Cartas de Control

Administracin por Reaccin y cartas de control:

Existen empresas que reaccionan y actan ante cambios o situaciones
adversas.

Por ejemplo reaccionan frente a:

Disminucin de las ventas
Cancelacin de pedidos
Deterioro de la calidad
Lotes rechazados
Reclamos y quejas de clientes
Retraso de la produccin
Accidentes de trabajo
Nuevos productos de la competencia
Fallas en el equipo
Problemas con proveedores
Etc.
Causas comunes y causas especiales de variacin:

Vivimos en un mundo de variabilidades.

Son variables: los gastos mensuales de la empresa, la calidad del
producto final, los materiales, las mquinas, el medio ambiente,
temperatura de proceso, etc.

La variabilidad puede ser de dos tipos: variacin o cambios debido a
causas comunes y variacin debida a causas especiales.

Variacin debida a causas comunes (al azar):

-Permanece constante da a da, lote a lote, es parte del sistema:
materia prima, mtodos, procesos, etc.

- Son difciles de identificar y eliminar, representan para el largo plazo
una oportunidad de mejora.
Variacin debida a causas especiales (o atribuibles):

- Es algo especial, no forma parte del sistema de causas comunes..

- Las causas especiales por su naturaleza pueden ser identificadas y
eliminadas. Ej: falla ocasionada por el mal funcionamiento de una pieza
en una mquina.
Un proceso que trabaja solo con causas comunes de variacin
se dice que est en control estadstico (o es estable), independiente
de su variabilidad.

Un proceso en el que estn presentes las causas especiales de
variacin se dice que est fuera de control estadstico (o inestable).


Estos dos tipos de variabilidad llevan a cometer dos tipos de
errores en la gestin cotidiana en las empresas:

ERROR 1: Reaccionar ante un cambio como si viniera de una causa
especial, realmente la variabilidad es debida a causas comunes.

ERROR 2: Tratar un efecto o cambio como si proviniera de causas
comunes de variacin cuando en realidad es una causa especial.
ELEMENTOS BASICOS DE UNA CARTA DE CONTROL

La idea es observar y analizar grficamente el comportamiento de una
variable sobre el tiempo.
Consta de:

-Tres lneas paralelas con una escala comn X en la parte izquierda.
- Una escala cronolgica o tecnolgica.
- puntos consecutivos que se unen con una lnea.
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
1 2 3 4 5 6 7 8 9
Muestra o escala tecnologica
V
a
r
i
a
b
l
e
s

d
e

X
LC superior = 13.5
LC inferior = 7.5
La lnea central de una carta de control representa el promedio de la
variable que se est graficando.

Las otras dos lneas se llaman lmites de control, (superior e inferior)
que se encuentran en una posicin que:

-El proceso est bajo control estadstico.

-Hay una alta probabilidad de que los puntos se encuentren dentro de los
lmites.


Si un punto est fuera de los lmites es seal de que el producto est
fuera del control estadstico.

Los lmites de control son estimaciones de la amplitud de la variacin
natural de la variable (Promedio, rango, etc.).
En un diagrama de control no solo se observa si los puntos se
encuentran dentro de los lmites de control sino adems; cualquier
formacin o patrn de puntos que tenga poca probabilidad de ocurrir
en condiciones normales.

TIPOS DE CARTAS DE CONTROL:

Existen dos tipos de cartas de control, para variables y para Atributos.

Las cartas para variables se aplican para caractersticas de calidad de
tipo continuo (pesos, volmenes, longitudes, T, humedad, etc.)

Cartas mas usuales:
_
X (Promedios)
R (Rangos)
S (Desviacin estndar)
X (medias individuales)
Las cartas para atributos se aplican para la cantidad de defectos o no
conformidades que posee el producto.

Cartas mas usuales:

p (Proporcin o fraccin de artculos defectuosos)
np (Nmero de unidades defectuosas)
c (Nmero de defectos)
u (Nmeros de defectos por unidad)
__
CARTA DE CONTROL X - R
Ej: las dimensiones de una pieza deben ser de 10 cm, con una
tolerancia de 0,2 cm.

Las medidas de tendencia central debe estar prximas a 10 y
su variabilidad debe ser tal que todas las piezas se encuentren entre 9.8
y 10.2 cm.

Mediante una carta de control X se controla la tendencia
central y mediante una carta R (u ocasionalmente S) su variabilidad.
_
CARTA X
Ejemplo: En una planta de harina se trabajan sacos de 50 kg. La empresa
establece un rango de 49 Kg. y 51 kg.
Se han obtenido para el anlisis los siguientes datos:

Muestra
o subgrupo
1 50,2 49,9 49,0 50,1
2 50,3 50,2 50,0 49,3
3 49,8 50,0 50,0 49,7
4 50,0 49,4 50,1 50,5
5 50,2 49,8 49,1 49,9
6 49,2 50,7 49,1 49,8
7 49,6 49,9 49,5 49,9
8 50,2 49,8 49,5 50,6
9 50,1 49,3 49,0 49,3
10 50,8 49,6 49,8 50,4
11 50,7 48,8 49,7 50,1
12 50,3 49,6 49,4 49,3
13 49,3 49,3 49,2 50,5
14 50,2 50,5 50,2 50,9
15 48,8 50,2 49,5 49,6
16 50,9 49,5 49,3 49,9
17 49,7 48,8 49,6 49,5
18 49,4 49,3 49,4 50,2
19 49,9 49,7 49,9 49,1
20 49,7 49,2 49,4 49,7
21 50,6 49,6 49,6 49,9
22 49,9 49,9 50,0 49,7
23 49,6 50,2 49,9 48,7
24 49,6 48,9 50,2 49,0
Pesos Media Rango
49,80 1,2
49,95 1,0
49,88 0,3
50,00 1,1
49,75 1,1
49,70 1,6
49,73 0,4
50,03 1,1
49,43 1,1
50,15 1,2
49,83 1,9
49,65 1,0
49,58 1,3
50,45 0,7
49,53 1,4
49,90 1,6
49,40 0,9
49,58 0,9
49,65 0,8
49,50 0,5
49,93 1,0
49,88 0,3
49,60 1,5
49,43 1,3
Muestra
o subgrupo Media Rango
1 50,2 49,9 49,0 50,1 49,80 1,2
2 50,3 50,2 50,0 49,3 49,95 1,0
3 49,8 50,0 50,0 49,7 49,88 0,3
4 50,0 49,4 50,1 50,5 50,00 1,1
5 50,2 49,8 49,1 49,9 49,75 1,1
6 49,2 50,7 49,1 49,8 49,70 1,6
7 49,6 49,9 49,5 49,9 49,73 0,4
8 50,2 49,8 49,5 50,6 50,03 1,1
9 50,1 49,3 49,0 49,3 49,43 1,1
10 50,8 49,6 49,8 50,4 50,15 1,2
11 50,7 48,8 49,7 50,1 49,83 1,9
12 50,3 49,6 49,4 49,3 49,65 1,0
13 49,3 49,3 49,2 50,5 49,58 1,3
14 50,2 50,5 50,2 50,9 50,45 0,7
15 48,8 50,2 49,5 49,6 49,53 1,4
16 50,9 49,5 49,3 49,9 49,90 1,6
17 49,7 48,8 49,6 49,5 49,40 0,9
18 49,4 49,3 49,4 50,2 49,58 0,9
19 49,9 49,7 49,9 49,1 49,65 0,8
20 49,7 49,2 49,4 49,7 49,50 0,5
21 50,6 49,6 49,6 49,9 49,93 1,0
22 49,9 49,9 50,0 49,7 49,88 0,3
23 49,6 50,2 49,9 48,7 49,60 1,5
24 49,6 48,9 50,2 49,0 49,43 1,3
49,76 1,05
Pesos
05 . 1
76 . 49
=
=
R
X
__
La carta X analizar el comportamiento en el tiempo sobre la columna
de medias, con lo cual se tendr informacin de la tendencia central y
variacin entre las muestras.

Para calcular los lmites de control es necesario contar con al menos 20
muestras (puntos)

Los LC estn calculados de la siguiente forma:
X X
o 3
__
En el caso de la carta X la variable X que se grafica es la media de las
muestras, por lo que una forma de estimar su media es:
X
X
X
~ =
La desviacin estndar de las medias de las muestras se calcula:
n
X
X
o
o o = =
Donde:

n : es el tamao de la muestras (4 en este caso)

Para este tipo de cartas una cosa es la desviacin estndar () de la
caracterstica de la calidad (pesos individuales) y la otra desviacin
de las medias de los subgrupos.




sta depende de la primera y del tamao de la muestra.

n
X
o
o =
Existe otra alternativa, solo incluye la variabilidad de las muestras y
consiste en estimar mediante los rangos:
2
d
R
~ o
d
2
es una constante que depende del tamao de la muestra, de
manera que los lmites de control para una carta de control X es:
R A X LCI
X Central Linea
R A X LCS
2
2
_
=
=
+ =
Entonces:
R
n d n
d
R
n
R A
X
2
2
2
3
3 3 3 =
|
|
|
|
|
.
|

\
|
~ |
.
|

\
|
= ~
o
o
Los valores de A
2
se obtienen del apndice 1.
En el ejemplo:
n=4
05 . 1
76 . 49
=
=
R
X
996 . 48 ) 05 . 1 729 . 0 ( 79 . 49
76 . 49
526 . 50 ) 05 . 1 729 . 0 ( 76 . 49
= =
=
= + =
LCI
LC
LCS
_
CARTA X
48,00
48,50
49,00
49,50
50,00
50,50
51,00
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23
LCS
LCI
LC
m
e
d
i
a
s

Subgrupos o muestras
R
s 3 R LSR + =
R Central Lnea =
R
s 3 R LIR =
Grficos X-R
Para el grafico de R
La desviacin standard del rango se
puede calcular utilizando el coeficiente d
3
,
que tambin depende del nmero de
mediciones en el subgrupo:
Grficos X-R
2
3
R
d
R d
s

=
La tabla siguiente muestra los
coeficientes d
2
y d
3
para subgrupos de
hasta 10 mediciones:
Grficos X-R
n d2 d3
2 1.128 0.853
3 1.693 0.888
4 2.059 0.880
5 2.326 0.864
6 2.534 0.848
7 2.704 0.833
8 2.847 0.820
9 2.970 0.808
10 3.078 0.797
Control de Calidad Estadstico - Douglas Montgomery
Grficos X-R
Grfico de R
0.00
0.05
0.10
0.15
0.20
0.25
0.30
0.35
0.40
0.45
0.50
0 5 10 15 20 25 30
N subgrupo
R
PROCESOS FUERA DE CONTROL
LSC
LI C
tendencias
nueve o ms puntos
consecutivos a un lado de la
media
LI C
LSC
PROCESOS FUERA DE CONTROL
LSC
LI C
LSC
LI C
un punto fuera de los
lmites de control
dos de tres puntos consecutivos
ms all de 2o de la media
Interpretacin de cartas de control

Se divide el diagrama en seis zonas o bandas iguales, cada una
con una amplitud similar a una de la variable que se grafique.

LCS
LCI
LC
Zona A
Zona A
Zona B
Zona B
Zona C
Zona C
Patrn 1: Cambios (Brincos) en el nivel del proceso

Pocos puntos estn fuera o muy cerca de los LCS e I, o gran
nmero de puntos caen solo a un lado de la lnea central.

Esto puede deberse a cambios de trabajadores, mquinas,
materiales mtodos.


LCS
LCI
LC
Un cambio en el nivel del proceso ha ocurrido cuando se
cumplen una de las cuatro pruebas siguientes;

Prueba 1: Un punto fuera de los lmites de control
Prueba 2: 2 de 3 puntos consecutivos en la zona A o mas all.
Prueba 3: 4 de 5 puntos consecutivos en la zona B o mas all
Prueba 4: Ocho puntos consecutivos de un solo lado de la lnea
central

Patrn 2: Tendencias en el nivel del proceso

Consiste en una tendencia a incrementarse o disminuirse los
valores de los puntos en la carta.

Puede deberse al deterioro gradual de un equipo de
produccin, herrameintas de corte, acumulacin de desperdicios en
tuberas, calentamiento de mquinas o cambios ambientales.

LCS
LCI
LC
Para determinar si hay tendencia en el proceso se tiene la
siguiente prueba;

Prueba 5: Seis puntos consecutivos ascendentes (o descendentes)

Patrn 3: Ciclos Recurrentes (Periodicidad)

Por ejemplo se d un flujo de puntos consecutivos que
tienden a crecer y luego se presenta un flujo similar pero de manera
descendente, y esto se repite cclicamente.

Las causas probables son la temperatura u otros cambios
ambientales.
LCS
LCI
LC
Cuando el ciclo consiste en una serie de puntos que se van
alternando entre altos y bajos tenemos la siguiente prueba:

Prueba 6: Catorce puntos consecutivos alternados entre altos y
bajos.
Patrn 4: Mucha variabilidad

Es una seal que en el proceso hay una causa especial de
variacin, provoca que este se encuentre fuera de control
estadstico.

Se manifiesta por una alta cantidad de puntos cerca de los
lmites de control superior e inferior y pocos cerca de LC.

Las causas pueden ser sobre control o ajustes innecesarios
en el proceso, diferencias sistemticas en la calidad del material o en
los mtodos de prueba, control de dos o mas procesos en la misma
carta.

Prueba para detectar la alta proporcin de puntos cerca o
fuera de los lmites es:

Prueba 7 : Ocho puntos consecutivos a ambos lados de la lnea
central con ninguno en la zona C.

LCS
LCI
LC
Mucha variabilidad
Cuando el ciclo consiste en una serie de puntos que se van
alternando entre altos y bajos tenemos la siguiente prueba:

Prueba 6: Catorce puntos consecutivos alternados entre altos y
bajos.
Patrn 5: Poca variabilidad (Estratificacin)

Una seal de que hay algo anormal es que todos los puntos
se concentran en la parte central de la carta, es decir existe poca
variabilidad.

Algunas de las causas pueden ser error de los lmites de
control (puede afectar a todas las otras cartas), agrupamiento de
una misma muestra a datos provenientes de universos con medias
bastante diferentes, carta de control inapropiada para la variable en
cuestin.
Para detectar la falta de variabilidad se tiene la siguiente
prueba:

Prueba 8: Quince puntos consecutivos en la zona C, arriba o debajo
de la lnea central.
LCS
LCI
LC
Cuando alguna de las Ocho pruebas es
positivas entonces el proceso est fuera de
control estadstico.
Diagramas p

En algunos anlisis de la calidad de los productos estos se
ubican en la categora de defectuoso o no defectuoso (Pasa o no
pasa).

Muestra las variaciones en la fraccin o proporcin de
artculos defectuosos por muestra.

Se reporta como proporcin (porcentaje) de productos
defectuosos en un proceso

Ela la carta p se toma una muestra o subgrupo de n artculos
de un lote, se determina la proporcin de p
i
artculos defectuosos.

Se determinan los lmites de control, LCS, LC y LCI.
El promedio de defectuosos (p) se determin dividiendo el
nmero total de unidades defectuosas por el n total de unidades
analizadas y multiplicado por 100.
N p p / =
n
p p
p LCI
p LC
n
p p
p LCS
) 1 (
3
) 1 (
3

=
=

+ =
Donde:
n : tamao de la muestra
: proporcin promedio de
artculos defectuosos

p
Diagramas np

(Nmero de artculos defectuosos) Cuando el tamao de la
muestra en las cartas p es constante, es mas conveniente usar la
carta np que grafica el numero de defectuosos por muestra.

En esta carta los lmites de control se calculan de la
siguiente manera:
) 1 ( 3
) 1 ( 3
p p n p n LCI
p n LC
p p n p n LCS
=
=
+ =
Donde:
n : tamao de la muestra

: proporcin promedio de
artculos defectuosos

: estimacin del n promedio de
artculos defectuosos por muestra


p
p n
Grficos de control para Individuales

Existen procesos o situaciones en los que no es posible agrupar
medidas en forma de muestras o sub subgrupos. Ejemplo:


- Procesos lentos (procesos qumicos por lotes)

- Procesos en los que las mediciones cercanas solo difieren por el
error de medicin, ej. Temperatura.

- Inspeccin automtica de unidades producidas

- Resulta costoso inspeccionar y medir mas de un artculo



Los lmites de control para la carta de control de Rangos Mviles se
calculan de la siguiente manera:
0 0
267 . 3
3
4
= = =
=
= =
R R D LCI
R LC
R R D LCS
R
R
R
El comportamiento de la tendencia central se utiliza la media como
media muestral y la desviacin estndar con los rangos promedios:
|
|
.
|

\
|
=
|
|
.
|

\
|
=
=
|
|
.
|

\
|
+ =
|
|
.
|

\
|
+ =
128 . 1
3 3
128 . 1
3 3
2
2
R
x
d
R
x LCI
x LC
R
x
d
R
x LCS
R
R
R
Cartas C (nmero de defectos)

El objetivo de la carta c es analizar la variabilidad del nmero
de defectos. En esta carta se grafica c
i
que es el nmero de defectos
de la i-sima unidad (muestra).

Los lmites de control se calculan:
c c LCI
c LC
c c LCS
3
3
=
=
+ =
Donde:
: es el nmero promedio de
defectos por sub grupo.
Se obtiene dividiendo el n total
de defectos por el n de grupos.
c
Cartas u (nmero de defectos por unidad)

Se utilizan cuando en las cartas c, el tamao del sub grupo no
es constante o cuando, aunque sea constante, se prefiere cuantificar el
nmero promedio de defectos por unidad.

En esta para cada sub-grupo se grafica el nmero promedio de
defectos por unidad u
i
que se obtiene:
i
c
n
c
u
i
i
=
n
u
u LCI
u LC
n
u
u LCS
3
3
+ =
=
+ =
Donde:
: es la cantidad de defectos en
la muestra i.
n : es el tamao de la muestra i.
: es el promedio de defectos por
unidad en todo el conjunto de
datos.
Los lmites de control son:
u
Cundo utilizar las cartas de control?

Cartas X-R (o S):

Se est iniciando un nuevo proceso o producto nuevo en procesos
existentes
Procesos con mal desempeo respecto a las especificacines
Se debe usar o se usan pruebas destructivas.
Ya se ha usado cartas de atributos pero an el proceso est fuera de
control.
Se pretende reducir la cantidad de inspeccin.
Procesos en que el operario debe decidir si ajusta o no.
Es necesario un cambio en las especificaciones del producto.
Tiene que demostrarse contnuamente que el proceso es estable y
capaz.
Cartas p, np, c o u:

Los operadores controlan las causas especiales y es necesario
reducir las fallas del proceso.
El producto consiste en operaciones complejas de ensamblaje y la
calidad del producto se mide en trminos de ocurrencia de defectos.
Es necesario que el proceso est en control, pero no se pueden
obtener mediciones de tipo continuo.
Se requiere tener informacin acerca de la evolucin del proceso.
Cartas individuales:

Procesos lentos (procesos qumicos por lotes)

Procesos en los que las mediciones cercanas solo difieren por el
error de medicin, ej. Temperatura.

Inspeccin automtica de unidades producidas

Resulta costoso inspeccionar y medir mas de un artculo

Etapa Paso Mtodo a usar
1. Determinar el propsito de la carta Relacionarla con el sistema de
calidad
2. Evaluar la situacin actual Carta de atributos, Histograma,
Hoja de verificacin.
3. Determinar variables crticas Diagrama de Ishikawa, diagrama
de flujo
4. Seleccionar las variables candidatas Diagrama de pareto
5. Elegir la carta apropiada Depende de los pasos anteriores
y de la situacin
6. Decidir como muestrear Pensar en un sub-agrupamiento
7. Elegir tamao y frecuencia de
muestreo
Depende de la carta y de la
sensibilidad deseada.
Preparar
8. Estandarizar la toma de datos Precisin claridad e instrumentos
adecuados.

Pasos importantes para la implementacin de una carta de control
9. Asegurarse de la cooperacin Involucrar usuarios y trabajo en
equipo.
10. Entrenar a usuarios Bitcora de acciones
Inicio
11. Analizar los resultados Localizar patrones y actuar
12. Asegurarse de su efectividad Revisar peridicamente su uso y
relevancia.
Uso
13. Mantener el inters y modificar la
carta
Cambiar la carta e involucrar
mas usuarios
Salida
14. Eliminar la carta Si la carta cumpli o si no tiene
razn de ser

Capacidad de Procesos
CAPACIDAD DE PROCESO (INDICES Cp, Cpk)
Se define como la cuantificacin de la capacidad de cumplir
con especificaciones, estos ndices son: Cp y Cpk.

Estos valores ayudan a enfatizar la necesidad de mejoras
para reducir la variabilidad del proceso.

Indice Cp: Corresponde al ndice de capacidad del
proceso, es decir, para considerar un producto como de calidad, las
mediciones de ciertas caractersticas deben ser iguales a un valor
nominal o ideal (N) o al menos deben estar dentro de cierta
especificacin inferior (EI) y superior (ES):

Cp = (ES EI)
6
Valores de Cp y su interpretacin:
Valor de Cp Clase de Proceso Decisin
Cp > 1.33 1

Mas que adecuado

1 < Cp < 1.33 2

Adecuado para el trabajo, pero
requiere de un control estricto
conforme se acerca el Cp a 1

0.67 < Cp < 1 3

No adecuado para el trabajo.
Un anlisis del proceso es
necesario. Buena probabilidad
de xito.

Cp < 0.67 4

Requiere de modificaciones
serias


El valor mnimo deseable para Cp es 1.33.

Ejemplo: La longitud de una pieza tiene un LEI 0.23 y un LES
de 0.26. La desviacin estndar es de 0.00357, entonces el Cp=?
40 . 1
) 00357 . 0 ( 6
23 . 0 26 . 0
=

= Cp
Entonces, Cp > 1.33, por lo que el proceso es ms adecuado
para producir dentro de las especificaciones.

Si la capacidad de un proceso no es compatible con las
tolerancias, existen 3 alternativas:

- Modificar el proceso
- Modificar las tolerancias
- Revisar el 100% de la produccin
Indices Cp
Proceso con doble especificacin Proceso con una sola especificacin
Cp
% fuera de
especificacin
Partes por
milln fuera de
especificacin
% fuera de
especificacin
Partes por
milln fuera de
especificacin
0.25 45.33 453225 22.66 226628
0.50 13.36 133614 6.68 66807
0.60 7.19 71861 3.59 35931
0.70 3.57 35729 1.79 17865
0.80 1.64 16395 0.82 8198
0.90 0.69 6934 0.35 3467
1.00 0.27 2700 0.135 1350
1.10 0.097 967 0.048 484
1.20 0.032 318 0.016 159
1.30 0.010 96 0.005 48
1.40 0.003 27 0.0014 14
1.50 0.0007 7 0.0004 4
1.60 0.0002 2 0.0001 1

1.40 0.003 27
El inconveniente de Cp es que no considera el centro del
proceso.


ndice Cpk

Es el ndice de capacidad real del proceso o ndice de
descentramiento del proceso.

Evala donde se localiza la media del proceso respecto a
las especificaciones (Superior e inferior).

Est definido por:
)
`

=
=
o o
o
3
;
3
min
3
LEI X X LES
Cpk
MC
Cpk
MC : Es el valor mas pequeo
entre (LES-) y (-LEI), es
la media de la caracterstica
de calidad.

Para calcular Cp y Cpk es necesario conocer la media y la
desviacin estndar , estas pueden ser calculados por:
2
X
d
R
=
=
o

d
2
es una constante que depende del tamao de la muestra
(Tabla).


Si:

Cpk > 1 El proceso est produciendo dentro de las
especificaciones

0 < Cpk < 1 El proceso est produciendo fuera de las
especificaciones

Cpk s 0 La media del proceso est fuera de las
especificaciones
16 18 20 22 24
ES
F
r
e
c
u
e
n
c
i
a
s
EI
Proceso Capaz
Cp = 1.33
Cpk = 1.33
Proceso Capaz, pero descentrado
Cp = 1.33
Cpk = 0.66
16 18 20 22 24
ES
F
r
e
c
u
e
n
c
i
a
s
EI
Proceso Incapaz y Centrado
Cp = 0.66
Cpk = 0.66
16 18 20 22 24
ES
F
r
e
c
u
e
n
c
i
a
s
EI
Proceso Incapaz y Descentrado
Cp = 0.66
Cpk = 0.33
16 18 20 22 24
ES
F
r
e
c
u
e
n
c
i
a
s
EI
Ejemplo:

Las especificaciones del peso de un envase es de 49 como
LEI y 51 como LES. Adems se sabe que el promedio es de
X=49.76 y R=1.05. Con n=4 (tamao de muestra).

Calcule Cp y Cpk como ndices de capacidad del proceso.
497 . 0
058 . 2
05 . 1
3
49 76 . 49
;
058 . 2
05 . 1
3
76 . 49 51
min
65 . 0
) 519 . 0 ( 6
2
059 . 2
05 . 1
6
49 51
=

|
.
|

\
|

|
.
|

\
|

=
= =
(

=
Cpk
Cp
D (Inestable e incapaz)
Es el peor proceso. Aplicar las HBE para
diagnosticar y mejorar. La utilizacin de las
cartas de control podra ayudar a eliminar
las causas especiales, con lo que tal vez se
mejore la capacidad. Se requieren anlisis
muy serios.
C (Estable pero incapaz)
Usar las HBE para diagnosticar y mejorar,
y las cartas de control para identificar
patrones en el proceso. Se deben hacer
esfuerzos serios de mejora y analizar las
especificaciones.
NO
B (til pero inestable)
Si se usan las cartas de control tal vez se
puedan identificar las causas especiales.
Se requiere analizar el proceso y prevenir
A (Estado ideal)
Aplicar Cartas de control y las HBE para
prevenir las ocurrencias de las causas el
desempeo futuro del proceso
SI
NO SI
El proceso est en Control estadstico?

E
l

p
r
o
c
e
s
o

e
s

c
a
p
a
z

d
e

c
u
m
p
l
i
r

e
s
p
e
c
i
f
i
c
a
c
i
o
n
e
s
?

CONTROL ESTADSTICO Y CAPACIDAD
Conclusiones:

- Cpk es menor que Cp, es decir el proceso esta descentrado.

- El valor de Cp es de 0.65, es decir, el proceso requiere
modificacines serias.

- El valor de Cp=0.65 quiere decir que habr aproximadamente 5.38%
de productos fuera de especificacin.

- Cpk es 0.497, es decir, el proceso est fuera de las
especificaciones.




Resumen:

Los ndices de capacidad son valores estadsticos que sirven para
determinar si el proceso es o no capaz de cumplir especificaciones.

El ndice Cp mide habilidad para cumplir especificacin, el Cpk mide
el descentramiento del proceso.

Un estudio de capacidad de proceso requiere: estar bajo control
estadstico y los datos muestrales deben seguir una distribucin
normal.