motivo para quejarse si su
calidad es superior al NCA y se le rechaza una gran cantidad de lotes.
En el caso que se ilustra en la figura 7 se aceptara nicamente un poco ms de un lote de
cada cinco si el porcentaje de defectuosas fuera la mitad del NCA y se aceptara menos de
la mitad de los lotes aunque el porcentaje de defectuosas fuera tan reducido como para
constituir una cuarta parte del NCA. Esto es claramente insatisfactorio puesto que el
fabricante bajo estas circunstancias, se ve obligado a producir con una calidad
considerablemente mejor de la que realmente se necesita, si es que quiere evitar rechazos
de lotes constantemente. Es probable que esto d lugar a dificultades en la produccin,
aumentar en gran proporcin el precio del producto y es probable tambin que d lugar a
una mala relacin entre fabricante y consumidor.
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Una alternativa a esta solucin sera por lo tanto, dejar que la curva cruzara la lnea vertical
en la proximidad de la parte superior de la lnea, como se muestra en la figura 8. Con esto
quedara satisfecho el fabricante ya que si produce lotes con una calidad igual o mejor al
NCA estos tendran una aceptacin casi segura. Sin embargo, en este caso el consumidor
tendra razones para quejarse ya que si el fabricante presentara lotes con una calidad
inferior al NCA podra haber una alta probabilidad de que tuviera que aceptarlos. En el caso
que se ilustra como ejemplo en la figura 8, si se presentaran los lotes con un porcentaje de
defectuosas del doble del NCA, se aceptaran casi un 60% de dichos lotes.
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Se necesita algn trmino intermedio a fin de ajustarse a los requisitos tanto del fabricante
como del consumidor, la solucin que se establece en esta norma consiste en otorgar el
beneficio de la duda al fabricante (una curva similar a la de la figura 8) y para proteccin
del consumidor, se recurre al sistema inspeccin normal - inspeccin rigurosa, en la cual se
especifican dos planes de muestreo para cualquier situacin dada, junto con las reglas para
determinar cuando se debe cambiar de una inspeccin a otra y cuando regresar a la primera.
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INSPECCION RIGUROSA
Cuando se requiera utilizar la inspeccin rigurosa, se obtiene el plan requerido de las tablas
en la misma forma, con excepcin de que se utiliza la Tabla II-B en lugar de la Tabla II-A
en tanto que si se utilizan las Tablas X se encuentra la columna correcta leyendo el valor
del NCA a partir de la parte inferior en vez de a partir de la parte superior.
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NOTA de la tabla 3: Las cifras que aparecen en la primera columna son aproximadas, ya
que es imposible hacer que los valores del NCA por el tamao de la muestra sean
exactamente constantes en diagonales de la Tabla II-A. Como resultado, las cifras que
aparecen en la tercera columna son inevitablemente aproximadas tambin, pero se
encontrar que las cifras reales estn siempre muy cerca de las que se muestran aqu.
En general, se observa que un plan de muestreo riguroso tiene el mismo tamao de muestra
que el plan de muestreo normal correspondiente pero tiene un nmero de aceptacin menor.
Sin embargo si el nmero de aceptacin de la inspeccin normal es 1, su cambio a 0 dara
lugar a un grado irrazonable de rigurosidad y si el nmero de aceptacin de la inspeccin
normal es 0, no hay un nmero ms pequeo. En ambos casos se obtiene la rigurosidad
manteniendo el nmero de aceptacin igual al de la inspeccin normal en tanto que se
aumenta el tamao de la muestra.
No se muestran grficamente las COC para la inspeccin rigurosa a fin de evitar la
confusin en las grficas al tratar de poner demasiadas curvas en ellas. Sin embargo, se
muestran valores tabulados y cuando hay un plan de muestreo que constituye un plan de
muestreo normal para una NCA y un plan de muestreo riguroso para un NCA diferente, lo
cual sucede a menudo, se aplica la misma COC al plan en sus dos modalidades. Debe
recordarse que las cifras que se utilizaron para trazar las curvas se refieren a los valores del
NCA para una inspeccin normal
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Ejemplo 18: Suponemos que el NCA es de 1.0, que le nivel de inspeccin es II y que el
tamao del lote es de 2500. De la tabla I obtenemos la letra clave K. Al utilizar la tabla XK-II tenemos que el plan de muestreo para inspeccin rigurosa es:
Este plan es igual al plan de muestreo normal para la letra clave K y un NCA de 0.65. Su
COC es por lo tanto la curva marcada 0.65 en la Tabla X-K.
31
PROCEDIMIENTO DE CAMBIO
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Una vez que se ha implantado la inspeccin rigurosa permanece en vigor para todos los
lotes hasta que se acepten cinco lotes sucesivos con esta inspeccin rigurosa entonces se
vuelve a implantar la inspeccin normal. Este es un requisito bastante severo ya que la
aceptacin bajo una inspeccin rigurosa es ms difcil que bajo la inspeccin normal, pero
una vez que hay evidencia de que se han presentado lotes con una calidad ms mala que el
NCA, no puede restitursele al fabricante el derecho de gozar el beneficio de la duda hasta
que se considere seguro hacerlo.
Hay una proteccin adicional para el consumidor. Es el procedimiento que establece que se
suspender la inspeccin de aceptacin en espera de una accin que mejore la calidad si
diez ( u otro nmero que se acuerde) lotes consecutivos permanecen en inspeccin rigurosa.
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Desgraciadamente no es posible adaptar las tablas en forma de que estos elementos sean
siempre como se desean sin que se pierdan al mismo tiempo otros elementos deseables. La
figura 10 por ejemplo, muestra cuatro planes de muestreo normales relacionados con un
NCA de 1.5% de defectuosas; para una calidad mejor que el NCA se ve que entre ms
grande es el tamao de la muestra, ms alto es el porcentaje de lotes que se aceptan, en
tanto que para una calidad inferior (cuando el porcentaje de defectuosas es 2 veces o ms
que el NCA) la muestra ms grande es la que rechaza ms y la muestra ms pequea es la
que rechaza menos (siendo deseable que el plan de muestreo rechace tan frecuentemente
como sea posible, cuando la calidad es inferior al NCA) . El punto de cruce de las curvas
para tamaos de muestra de 32 y 50 no sera satisfactorio porque la calidad del lote es muy
mala.
Puede objetarse la necesidad del aumento del tamao de los lotes para lograr una mejor
proteccin en el muestreo, ya que no siempre es fcil o razonable el cambiar el tamao de
los lotes, ya que deben fijarse los tamaos de los lotes de acuerdo con ciertos aspectos
como son la continuidad y cantidad de la produccin, que puede manejarse en un momento
dado, problemas de transporte, problemas de control de inventario y as sucesivamente,
Todo esto es cierto, sin embargo, vale la pena recordar que, a igualdad de los dems
aspectos, puede ser provechoso aumentar el tamao del lote desde el punto de vista de la
inspeccin por muestreo.
Al examinar las alturas de las curvas en la figura 10, a dos, tres y cuatro veces el NCA debe
recordarse que las curvas muestran nicamente parte del panorama o sea la parte
correspondiente a la inspeccin normal. El porcentaje de lotes que se acepta, si la calidad es
dos veces el NCA, es inferior a 80% para todos los planes de inspeccin normal de la
NMX-Z-12/2. Dicho porcentaje de aceptacin dar por resultado la implantacin de la
inspeccin rigurosa antes de que pasen muchos lotes.
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Bajo algunas circunstancias puede concluir que no vale la pena el trmino que dio la
inspeccin por muestreo que involucra necesariamente la utilizacin de un programa
completo de muestreo. Las partes que intervienen pueden entonces negociar a fin de
seleccionar un plan directamente de las COC, pero cuando se adopta un enfoque de esta
clase es necesario que las partes tengan conocimiento al respecto si es que ha de obtenerse
una seleccin satisfactoria.
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33.
INSPECCION REDUCIDA.
Cuando existe evidencia de que la calidad de la produccin es mejor que el NCA en forma
consistente, hay razones para suponer que la produccin continuar siendo buena, ya no
hay necesidad de contar con un plan de muestreo que separe los lotes buenos de los malos,
en virtud de que todos los lotes son buenos. Sin embargo no debe prescindirse totalmente
de la inspeccin, ya que se necesita contar con una seal de aviso para el caso de que la
calidad de la produccin empeore en un momento dado.
Bajo estas circunstancias, puede obtenerse un ahorro considerable si as se desea, mediante
el uso de planes de muestreo con inspeccin reducida cuyos tamaos de muestras son
nicamente de dos quintas partes del tamao de la muestra que corresponde a los planes
con inspeccin normal (excepto cuando el plan de inspeccin normal tiene un tamao de
muestra inferior a 5, en cuyo caso el porcentaje es de ms de dos quintas partes, ya que se
toma una muestra de por lo menos 2 para la inspeccin reducida).
A primera vista pudiera suponerse que la forma de reducir el tamao de la muestra sera
utilizar una letra clave anterior en el orden alfabtico. Esto reducira de hecho el tamao de
la muestra, sin embargo, tendra tambin el efecto indeseable de reducir el porcentaje de
lotes que se espera sean aceptados con el NCA dado, esto, de hecho resultara en un castigo
al fabricante por hacer un buen trabajo. Puesto que un resultado as sera claramente
insatisfactorio; es necesario tener una tabla para la inspeccin reducida. Esta tabla es la
Tabla II-C de las tablas de la parte 2 de esta norma.
Debe notarse que no existe una obligacin de implantar la inspeccin reducida. El uso de la
inspeccin rigurosa, cuando as lo requiera el procedimiento de cambio, es esencial en lo
que se refiere al programa y por lo tanto, es obligatoria; sin embargo la inspeccin reducida
es totalmente opcional aunque se cumplan las condiciones necesarias que establece el
procedimiento de cambio, pudindose implantar cuando el consumidor as lo desea o lo
juzgue conveniente.
El procedimiento de cambio esta calculado para asegurar que no se implante la inspeccin
reducida, a menos que la calidad que se observa sea verdaderamente buena y de que sea
probable que contine en esta misma forma. A fin de averiguar si es permisible implantar la
inspeccin reducida, debe compararse la historia reciente de la produccin con los nmeros
lmite que se encuentran en la Tabla VIII.
Ejemplo 20: Se est fabricando un producto el cual va a inspeccionarse bajo las
condiciones siguientes: NCA 10% de defectuosas, tamao de lote 4000, nivel de inspeccin
I y muestreo sencillo. Bajo la letra clave J se encuentran el tamao de la muestra que es de
80 el nmero de aceptacin 14 y el nmero de rechazo 15.
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La tabla 5 muestra los resultados del proceso de inspeccin. Se utiliza inspeccin normal al
principio de la tabla (esta tabla se tom como un extracto de una secuencia ms larga por lo
que la numeracin de los lotes no comienza con 1). Los resultados son buenos, se aceptan
todos los lotes, quedando el nmero de defectuosas bastante por debajo del nmero de
aceptacin
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Despus de observar muy buenos resultados con los cuatro lotes siguientes, decide
investigar nuevamente la cantidad de defectuosas que se observan en los 10 lotes, es ahora
nicamente de 54. la que esta dentro del nmero lmite. Bajo estas circunstancias s se
permite la inspeccin reducida ya que adems se han aceptado los 10 ltimos lotes bajo
inspeccin normal, siempre y cuando la produccin se lleve a cabo en ritmo constante. Lo
que significa ritmo constante requiere interpretacin y es posible que sta vare de una
industria a otra. Bsicamente el requisito es que no haya una interrupcin en la produccin
suficiente como para afectar la calidad de la produccin actual que es buena, como lo
demuestran los registros correspondientes a los ltimos lotes. El significado exacto, en
cualquier caso en particular, depende del juicio tcnico basado en la consideracin de todos
los factores cuya variacin pueda afectar a la calidad del producto.
Puesto que la inspeccin reducida es opcional, se permite reimplantar la inspeccin normal
si es que as lo desea o lo juzga conveniente el consumidor y debe hacerse en el caso de que
la produccin se haga irregular, de que haya demoras en ella o si otras condiciones la hacen
parecer necesaria. Sin embargo, se debe regresar a la inspeccin normal en el caso de que
no se acepte un slo lote bajo inspeccin reducida.
Los planes de muestreo reducido presentan una caracterstica particular, que es una brecha
entre el nmero de aceptacin y el de rechazo (La diferencia entre los nmeros de
aceptacin y rechazo no es 1 como en el caso de inspecciones normal y rigurosa). El
procedimiento de cambio indica que si el nmero de defectuosas que se observan es igual al
nmero de aceptacin menor, se debe aceptar el lote y se contina con la inspeccin
reducida (siempre y cuando las otras condiciones no requieren que se implante la
inspeccin normal). Si se alcanza o excede el nmero de rechazo, se debe rechazar el lote y
se vuelve a implantar la inspeccin normal a partir del siguiente lote. Sin embargo, si el
resultado se encuentra dentro de la brecha entre el nmero de aceptacin y el de rechazo, se
acepta este lote pero debe volverse a implantar la inspeccin normal.
Ejemplo 21: En la tabla 6 contina el ejemplo de la Tabla 5. En la Tabla II-C se
encuentra que el plan de muestreo reducido es:
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34.
CONCESIONES.
Las concesiones forman en general parte de la prctica de inspeccin, pero estas no deben
llevarse a extremos, es claramente legtimo que un consumidor decida que an cuando sabe
que algn lote no es de calidad aceptable, no pueda darse el lujo de esperar y en esta forma
accede a aceptarlo sobre una base de concesin, posiblemente a un precio menor. No existe
ningn aspecto en el sistema de inspeccin por muestreo que evite que un consumidor haga
lo anterior si es que as lo desea o lo juzga conveniente. Si se hace una concesin de esta
clase y se acepta un lote "rechazado" por alguna razn en especial, debe sin embargo,
registrarse el lote como rechazado para fines del procedimiento de cambio y la historia
verdadera de la calidad. Hay sin embargo, otro tipo de concesin que hay tentacin de usar
cuando se utiliza la inspeccin por muestreo. Esta consiste en aceptar, aunque el plan de
muestreo diga que hay que rechazar", no porque el consumidor decida que prefiere tomar
defectuosas en lugar de esperar, sino porque el plan de muestreo dice "apenas rechcese".
Esta tentacin puede ser particularmente fuerte si el rechazo significa no nicamente
rechazar un lote, sino tambin un cambio a inspeccin rigurosa. Debe evitarse en lo posible
caer en esta tentacin, si el plan de muestreo dice "acptese para 3, rechcese para 4" no
quiere decir "acptese para 4, rechcese para 5".
Ejemplo 22: Se est llevando a cabo la inspeccin bajo las condiciones de un NCA
de 10.0% de defectuosas, letra clave E, inspeccin normal y muestreo sencillo. El plan de
muestro es:
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Aceptar cuando debemos rechazar significara tomar ms riesgos de los que hemos
acordado y no es ms razonable aceptar porque el programa apenas rechaza que rechazar
por qu apenas acepta. qu se dira si se rechazara aunque nicamente se hubieran
encontrado tres defectuosas en la muestra?
Adems existe una cierta concesin ya incluida en las tablas, por ejemplo si en el caso antes
mencionado (Ejemplo 22) el NCA es 10% y el 10% de 13 es 1.3. "Acptese con 1,
rechcese con 2", constituira por lo tanto la regla rgida. Al decir "Acptese con 3,
rechcese con 4", las tablas permiten una considerable concesin y no es posible
proporcionar adicionalmente nada.
35.
CLASIFICACION DE DEFECTOS.
En este caso hay dos planes de muestreo que corresponden a estos NCA y su un lote
cumple con cada uno de los planes de aceptacin es aceptado y as falla en algunos de ellos
o en ambos se rechaza.
Las distintas alternativas son:
1)
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2)
Establecer un NCA por separado a cada caracterstica, con la posible inclusin de
un NCA adicional para todas las caractersticas tomadas en conjunto, o para todas las
caractersticas de cada clase. Este mtodo puede ser valioso cuando el articulo es complejo
y tiene muchas caracterstica independientes a inspeccionarse.
3)
Establece una sola clase mayor y adems agrupar todos los defectos a fin de
considerar los mayores y menores en forma conjunta. Podran fijarse los NCA, por
ejemplo:
Supongamos que el nivel de inspeccin es III para ambas clases y que se van a utilizar
muestreo sencillo e inspeccin normal, con tamao de lote de 900. La letra clave es K. Los
planes de muestreo son los siguientes:
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Este esquema, que comprende un mismo tamao de muestra para cada clase pero distintos
nmeros de aceptacin, es tpico y hace que la administracin del plan de muestreo sea ms
sencilla, ya que puede utilizarse la misma muestra fsica para ambas clases (siempre y
cuando la inspeccin no implique la destruccin de la muestra). Una muestra de 125
proveniente de un lote en particular podra proporcionar los siguientes resultados:
una unidad de producto defectuosa en lo que respecta a la dimensin A).
una unidad de producto defectuosa en lo que respecta a las dimensiones B y D,
dos unidades de producto defectuosas en lo que respecta a la dimensin C;
tres unidades de producto defectuosas en lo que respecta a las dimensiones C y D.
O sea que en total tenemos:
Dos defectuosas mayores y cinco defectuosas menores. Por lo tanto se acepta el lote.
Ejemplo 24: Se va a inspeccionar un producto bajo las siguientes condiciones:
tamao del lote 500, nivel de inspeccin II, inspeccin normal y muestreo sencillo. Los
NCA son:
Bajo estas circunstancias debe examinarse una muestra de 50 para todos los tipos de
defectos y luego una muestra adicional de 150 para los defectos mayores nicamente.
Alternativamente, puesto que de cualquier forma se necesita una muestra de 200, el
inspector puede decidir si sera conveniente inspeccionar este ltimo tamao de muestra
para ambas clases. Podr hacerlo siempre y cuando exista acuerdo entre fabricante y
consumidor. Al utilizar la letra clave L, el plan para los defectos menores queda en la
siguiente forma:
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Cuando se clasifican los defectos con distintos NCA para las diferentes clases o grupos de
clases, entonces el cambio entre la inspeccin normal y la rigurosa se efecta en forma
independiente para cada clase o grupo de clases, para las cuales se haya especificado un
NCA, de acuerdo con los lotes aceptados o rechazados para esa clase o grupo en particular.
Ejemplo 25: Las condiciones son: Tamao del lote 275 nivel de inspeccin III y
muestreo sencillo. El NCA para defectos mayores 1.5% de defectuosas. El NCA para
defectos menores 4.0 % de defectuosas.
En la tabla 7 se presentan los resultados y la forma en que se lleva a cabo el cambio. Tantos
cambios en una cantidad de lotes tan reducida es til para fines de ejemplo, pero poco
probable en la prctica.
36.
Los principios de seleccin de planes dobles o mltiples de las tablas son similares a
aquellos que se aplican para el muestreo sencillo, pero se utilizan las Tablas III o IV, en
lugar de la Tabla II.
Si se utilizan las Tablas X, debe tenerse cuidado de ver que se tomen los tamaos correctos
de cada muestra ya que las tablas tambin proporcionan los tamaos de muestras
acumulados. Sin embargo, todos los planes poseen la caracterstica de que todas las
muestras sucesivas son iguales en tamao a la primera muestra y es fcil de recordar esta
regla.
Cuando el plan de muestreo sencillo apropiado tiene un nmero de aceptacin de cero o un
tamao de muestra de 2, no existe un plan doble o mltiple. La alternativa es, o bien utilizar
el muestreo sencillo o los planes doble o mltiple, para el siguiente tamao ms grande de
muestra que haya disponible para el NCA especificado.
Ejemplo 26: Si el NCA es de 0.40 y la letra clave G, la Tabla III-A tiene un
asterisco que nos conduce a una nota situada en la parte inferior, pudindose utilizar la
Tabla II-A en cuyo caso el plan de muestro es:
o podemos proseguir hacia abajo con la columna 0.40 de la Tabla III-A hasta que
encontremos el plan doble ste se encuentra bajo la letra clave K y es:
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La tabla IX proporciona curvas del tamao promedio de las muestras para muestreo doble
y mltiple, las cuales pueden utilizarse para decidir si el ahorro en la inspeccin que se va
a obtener con base a la utilizacin de muestreo doble o mltiple en lugar del muestreo
sencillo, es suficiente como para que valga la pena a pesar del mayor trabajo
administrativo.
Las curvas fueron elaboradas en base a la aceptacin por muestreo sencillo y
necesariamente son aproximadas hasta cierto grado, ya que no pueden aplicarse en forma
exacta para todos los diferentes planes de muestreo dados. Sin embargo, son aplicables en
forma suficientemente aproximada para la finalidad que tienen.
La escala horizontal de cada curva est expresada en unidades de "n veces el porcentaje de
defectuosas", en donde n es el tamao de la muestra correspondiente al plan de muestreo
sencillo. Para cada uno en particular, puede dividirse esta escala entre n para obtener una
escala del porcentaje de defectuosas.
La escala vertical esta expresada tambin en trminos del valor de n. La lnea en la parte
superior de cada grfica representa, por lo tanto, al tamao de muestra sencillo y con ello
permite juzgar la eficacia de los planes doble y mltiple en relacin con esta lnea superior.
Ntese que al manejar la inspeccin por muestreo debe esperarse que la inspeccin normal,
con una calidad de los lotes presentados mejor que el NCA, est en vigor la mayor parte del
tiempo. En este caso las partes ms importantes de estas curvas son las secciones a la
izquierda de las flechas sobre la lnea base. Aquellas grficas que no poseen flechas se
refieren a nmeros de aceptacin que se utilizan nicamente en inspeccin rigurosa.
Cuando el plan de muestreo sencillo tiene un nmero de aceptacin de 1, el plan mltiple
es, la mayor parte de las veces, menos eficiente que el plan doble. Fue imposible evitar esta
lamentable caracterstica sin perder otras valiosas caractersticas de las tablas. Bajo estas
circunstancias se preferir el muestreo doble a menos que haya alguna buena razn, distinta
al tamao promedio de la muestra, para que sea deseable utilizar el mltiple.
En la tabla IX se supone que no se ha suspendido la inspeccin en el momento de llegar a
una decisin en el caso de planes de muestreo dobles o mltiples, sino que se han
inspeccionado todas las muestras.
Ejemplo 27: Se est utilizando un plan de muestreo sencillo en la letra clave K y un
NCA de 2.5% de defectuosas, a saber:
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Sabemos que al presentar una serie de lotes a inspeccin usando los planes de muestreo de
esta norma, el extremo superior de la COC es el ms importante, en el sentido de que la
calidad de la produccin debe encontrarse en general en esta regin de la curva si es que se
espera evitar los rechazos frecuentes de lotes, la inspeccin rigurosa y eventualmente la
suspensin de la inspeccin en espera de que se mejore la calidad.
Pero el extremo inferior de la curva tiene tambin una importancia considerable, como
indicacin de la probabilidad de rechazo de un nico lote malo, en caso de que un lote as
se presentara en el flujo de lotes buenos. Sin embargo, el extremo inferior de la curva tiene
importancia preponderante cuando el producto se presenta en un nico lote aislado o una
serie muy corta de lotes. En este caso el consumidor no puede depender de la inspeccin
rigurosa para obtener una proteccin adicional, ya que no hay posibilidad para la aplicacin
del procedimiento de cambio.
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Es para estos casos que se han preparado las Tablas VI-A; VI-B; VII-A y VIII-B. Las
Tablas VI-A y VII-A se refieren al porcentaje de defectuosas y las Tablas VI-B y VIII-B a
defectos por cien unidades. En este caso ha sido necesario separarlas ya que proporcionan
respuestas algo diferentes en el extremo inferior de la curva que es el que nos interesa. Los
valores tabulados son calidad lmite (CL) 10 y 5 porciento defectuosas y calidad lmite
(CL) 10 y 5 defectos por cien unidades.
Se pueden tomar tambin los valores para las Tablas CL de las COC tabuladas de las
Tablas X, pero es conveniente el reunirlas como se ha hecho en esta norma.
Las tablas se refieren al muestreo sencillo, pero los valores son aplicables tambin en forma
aproximada a los planes doble, mltiple y secuencial equivalente.
Ejemplo 28: Va a inspeccionarse un lote aislado. Se requiera una buena
probabilidad de aceptacin si la calidad del lote es tan buena como 1.0% de defectuosas,
pero debe haber nicamente un 10% de probabilidad de aceptacin si su calidad es tan mala
como 4.0% de defectuosas. De acuerdo con estas condiciones, se requiere el tamao de
muestra ms pequeo que aparezca en las tablas.
En la Tabla VI-A encontramos en la columna NCA de 1.0%, buscamos desde arriba hacia
abajo hasta que encontramos una cifra igual o menor a 4.0. Siendo la letra clave M la
primera que satisface las condiciones con un valor CL de 3.7% de defectuosas y en la Tabla
X-M-2 encontramos el plan requerido para el NCA de 1.0 y su COC correspondiente.
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38
LAS TABLAS LC
Las tablas V-A y V-B proporcionan los factores para el lmite de la calidad promedio de
salida (LCPS) para los planes de muestreo sencillo normal y sencillo riguroso. Tambin se
aplican en forma suficientemente aproximada a los planes doble y mltiple equivalentes.
Una nota situada en la parte inferior dice que debe multiplicarse el valor del contenido de la
tabla por:
Si la muestra es nicamente un porcentaje pequeo del lote, este clculo representa una
ligera diferencia y pueden utilizarse los valores del contenido de la tabla en la forma en que
se muestran, pero si la muestra en un porcentaje grande del lote, no debe olvidarse esta
multiplicacin.
El estudio de la tabla V-B muestra que con la excepcin de la primera diagonal o sea la de
la parte superior izquierda (en donde el nmero de aceptacin es 0), el LCPS para la
inspeccin rigurosa se aproxima siempre al NCA. Si se desea tener esta relacin entre el
NCA y el LCPS para la inspeccin rigurosa, debe entonces hacerse uso de la opcin de
utilizar los planes con un nmero de aceptacin de 1 en lugar de aquellos que tienen un
nmero de aceptacin de 0.
Ejemplo 29: Se encuentra que la letra clave es H para un tamao de lote de 400, un NCA de
4.0% de defectuosas y un nivel de inspeccin II. En la Tabla V-A se encuentra que el LCPS
para inspeccin normal es:
39
Al utilizar la parte 2 de esta norma, en las circunstancias para las cuales fue diseada, (una
serie larga de lotes), es necesario establecer los valores del NCA y del nivel de inspeccin
antes de que se puedan usar las tablas. De hecho, en general, es necesario establecer estos
valores antes de que pueda iniciarse la produccin misma.
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Una vez que se haya fijado el NCA como la calidad requerida para la calidad promedio del
proceso, debe establecerse el nivel de inspeccin, considerando cul es la calidad que debe
tener una lata probabilidad de rechazo si se presentara en forma de un lote aislado con ese
nivel de calidad. Puede buscarse entonces un nivel de inspeccin que proporcione la COC,
requerida para este fin, cuando el tamao del lote queda dentro de los lmites que
usualmente se esperan.
Ejemplo 30: Se ha seleccionado un NCA de 1.5% de defectuosas y se desea tener
menos de un 80 % de probabilidades de rechazo para un lote de 6% de defectuosas si dicho
lote se presentara mientras se est aplicando la inspeccin normal. Al ver las COC en las
tablas X, se encuentra que las letras clave de la A a la J no se ajustan a los requisitos. La
letra clave K casi se ajusta en forma precisa a los requisitos, de hecho la probabilidad de
rechazo de 6% de defectuosas es ligeramente inferior al 80% pero tiene la suficiente
aproximacin para fines prcticos. Las letras clave de L a P exceden los requisitos.
Supongamos que el tamao de muestra que normalmente se espera es de 1000. Puede
entonces especificarse el nivel de inspeccin III, ya que ste proporciona la letra clave K
para un tamao de muestra de 1000. Si en una etapa posterior se aumenta el tamao del
lote, el nivel de inspeccin especificado pudiera requerir que se utilizaran letras posteriores
a K en el orden alfabtico. Esto es satisfactorio ya que significa que se est utilizando en
forma adecuada el aumento en el tamao del lote para reducir los riesgos de aceptacin de
lotes malos o de rechazo de lotes buenos. Desde este punto de vista, no hay necesidad de
establecer un lmite superior al tamao del lote (aunque habr seguramente necesidad de
este lmite por otras razones). Se requiere sin embargo un lmite inferior a fin de asegurar
que no se utilicen las letras clave anteriores a K en el orden alfabtico. Para el nivel de
inspeccin III, el lmite inferior del tamao del lote no debe ser inferior a 501 para asegurar
el uso de la letra K.
Ejemplo 31: Se ha seleccionado una NCA de 0.40% de defectuosas. Para lotes de 10
000, se requiere tener una probabilidad de por lo menos un 95% de rechazo en caso de que
se presentara un lote con 1% de defectuosas, cuando se est usando la inspeccin normal.
Al ver las COC para el NCA de 0.40, se encuentra que an la letra R no se ajusta a los
requisitos, debemos entonces preguntarnos si estos requisitos son realmente necesarios. Si
se decide que s lo son entonces el nico camino es hacer el NCA ms riguroso. Una vez
que se hace ms riguroso a 0.25% de defectuosas, se ve que la letra R se ajusta a los
requisitos.
Sin embargo, ninguno de los niveles de inspeccin de la Tabla I proporcionan la letra clave
R para un lote de 10 000. Es necesario especificar la letra clave como tal, en lugar de
especificar un nivel de inspeccin.
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Debe hacerse notar que los niveles de inspeccin que se proporcionan no son los nicos
niveles de inspeccin posibles y algunas veces puede ser necesario especificar un nivel
"especial" de inspeccin para una ocasin en particular. Un ejemplo para dicho nivel
"especial" lo constituye una letra clave constante para cualquiera que fuera el tamao del
lote, si se requiere siempre una curva de forma determinada como el ejemplo 31.
Ejemplo 32: Una organizacin externa de inspeccin est actualmente
inspeccionando la produccin de dos fabricantes A y B. Se propone aplicar la inspeccin
por muestreo utilizando un NCA de 1% de defectuosas en lugar de la inspeccin de 100%.
El fabricante A produce lotes de aproximadamente 4000 artculos con una calidad
promedio de proceso de 0.8% de defectuosas. Ocasionalmente, sin embargo, se encuentran
lotes que alcanzan hasta un 4% de defectuosas.
Para ayudar a la seleccin del nivel de inspeccin, se estudian las OOC para los niveles
generales de inspeccin I, II y III (figura 11). Se decide que se requiere una mayor
seguridad de la que se proporciona con el nivel II (200 Ac 5, Re 6) como proteccin contra
la aceptacin de lotes que contengan 4% de defectuosas. De acuerdo con esto, se selecciona
el nivel III y se utiliza el plan (375 Ac 7 Re 8
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NCA NO PREFERENTES.
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De la misma manera procedemos para planes de muestreo doble o mltiple, as como para
inspeccin rigurosos o reducido.
Usando el mismo ejemplo anterior vemos que el plan de muestreo sencillo para inspeccin
reducida es:
Para el mismo ejemplo anterior vemos el plan de muestreo doble para inspeccin normal.
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c)
c)
d)
e)
f)
g)
h)
i)
Adems, si se desea, puede especificarse el tipo de plan de muestreo (sencillo, doble, etc.)
pero esto no es indispensable. Si va a llevarse a cabo la produccin en lotes aislados
pudiera ser preferible entonces el especificar el valor de la calidad lmite en lugar del valor
del nivel de calidad aceptable.
42.
NOMOGRAMAS.
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Estos diagramas no sustituyen a las tablas, pero pueden ser interesantes en el sentido de que
se muestran las relaciones entre las diferentes cifras y algunas veces pueden ser tiles al
proporcionar en forma ms condensada alguna informacin de la que comprenden las
tablas.
Para utilizar la figura 12 supongamos que deseamos saber que tamao de muestra
corresponde a la letra clave H, en caso de que se utilice un muestreo sencillo y una
inspeccin normal. Una lnea recta a travs de la figura, que vaya desde el punto marcado H
sobre la escala del lado izquierdo, hasta el punto marcado sencillo (Normal o Rigurosa)
sobre la escala del lado derecho, cruza a la escala central en un punto marcado con el
nmero 50, que constituye por lo tanto el tamao requerido de la muestra.
NOTA:
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43.
BIBLIOGRAFIA.
MIL-HDBK-53-1954
ISO 2859 1974
MIL-STD-105 D-1963
44.
Mxico, D.F. a