MICROSCOPIO DE FUERZA ATMICA

Csar Sandoval

INTRODUCCIN

FUNDAMENTOS DE LA MICROSCOPIA DE FUERZA ATMICA

Posee una punta aguda , generalmente de

unas pocas micras de longitud y un dimetro
inferior a los 100

Funcionamiento general del AFM

Con ayuda de un ordenador, la punta se

aproxima lentamente ala muestra situada
sobre un escner piezoelctrico, el cual
realiza un movimiento vibratorio en las
direcciones X e Y.

Elementos principales de un AFM

Depende de 3 elementos

fleje

Escner piezoelctrico

Cambian de dimensiones en
respuesta

un

voltaje

punta

Fabricados a partir de

La

polvo

puede tener una longitud

cermico

lnea

de

barrido

aplicado .

titanato de plomo y

comprendida

Pueden disearse para que

zirconio al que se le

varias

realicen

aaden determinados

angstroms hasta mas de

dopantes

100 micras.

un

movimiento

deseado en las direcciones

X,Y y Z.

decenas

entre
de

Fuerzas involucradas en la

Modos de operacin

generacin de imgenes de AFM

Tenemos:

De contacto ( repulsivo): se produce un

Existen distintos tipos de fuerzas,

contacto fsico suave entre la punta y la

pero

muestra

las

ms

importantes

son:

Fuerzas de van der Waals, de

De no contacto: la fuerza existente

carcter atractivo y, las columbianas,

entre la punta y la muestra es muy baja,

de carcter repulsivo.

por lo que es adecuado para el estudio

de muestras elsticas o blandas.

Contacto

intermitente:

la

distancia

punta-muestra es algo menor que en el

de no contacto, por lo que slo se
produce un ligero contacto entre ambas.

Celda de fluidos
Los SPMs presentan ventajas fundamentales con respecto a los
microscopios electrnicos de barrido los cuales deben operar en alto vaci
para evitar que los electrones resulten desviados.

Para trabajar con lquidos en un SPM es necesario incorporar como

accesorio una celda de fluidos como la que se muestra en la siguiente
figura.

http://www.iem.csic.es/c-iem/ciem09/charlas/2009_FisicaMacromolecular_2.
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