La fotoelasticidad se basa en la propiedad de birrefringencia que presenta

ciertos materiales transparentes y elsticos, cuando se someten a un estado

tensional al paso de luz polarizada. Asi, para estudiar una estructura mediante
fotoelasticidad, se hace un modelo a escala de la misma con dicho material, se
le aplica un estado de cargas proporcional al original, y el estado tensional se
deduce del anlisis de las lneas que aparecen sobre el modelo, que se puede
extrapolar a la estructura original mediante las correspondientes formulas
ptico-tensionales y de semejanza.
Por su complejidad, el mtodo fotoelastico normalmente se limita al anlisis
experimental de modelos sometidos a un estado tensional elstico plano, es
decir en solidos en los que existe un plano director cuyo estado tensional se
repite en todos los planos paralelos a el. En estos casos, una de las direcciones
principales rea perpendicular al plano director y las otras dos estarn
contenidas en el mismo, siento las tres perpendiculares entre s.
En la vida real, el fallo de los materiales por sobreesfuerzo es algo tan
frecuente como econmicamente indeseable. Este mtodo permite identificar,
entre otras cosas, las zonas de mxima y minima tensin, la orientacin de las
direcciones principales en cada punto, o los puntos del borde libre del modelo
sometidos a traccin o compresin, lo que permite dimensionar
adecuadamente la estructura objeto de estudio.
http://books.google.com.mx/books?
id=mQaEIAL5z6MC&pg=PA57&dq=fotoelasticidad&hl=es&sa=X&ei=EAHVP6tNZDHgwTywIKwCw&ved=0CBoQ6AEwAA#v=onepage&q=fotoelasticida
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http://books.google.com.mx/books?
id=OPUXb1L2cZUC&pg=PA159&dq=extensometria&hl=es&sa=X&ei=HukHVIa
5F9DzgwTli4KQAw&ved=0CCEQ6AEwAQ#v=onepage&q=extensometria&f=fal
se
http://books.google.com.mx/books?
id=mQaEIAL5z6MC&pg=PA5&dq=extensometria&hl=es&sa=X&ei=HukHVIa5F
9DzgwTli4KQAw&ved=0CDAQ6AEwBA#v=onepage&q=extensometria&f=false