ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension rtioulos accede atieulos Seiptio 0 Ingenieria Energética versién ISSN 1815-5901 Mi SciELO Ingenieria Energética vol.34 no.2 La Habana mayo-ago. 2013 GG Serdcios personalizados APLICACIONES INDUSTRIALES Servicios Personalizados artieule Anilisis estadistico de la caida de tensién en un + stauloon oF sistema eléctrico de baja tensién Bi Aiculoen sa [Dy Referencias del artculo Statistical analysis of the voltage drop in a low voltage Bi Como citar este arteulo electrical system {i Envararteulo por emai Indieadores: Links relacionados Msc. Juan M. Astorga Gémez Bookmark Instituto Tecnolégico, Universidad de Atacama, Copiapé, Chile RESUMEN En este trabajo se presenta un enfoque estadistico para la evaluacién de la caida de tensién en un sistema eléctrico de baja tensién, basado en la aplicacién de dos herramientas basicas del control estadistico de procese conocidas como cartas de control y andlisis de capacidad de procesos. Se muestran los resultados para dos sistemas de prueba, se realizan las pruebas de normalidad y autocorrelacién parcial para las muestras, se interpretan los resultados de las cartas de control Xbarra-S y se evalia la capacidad del proceso considerando las bases del mejoramiento de la calidad. Los sistemas de prueba usados en este trabajo son un sistem eléctric: monofasico de baja tensién y un sistema eléctrico trifésico de baja tensién, El objetivo principal de este trabajo es evaluar el estado de control estadistico de la variable de proceso “caida de tensién", como herramienta para « mejoramiento continuo de los procesos eléctricos, Palabras clave: andlisis de capacidad de procesos, caida de tensién, cartas de control Xbarra-S, control estadistico de procesos. ABSTRACT This paper presents a statistical approach for the evaluation of the voltage drop in a low voltage electrical system, based on the application of two basic tools of statistical process control known as control charts and process capabilty analysis. The results for two test systems are shown, testing of normality and partial autocorrelation for samples are performed, the results of the control charts Xbar-S are interpreted and the process capability analysis are assessed considering the foundations for the quality improvement. The test systems used in this work are one electrical system single-phase low voltage and one electrical system of three phase low voltage. The main objective of this paper is to evaluate the state of statistical control of the process variable "voltage drop", as a tool for continuous improvernent of the electrical process. Key words: process capability analysis, voltage drop, Xbar-S control charts, statistical process control hipuscieo.ldculsieo php ?scriptssc_artepid=S1815:590120130002000078ing sesBinem=iso snoramao Ingenieria Energiica Andis estacstica dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension INTRODUCCION Uno de los principales indicadores que permite medir la eficiencia de una instalacién eléctrica en un sisterra de istribucién de baja tensién es la caida de tensién.La caida de tensién en una instalacién eléctrica corresponde la diferencia entre el voltaje del lado fuente y el voltaje del lado carga [1] y depende de la longitud del alimentador, de la seccién del conductor y de la corriente que circula desde la fuente hacia la carga. Se puede obtener la caida de tensién para un sistema monofésico o trifésico usando las ecuaciones (1) y (2), respectivamente. Pig = Lig Eq Roos 84+ Ky Keone V) 0 PDsq = Iyg( Roose + Xsen)L V) a En la ecuacién 1, VDyg es la caida de tensién para un sistema monofasico (en Volt), Ixq es la corriente que circula por un allmentador rranofdsico (en Ampere), Ke y Kx son factores de correccién que dependen del grado e utilzacién de la corriente que circula por el neutro, Res la resistencia del conductor (en 2/km), X es la reactancie del conductor (%/Km), 0 es el éngulo de la impedancia del conductor (en grados) y Les la longitud de conductor (en Km). Para sistemas con neutro aterrizado se tiene que Ke = Kx = 2 [1]. En le ecuacién 2, VOao es la caida de tensién para un sistema trifésico (en Volt), 139 €s la corriente que circula por un alimentador trifésice (en Ampere), Res la resistencia del conductor (en 2/Km), X es la reactancia del conductor (en 0/Km), 8 es el Angulo de la impedancia del conductor (en grados) y L es la longitud del conductor (en Km). En Chile, los sistemas eléctricos de baja tensién (entiéndase por baja tensién aquellos voltajes menores o iguales {que 1.000 Volt) estan regulados por la Norma Eléctrica Chilena 4/2003, en ella se indica, en la seccién 7.1.1.3 qu la caida de tensién no debe superar el 3% de la tensién nominal de la alimentacién, siempre que la caida de tensién total en el punto més desfavorable de la instalacién no supere el 5% de la tensién nominal [2]. Dada ests condicién, los sistemas eléctricos de baja tensién se disefian para que la caida de tensién no supere el 3% del voltaje nominal, haciendo necesario monitorear y controlar la caida de tensién dentro de este rango de variabilidad de tal modo de garantizar la calidad de suministro hacia las instalaciones. B articulo se desarrolla de la siguiente manera. En la primera parte del desarrollo se presentan las caracteristicas principales de las cartas de control Xbarre-S (considerando que en este trabajo los registros se ordenaron en 24 subgrupos) y de los indices de capacidad de procesos, en la seccién siguiente se describen los sistemas de prueba que se utiizaron para la adquisicién de datos y tora de muestras, luego se presentan los principales resultados obtenidos del procesamiento de datos utilizando el software estadistico de distribucién libre R, finalmente, se exponen las principales conclusiones de la investigacién, DESARROLLO CARTAS DE CONTROL Las cartas de control fueron introducidas en 1924 por W.A, Shewhart de los laboratorios Bell Telephone [3], con el fin de monitorear el valor medio de la caracteristica de calidad y la variablidad del proceso, de tal modo de atribuir les variaciones detectadas durante el registro de las observaciones a causas aleatorias o a causas, asignables [4]. Para el control de variables ordenadas en subgrupos es aconsejable trabajar con cartas de contr tipo Xbarra-R 6 Xbarra-S. Las cartas de control Xbarra-S son muy tiles cuando el tamasio de los subgrupos es mayor que 12, ya que permite reflejar de mejor manera el comportarriento de la variabllidad del proceso [4]. Las ecuaciones (3) y (4) permiten calcular los parémetros de las cartas Xbarra y S, respectivamente [4] -€- - ca F aS gy 4 zn 8-8. ipuscieo.ldculsieo php tscrptssc_artepid=S1815:590120130002000078Ing =es8inem=iso 20ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension En las ecuaciones (3) y (4) UCL, CL y LCL son los limites de control superior, central e inferior, respectivamente, c4 es una constante que depende del tamasio del subgrupo, n es el numero de subgrupos, X barra barra es la media de las medias de los subgrupos, S barra es la media de las desviaciones estndar de los subgrupos y las constantes A3, 83 y By son factores de construccién de las cartas de control X barra ~ S. La flaura 1, muestra una carta de control Xbarra - S tipica, enero de auberoaos mere de suborpen Fig.t. canse de certolx oars 5. ANALISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS. El anilisis de capacidad de procesos, es una herramrienta estadistica que permite estudiar la variabilidad de la “variable de proceso” con respecto a los requerimientos de las especificaciones del producto considerando los, limites de las especificaciones, el valor nominal (o Target) y la distribucién de la muestra. La figura 2, muestra ur grafico tipico para el andlisis de capacidad de procesos, donde LSL corresponde al limite inferior de las especificaciones, corresponde al valor medio del proceso, T es el valor nominal o Target y USL es el limite superic de las especificaciones, Lst nor ust. ig. 2. Grifea pica para el andlsis de capacided de provesce, Para estudiar el desempefio de un proceso se utilizan algunos indices introducides por Victor E. Kane en 1986 [5 estos son: indice de capacidad potencial del proceso Cp, indice de capacidad real del proceso Cp, y el indice de centrado del proceso K, ademis, es comin incluir en el andlisis de capacidad de procesos el indice de Taguchi (Cpm), introducide por G, Taguchi en 1985 [6] indice cp El indice de la capacidad potencial del proceso Cp, compara la variacién de las especificaciones del proceso con variacién real observada. Se obtiene al dividir el ancho de las especificaciones entre la amplitud de la variacién natural del proceso como se muestra en la ecuacién S. c USL — LSE B 6a 5 Donde o representa la desviacién esténdar del proceso. En la tabla 1, se describe la categoria de la calidad del proceso, segun el valor del indice Cp [7] ipuscieosidculscieo php ?scriptse_ertentpid=S1815:590120130002000078ing =esBinem=is0 a0ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension Tabla 4. Ineraretacn del ncicw de cves0 Co Indice | Categoria | Interpretacién Ch22 | Clase | Seiene calidad Seis Sigme, Mundial Cpe 1.33 1 Adecuado, se puede rocueirla inspeccién, TeCpe133 | Clase2 | Parcislmente adecusdo, os sufcionte la mspeccién por muestreo OB7t el proceso cumple con las especificaciones y la media se encuentra dentro de la tercera ipuscieosidculscieo php ?scriptse_ertentpid=S1815:590120130002000078ing =esBinem=is0 410ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension parte central de la banda de las especificaciones. Si Cpm>1,33 el proceso cumple con las especificaciones y la media se encuentra dentro de la quinta parte central de la banda de las especificaclones, PRUEBAS DE NORMALIDAD Y AUTOCORRELACION PARCIA, Para aplicar la teoria de cartas de control y el andlisis de capacidad de procesos es necesario realizar las prueba de normalidad y de autocorrelacién parcial sobre las muestras [4]. La primera prueba tiene por objetivo validar la aceptacién de la hipétests de normalidad para el conjunto de datos en estudio, mientras que la segunda prueba tiene como fin probar si existe dependencia entre las observaciones de las muestras. En este trabajo, se utiliza € software de distribucién libre R [8], especificamente, las herramientas del Test de Normalidad de Shapiro-Wilk [9, el paquete "plugin e-pack" para la prueba de autocorrelacién parcial y el paquete "plugin qcc" para el andiisis de capacidad de procesos y cartas de control. Una vez procesados los datos en el software R, los criterios de aceptacion de los test de norrralidad y autocorrelacin parcial serén los siguientes: ~ Se aceptard la hipdtesis de normalidad cuando el p-valor sea mayor que 5%, es decir, cuando p-value > 0.05 [4]. ~ Se aceptard la Independencia de las observaciones mientras el factor de autocorrelacién parcial (partial ACF, representado por barras verticales en el gréfico que entrega el software R) se encuentre dentro del rango e las bandas de confianza del 5% [4] RESULTADOS DEL SISTEMA DE PRUEBA MONOFASICO B sistema de prueba monofésico se desarrollé como piloto en el laboratorio de circuitos eléctricos de la carrera d Tecnélogo en Electricidad del Instituto Tecnolégico de la Universidad de Atacama y se estructuré de la siguiente manera: Vp (fuente de tensién de corriente altema 220V RMS, 50 Hz), Rc y Xc (carga de prueba tipo resistiva inductiva), R y X (conductor de alimentacién N°14 AWG) y Medida (Registrador marca HIOKI modelo 3286-20).Ve figura 3. Fig. 3. Circuito etcticomonotésico de medicién yreuisto Las observaciones se tomaron durante § dias consecutivos, de lunes a viernes, con tiempos de muestreo de una hora. En la tabla A.1, del Anexo A. "Datos sistemas de prueba”, se muestran los registros de voltaje del sistema monofasico para los dias lunes a viernes. La tabla 3, muestra los resultados del p-valor pare cade dia de registro luego de aplicar el Test de Normalidad de Shapiro-Wik a las muestras de voltaje usando el software R [8] ‘Tabla 3. Resutados cel Test ce Normaldad ce Srapvik cara lamuastra menatasica. Lunes | Maries | Miércoles | lueves | Viemas | bawa pralor C2084 | O1040 | 04976 | OSr2t | 07255 | 07254 ipuscieosidculscieo php ?scriptse_ertentpid=S1815:590120130002000078ing =esBinem=is0 510ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension Fig. 4. srSnea det tacior de autocoralacon parcial (paral ACF) muestra monorasics. la figura 4, muestra los resultados gréficos del comportamiento del factor de autocorrelacién parcial (partial ACF para la muestra monofésica de voltaje. Al observar los resultados de le tabla 3 y de la figura 4 se puede concluir ue la hipétesis de normalidad se acepta y que las observaciones de la muestra monofésica de voltaje son Independientes, por lo cual, podernos construir las cartas de control X barra-S. Figura 5. carta X barra mes 6 armen Ferete siete seetetie THETA TTT TT TAIT Pas TIN HHT HAD ras7Teuhenona co 09 Fig. 5. Gtétca de contol x barra § para la musta monorasica, ipuscieosidculscieo php ?scriptse_ertentpid=S1815:590120130002000078ing =esBinem=is0 10ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension En la figura 5, se muestran las cartas de control X barra- $ para la muestra ronofésica, consideranco 24 subgrupos para 5 dias de medicién consecutiva, En la figura 6, se muestra el comportamriento del proceso frente los limites de especificaciones de voltaje, que para este caso, corresponden a LSL=213,4{V) y USL=220(V), segt lo sefialado por la Norma Eléctrica Chilena 4/2003 [2]. Para procesos con limites de especificacién bilaterales, es comin asumir come valor nominal o Target la media de los limites de especificacién [10], de acuerdo a esto, el valor Target para el sistema de prueba monofasico seria 216,7 (V). Process Capabity Anaiysis fer-sampledata amor onee 20 Two 2107 Cp =O Ea tm, Seton tetm' Gacthe Gedseee m2 mete a Src 6. Analog do capscidad de grococo para larmuactramonetieics ANALISIS DE RESULTADOS DEL SISTEMA DE PRUEBA MONOFASICO La tabla 4, muestra un resumen con la interpretacin de los resultados del sistema de prueba monofésico. ‘Tabla 4. Andicis de reeultadoe del eletoma de proobamanotiice, prvalor ‘Segin lo obsarvado en la iatla 3, ol p-valor para cada dia de muestreo es Frayor cue 0,05, por lo tark, Is hpatesis de narmalidad se acapta, Patial ACF De acuerdo con ls figura, el factor Partial ACF para cada dia de muesireo se encuentra dentro del interval de confamza, por lo tanto, las cbservacianae son inde pancie tes. Cara Xbera | Al ebcorvar la figura , co puode apreciar gue [a abcervacion F°3 cobrepasa tl limte de cont cupanar, aor lo tanto, la variskle de procese vokaje so encuentra fuera de control estadistica, Canes ‘Al observat Ia figura 6, o8 puede apreciar que todas las observaciones se encuentran dantro de los limtas do control, por lo tanto, la variabiidad del proceso se en Op=0644 | Capacidad muy mala, Coke 215 El proceso no cumple, por lo menos, una de las especifcaciones. BO1% | Problemas seros de centraizacion nevatva Gan 218 El procesc no cumple las especticaciones por erablemas de centralzacié, RESULTADOS DEL SISTEMA DE PRUEBA INDUSTRIAL TRIFASICO la carga de prueba industrial que se usé para el muestreo, corresponde a una planta metalirgica de la mediana mineria de la regién de Atacama, ubicada en la cludad de Copiapé, Chile. El sistema de muestreo se describe en « Giagrama unilineal de la figura 7. 23/0.4 kv [M Carga ‘SOOKVA, Industria |. T. Diagram untingal do recisiony registre para el sctama do pra tritacic. Las observaciones se tomaron durante 7 dias consecutives, de lunes a domingo, con tiempos de muestreo de un hipuscieo.ldculsico php ?scrptssc_artepid=S1815:590120130002000078Ing =es8inem=iso m0ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension hora para cada una de las tres fases en el lado de baja tensién (400 Volt) del transformador. La carta X barra - queda constituida por 24 subgrupos que representan las 24 horas y 7 muestras que representan los 7 dias de registro. En la tabla A.2 del Anexo A. "Datos sistemas de prueba’, se muestran los registros de voltaje del sistem trifésico para las tres fases. La tabla 5, muestra los resultados del p-valar para cada dia de registro y para cada fase, luego de aplicar el Test de Normalidad de Shapiro-Wik usando el software R [8]. Al observar los resultados ce la table 5 y de la figura 8, se puede concluir que la hipétesis de normalidad se acepta y que las observaciones de la muestra trifésica de voltaje para cada fase son indepen dientes, por lo cual, podemos construir las cartas de control X barra-S para cada fase. De la tabla 5, se puede observar que todos los valores de p-valor son mayores que 5%, lo que indica que la hipétesis de normalidad para las muestras trifasicas se acepta. De la fiaura 8 se puede concluir que las observaciones no estan correlacionadas, por lo tanto, las muestras son independientes. De las figuras 9 y 10 se puede observar que todas las observaciones se encuentran dentro de los limites de control, por tanto el proceso se encuentra dentro de control estadistico tanto para la media de los voltajes como para la variabilidad de las muestras. ‘Tabla 5. Rosutodos dl Toct do Nomalots de Shap Wik para moet itéoiea ee eee ee Paw [EAE | Va | Seve | Come [Saas | wore | eae | OR R ral feae | CRED | CARRE | ORE | OED | OBEEK| Gems | OBE | OR | Polaris | D203 | 09377 | 0,141 | 08528 | ‘Ogre | 0.6912 28 | 3705 | Ena figura 11, se muestra el comportamiento del proceso frente a los limites de especificaciones de voltaje trifésico, que para este caso, corresponden a LSL=388(V) y USL=400(V), Seguin Io sefalado por la Norma Eléctric Chilena 4/2003 [2]. Para procesos con limites de especificacién bilaterales, es comin asumir como valor norrinal Target la media ce los limites de especificacién [10], de acuerdo a esto, el valor Target para el sistema de pruek trifésico seria 394 (V). ANALISIS DE RESULTADOS DEL SISTEMA DE PRUEBA TRIFASICO La tabla 6, muestra un resumen con la interpretacién de los resultados para cada fase del sistema de prueba trfasico, Tabla 8, Andis de resultatos delsistema oe prueba tiésien Interpretacion fase |_ Muy baja variabilded, selene calidad Seis Sigma | fase La media dol procece ce encuenira fuera de las aepecificaciones. K=156,2% fase | Problamae orios de contralizacion ne gativa, Com=i.214 ; fase | El proceso no cumple las esveciicaciones por problemas de R Certralizacién, CpaZ 6 | oo S| Muy bojavaribitdad, oe tere calidad Soe Syma ‘| Cok=-0514; fase S | La media del proceso se encuentra fuere de las esrecificaciones. | K=125,8%_, fase S| Problemas serios de ceniraizacion negativa | fase S El proceso no cumple las especiicaciones por problemas de centralzacin fase T Muy baja vatiabiidad, se iene calidad Seis Sigma faseT La media del proceso se encuentra fuera de las especificaciones._| | fase T | Problemas cenies de centralizacien negativa, fase T | El proceso no cumple las especiicaciones por problemas de Gontialzacién CONCLUSIONES Al estudiar la muestra monofésica de voltaje se puede concluir que aunque el valor medio de caida de tensién (214, 52 V) se encuentra dentro del rango establecido por la norma eléctrica chilena [2], el proceso se encuentr fuera de control estadistico ya que en la carta X barra se encontré una observacién que supera el limite superior ce control. Con respecto a las muestras trifésicas se puede concluir que el proceso caida de tensién se encuent! ipuscieo.sidculscieo pp ?scrptssc_artetipid=S 1815-590120190002000078Ing =es8inrm=Is0 a0ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension bajo control, aunque ninguna de las fases cumpla con una caida de tensién menor que el 3% del voltaje nominal Al considerar lo sefialado por la norma eléctrica chilena [2], respecto de la caida de tensién en el punto més desfavorable, las fases Ry $ curmplen con una caida de tensién menor que el 5% del votaje nominal, Los problemas en la muestra trifasica se presentan en el incurplimiento de los limites de las especificaciones de voltaje y en la excesiva descentralizacién hacia la izquierda de las muestras, aun cuando el indice de capacidad Cp es mayor que 2 [7], lo cual implica que el proceso tiene una calidad tipo Sels Sigma (esto es debido a que la variabilidad de la variable voltaje en las tres fases es muy baja). Luego de realizar el andlisis estadistico de la caida de tensién para la muestras monofésicas y trifésicas se puede recomendar establecer algtin tipo de regulacién de voltaje para llevar la media del proceso al valor Target, de este modo, el proceso mejora aumentando su categoria en capacidad potencial, reduce los costos de explotacién del sistema eléctrico debido la descentralzacién y aumenta su calidad por el cumplimiento de las especificaciones. El andlisis estadistico de lz caida de tensién llevado a cabo en este trabajo permite esbozar las directrices y acciones que permiten la mejor el proceso ligado a la calidad del suministro eléctrico. Este tipo de enfoque se puede aplicar al estudio de otras variables eléctricas como potencia, factor de potencia y a otras relacionadas directamente con la calidad de suministro eléctrico coma los son Pst y THD. REFERENCIAS 1, GONEN TURAN, "Electric Power Distribution System Engineering", McGraw-Hill, 1986, ISBN 0-07-023707-7, 2. "Electricidad. 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Ingeniero Eléctrico, Magister (c) en Ciencias con mencién en Estadistica Industrial, Profesor Asistente, Instituto Tecnolégico, Universidad de Atacama, Copiapé, Chile. e-mail: juan.astoraa@uda.cl ipuscieo.ldculsieo php tscrptssc_artepid=S1815:590120130002000078Ing =es8inem=iso a0ramao Ingenieria Energiica Andis estacstico dela calda de ensén en un sister eéctrico de baja tension ANEXO A. DATOS SISTEMAS DE PRUEBA Tabla At: “Datos sistema de prueba monofé Hora |_Lunes || Marios | ‘alos |_Juowes | Viernes _| o00 212821 2154 213) 2168 ton 71332118 2134 2132 | 242 200 2125 2196 2192 | 2168 200 2118 2126 2137) 2139 10021) atae | ae | aia) ata Son 21382138 2138 piaa| 24s 500 21372137 2154 2121 | 2125 7002152 __216,t 2182 2152) 2145 00211, a) oras | ag | aes | 00 21Rr ane 2124 2146) 2138 000216321586 2163 24 2143 100214220 2034 21a | 24a au ae tay |e | Sa | ates | yao ar ana 24 2188) 2 Teno 218s tae 2187 pay) 2188 4600 2tg 2128 2184 2189) 2102 jeu ae até? | aa |e | aa | roo iat ata | ta 2? 2149 yan 21572128 2184 Bag | 16,2 Yano 21402174 2127 2128 | 21753 uuu ar atat | et] ates | atest | poo) 2ns aaa |e |g | aaa | “mon 2ina 2152 2188 B11 | 217.2 [x00 2127 2163) 26,1 24a | 2188 Todes los velares dela tabla A.1 medidas en Volt RMS, © 2014 Facultad de Eléctrica, Instituto Superior Politécnico José Antonio Echeverria, Cujae Calle 114 #11901, entre 119 y 127. Marianao.15, La Habana - Cuba. CP 19390 Mail ipuscieo.ldculsieo php tscrptssc_artepid=S1815:590120130002000078Ing =es8inem=iso