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Temario Metrologia ADVANCED
Temario Metrologia ADVANCED
NTP-ISO/IEC 17025
CHARLA DE CAPACITACIN
METROLOGIA - CALIBRACIN
- Noviembre 2013 TEMA :
g) valor nominal
h) correccin
i) calibracin
j) ajuste
k) tolerancia,. otros
f) exactitud
5. Caractersticas metrolgicas de instrumentos de medicin.
5.1.
Caractersticas importantes
- Clase
- Exactitud
7. Instrucciones para el uso de los instrumentos
7.1. . Importancia
a) ubicacin
b) fija miento
c) condiciones ambientales
d) manipulacin
e) instructivos Otros
8. Documentos de Calibracin.
a) Certificado de calibracin
b) Informe de Calibracin
9. Mantenimiento.
a) Mantenimiento Preventivo
b) Mantenimiento Correctivo
10. Intervalos de re calibracin.
11. Conclusiones
Jr. Tnte. Arstides del Carpio N 1626 Urb. Los Cipreses Cercado de Lima
ventas@ametrology.pe
www.ametrology.com
564-5492
CALIBRACION CERTIFICACION
NTP-ISO/IEC 17025
12. Condiciones :
Duracin
Requerimiento
:
:
Dirigido
Nmero de personas
Fecha
Lugar
:
:
:
3 horas.
Ambiente para la exposicin con proyector.
(Coordinar si no tienen)
Personal de rea de calidad y/o Jefes de Laboratorio,
Mantenimiento, planta y Control/fines.
5 a 8 personas
Noviembre, de 2013 (previa coordinacin)
Previa Coordinacin.
13. Entrega :
14. Costo :
Coordinacin con ventas-comercial.
-------------------------------------------Ponente :
Juan Augusto Feijo Lvano, Licenciado Fsico de la Universidad Nacional Mayor de San Marcos.
Post. Grado en Maestra en Gerencia de la Calidad y Potencial Humano de la Universidad
Nacional del Callao, Post. Grado en Diplomado en especialidad de Metrologa en el SNMINDECOPI. Post. Grado ltimo ciclo de Doctorado en Administracin. Colegiado del Instituto de
Colegio de Fsicos del Per. Alta experiencia en el rea de Metrologa. Actualmente ocupa el
cargo del rea del Aseguramiento de la Calidad de la Empresa de Servicio Metrolgico Advanced
Metrology S.A.C. Publicaciones en Materiales Superconductores a nivel Nacional e Internacional.
Jr. Tnte. Arstides del Carpio N 1626 Urb. Los Cipreses Cercado de Lima
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