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Introduccin a los Sistemas SIL

1.0

Sistema de Seguridad Instrumentado.

Los Sistemas de Seguridad Instrumentados (SIS), son utilizados frecuentemente para reducir los procesos peligrosos en plantas de produccin. Para cada proceso de peligro potencial, se realiza un diseo especfico para detectar esta situacin y, automticamente, tomar las medidas necesarias para pre enir o mitigar dic!o suceso peligroso. "stas acciones estn implementadas por las #unciones Instrumentalizadas de Seguridad (SI#). $n Sistema de Seguridad Instrumentado incluye m%ltiples funciones en una %nica funcin simple (una por cada condicin de peligro potencial). &ada SI# recoge y analiza informacin de los sensores para determinar si se produce una condicin peligrosa y, consecuentemente, comienza la secuencia de parada para lle ar el proceso a un estado seguro. "stos sistemas de control, son denominados 'safety related( y una condicin potencialmente peligrosa se denomina demanda. La mayora de SIS estn )asados en el concepto de 'inter encin en dese*citacin(. "n condiciones normales de tra)a+o las entradas y salidas estn e*citadas. "l SIS est formado por una instrumentacin y,o controladores -ue estn instalados con la finalidad de pre enir o mitigar el peligro, o de lle ar el proceso a un estado seguro en presencia de una demanda de seguridad. Se considera -ue en estos casos se !an infringido ciertas condiciones predeterminadas en el proceso, tales como alarmas de presin, temperatura, ni el, etc. Los SIS se utilizan para cual-uier proceso en el -ue el anlisis del peligro re-uiera su presencia. La disponi)ilidad de un SIS depende.

/e las cuotas y modos de a era de los componentes (o su)con+untos) /e la ar-uitectura de los componentes (0oo0, 0oo1/, 1oo1, 1oo2, etc.) /e los circuitos de otacin /e la co)ertura diagnstica /e la frecuencia de las prue)as peridicas

Las acciones programadas para pre enir o mitigar los sucesos peligrosos, consisten en la apertura de un contacto para dese*citar un circuito el3ctrico. "sta accin es denominada. 'trip(.

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Para cada SI#, se determina un #actor de 4educcin de 4iesgo (44#). Los estndares I"& 50678 y I"& 50600, cu)ren en detalle todos estos aspectos de seguridad. $na de sus funciones )sicas es la identificacin del grado y se eridad de las operaciones peligrosas y consecuentemente la o)tencin del factor de reduccin al mnimo riesgo, -ue re-uieren los SI# para una operacin acepta)le de la planta. 1.1 Factor de Reduccin de Riesgo (RRF) y Nivel de Integridad de la Seguridad (SIL).

"l 44# de un SI# est determinado por la pro)a)ilidad media de fallo )a+o demanda, de acuerdo con la ecuacin. RRF = 1/ F! avg Los ni eles SIL re-ueridos por un SI# corresponden a diferentes alores de 44# de acuerdo con la siguiente ta)la. SIL de Integridad P#/a g Nivel de la ro"a"ilidad Seguridad media de #allo en demanda $or a%o ("a&a demanda) SIL 9 SIL 2 SIL 1 SIL 0 ( 10)* to + 10), ( 10), to + 10)/ ( 10)/ to + 10)1 ( 10)1 to + 10)1 44# Factor de Reduccin de Riesgo P#/a g ro"a"ilidad media de #allo "a&o demanda $or 'ora (alta demanda) ( 10)- to + 10). ( 10). to + 10)0 ( 10)0 to + 10)2 ( 10)2 to + 10)*

100000 to 10000 10000 to 1000 1000 to 100 100 to 10

:a)la 0. ;i el de Integridad de la Seguridad y pro)a)ilidad de fallo en demanda de acuerdo con los estndares I"& 50678 y I"& 50600

1.1

3once$to general $ara la declaracin del nivel SIL.

La :a)la 0 identifica los rangos de la pro)a)ilidad de fallo acepta)le de un SI#, para cada re-uerimiento SIL en condiciones de operacin de modo en demanda alto o )a+o. "l P#/a g indicado es asignado a cada SI# en un SIS. "l P#/a g de cada SI# resulta de la com)inacin de los P#/a g<s de cada uno de los componentes del SI#. &ada ni el SIL difiere del otro en un factor de 07 eces el P/#a g acepta)le.

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1./

4aloracin de niveles de SIL. (el $a$el del F!avg).

Sa)er -ue dos diferentes e-uipos de seguridad disponen del mismo ni el SIL, no es suficiente para realizar una e aluacin completa del sistema. "s necesario conocer, adems, el alor de P#/a g, ya -ue para el mismo ni el de SIL los alores P#/a g puede ser de 0 a 07 eces diferente. $n alor )a+o de P#/a g permite reducir su contri)ucin al clculo total del ni el SIL del SI# y, !a)itualmente, aumentar el :=proof del sistema.

1.,

eriodo de valide5 del nivel SIL (me&or y $eor F!avg).

La ta)la anterior, indica el P#/a g re-uerido para un ni el de SIL en el momento inicial (p. e+. en la puesta en marc!a), sin considerar -ue dic!o P#/ se degrada con el tiempo. La pro)a)ilidad de fallo de cual-uier e-uipo y por lo tanto el P#/ de un SI#, aumenta con el tiempo y de)e ser considerada para todas las aplicaciones. "sto -uiere decir -ue el P#/a g indicado por el fa)ricante de un e-uipo, es el alor medio durante un periodo indicado de tiempo (el inter alo :=proof). Para e-uipos con el mismo ni el de SIL, es recomenda)le utilizar el -ue disponga del :=proof ms largo, desde el punto de ista de disponi)ilidad y mantenimiento. 1.* 4ariacin del F! en el tiem$o (riesgo de reduccin del nivel SIL).

/ado -ue la pro)a)ilidad de fallo en demanda de un e-uipo aumenta con el tiempo, este alor se puede mantener )a+o control mediante la creacin de tests de seguridad de mantenimiento cada ciertos inter alos de tiempo. "l grfico siguiente muestra como, siguiendo ese proceso, el P#/ (en azul) recupera su estado inicial. La determinacin de esos inter alos de tiempo est estrictamente relacionada con el ni el de SIL necesario y el alor de P#/a g del e-uipo. La lnea ro+a representa el alor medio de P#/ (P#/a g). Se esta)lece un testeo peridico, especificado por el fa)ricante, denominado :=proof :est (Inter alo de prue)as peridicas) -ue permite identificar cual-uier a era en el mecanismo del e-uipo -ue no es directamente detecta)le (a era peligrosa no detecta)le), 3ste es un grado de efecti idad -ue afectar al posterior alor programado de P#/a g. Si la efecti idad est entre el >>=077 ?, el e-uipo se puede considerar @como nue o@ desde el punto de ista de a eras, si est por de)a+o de 077? (A7=87=>7?), el ni el de SIL re-uerido puede !a)erse reducido o perdido.

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Figura 1, Marcha de PFD y PFDavg en el tiempo con pruebas peridicas

La duracin del inter alo de prue)a tam)i3n afecta al alor del P#/a g del e-uipo y, consecuentemente, del SI# ( er ecuacin y e+emplos posteriormente).

1.0

6r7uitecturas de sistemas de seguridad

/e entre las diferentes ar-uitecturas posi)les para sistemas y su)sistemas de seguridad, ca)e destacar como )sicas las siguientes. Br-uitectura 0oo0 (uno so)re uno). &onfiguracin simple. $na sola entrada con una %nica salida. "l e+emplo de un fallo en la funcin de seguridad del rel3 podra ser el contacto soldado (pegado) -ue no se a)re cuando se le solicita !acerlo. Br-uitectura 0oo1 (uno so)re dos). "n esta ar-uitectura el sistema tiene las salidas conectadas en serie, suponiendo los contactos cerrados y los rel3s normalmente energizados. $no so)re dos significa -ue )asta -ue inter enga un solo canal para efectuar un )lo-ueo. "n el funcionamiento de modo peligroso, fallar la funcin de seguridad de este sistema slo si am)os contactos de los rel3s estn soldados y no consiguen a)rirse. Si un solo contacto est soldado, el otro puede efectuar igualmente el )lo-ueo de seguridad del sistema. Br-uitectura 1oo1 (dos so)re dos). "l sistema dual 1oo1 tiene las salidas conectadas en paralelo. Bs pues, am)os canales de)en desenergizar para efectuar un )lo-ueo ya sea falso o seguro. "ste sistema fallar al )lo-uear la funcin de seguridad si uno solo de los rel3s est pegado (con una a era peligrosa). Ca -ue el sistema tiene dos eces el !ardDare del sistema indi idual, tendr dos eces la pro)a)ilidad de a eriarse de manera peligrosa.

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Br-uitectura 0oo2 (una so)re tres). "sta configuracin es denominada tam)i3n :E4 (:riple Eodular 4edundant) o sistema de triple redundancia. La razn principal de una triple redundancia se de)a a -ue, en los aos 87, los sistemas )asados en el ordenador tenan una capacidad de autodiagnstico limitada. Por e+emplo, si !a)a dos seales redundantes no iguales, no era siempre posi)le determinar la correcta. Badiendo el tercer canal se resol a el pro)lema. B!ora la triple redundancia se usa slo para aplicaciones en las se e*i+a un funcionamiento seguro durante largos perodos, es decir en -ue los sistemas o las m-uinas no pueden ser detenidos para prue)as y mantenimientos durante 6 ms aos. Ftra aplicacin es alcanzar el ni el de integridad de la seguridad SIL 2, all donde se dispone slo de un dispositi o, o su)sistema, SIL 0, permitiendo al su)sistema dos fallos de la funcin de seguridad y continuar toda a seguro Br-uitectura 1oo2 (dos so)re tres). "sta configuracin es un sistema -ue funciona con mayora simple, es decir, a-uello -ue indica dos o ms entradas, es lo -ue el sistemas adopta como salida. &omparando con ar-uitecturas anteriores, no es me+or -ue la 0oo1 para los )lo-ueos de seguridad y no es me+or -ue la 1oo1 para los )lo-ueos falsos. Sin em)argo, las ar-uitecturas tradicionales 0oo1 1oo1 son lidas slo para los )lo-ueos de seguridad o para los )lo-ueos falsos causados por a eras. "n cam)io, la ar-uitectura 1oo2 es lida tanto para los )lo-ueos seguros como para los falsos.

1oo1

A
1oo2

A B

A A
2oo2 2oo3

B C

S e l e c . c

Figura 2, Esquema de principio de algunas arquitecturas

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/.0

8cuaciones y e&em$los aclaratorios de las consideraciones anteriores.

+
PL& G &anal 0 Sensor de :* Iarrera S.I. &ircuito de entrada &ircuitera &om%n de Logic Sol er &ircuito de salida

"lemento #inal

_
:pico 0oo0 SI#

/.1

In#luencia de la e#icacia de las $rue"as $eridicas en el c9lculo F!avg.

Para cada componente del SI#, cuando la eficacia de prue)a peridica para re elar fracasos peligrosos es del 077 ?, la ecuacin del P#/a g se simplifica a.
PFDavg = DU TI 2

cuando la eficacia no es del 077 ?, la ecuacin del P#/a g se simplifica a.


TI PFDavg = (Et DU ) + (1Et) 2 SL 2

DU

donde. "t. eficacia diagnstica de las prue)as peridica (p.e+. el >7 ?) SL. inter alo de tiempo entre dos test completos (con eficacia del >> al 077?) o entre dos sustituciones o el tiempo de ida estimado si nunca ser testado al >> G 077? o si nunca ser sustituido. para :I H 0 ao y SL H 01 aos, la ecuacin del P#/a g se simplifica a .
DU 12 ) + (1- Et) DU 2 2

PFDavg TI=1,SL=12 = (Et

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8&em$lo 1: J/$ H 7.70 , ao :I H 0 ao "t H >7? H 7.> SL H 01 aos Bl principio de la instalacin (el nue o sistema). P#/a g H 7.70 , 1 H 7.776 , ao 44# H 0 , P#/a g H 0 , 7.776 H 100 /espu3s de un ao. P#/a g H (7.> * 7.70 , 1) K (7.0 * 7.70 * 5 ) H 7.7076 44# H 0 , P#/a g H 0 , 7.7076 H -* /espu3s de un ao (as como despu3s de cada test peridico posterior), se !a pasado de ni el SIL 1 a SIL 0.

8&em$lo 1: J/$ H 7.70 , ao :I H 0 ao "t H >>? H 7.>> SL H 01 ao /espu3s de un ao. P#/a g H (7.>> * 7.70 , 1) K (7.70 * 7.70 * 5) H 7.7765 44# H 0 , P#/a g H 0 , 7.775 H 10. :ras un ao, as como al final de todo test peridico posterior el ni el SIL 1 se !a mantenido.

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,.

8studio de caso $r9ctico.

&alcular los alores de E:I#, P#/a g, 44# para un posi)le ni el SIL de utilizacin y E:I#S para )lo-ueos falsos, del siguiente SI# compuesto por un transmisor, una )arrera de alimentacin,repeticin de la seal, un PL&,/&S de seguridad y una l ula como elemento finalL durante un inter alo de test peridico (:I) de un ao para una ar-uitectura 0oo0. Los siguientes datos son facilitados por los fa)ricantes. (SI H Seguridad Intrnseca). :ransmisor de SI. Blim=repetidor de SI. &ontrolador , PL&. Ml ula de )lo-ueo. /onde.

E:I# H 077 aosL E:I# H 227 aosL E:I# H 677 aosL E:I# H 97 aosL

J/$ H 7,778,aoL JS H 7,770,ao J/$ H 7,7771,aoL JS H 7,771,ao J/$ H 7,7776,aoL JS H 7,770,ao J/$ H 7,716, aoL JS H ;B

J. &uota de a eras total, -ue incluye las cuotas seguras (detectadas y no detectadas) y las peligrosas (detectadas y no detectadas) H JS/ K JS$ K J// K J/$L E:I#. :iempo medio entre dos fallos sucesi osL P#/a g. Pro)a)ilidad media de fallo en demandaL 44#. #actor de reduccin del riesgoL ;B H ;o disponi)le.

Su)=sistema

E:I# (aos) 077 227 677 97 1*

JH 0,E:I# por ao 7,707 7,772 7,771 7,716 0<0,0

E:I#sH 0, JS (aos) 0777 677 0777 = 1*0

JS , ao J/$ , ao

P#/a g 0oo0 H J/$,1 7,7797 7,77707 7,77716 7,70167 0<012.*

? del 44# H P#/a g 0,P#/a g total 12,A ? 7,75 ? 7,06 ? A5,> ? 100 = 167 >7>7 9777 87 *-

Posi)le $so E* SIL SIL 1 SIL 2 SIL 2 SIL 0 SIL 1

:ransm. Iarrera /0709S PL& Ml ula :otales (SI#)

7,770 7,771 7,770 n,d 0<00,

7,7787 7,7771 7,7776 7,7167 0<0//0

Tabla 1, rquitectura del sistema 1oo1 con T! para 1 a"o

,.1

;"servacin 1

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B pesar de tener su)sistemas de ni el SIL 1 y SIL 2, el ni el m*imo al -ue puede aspirar esta funcin es SIL 0 ya -ue la l ula tiene un 44# de 87 lido slo para el ni el SIL 0. NOu3 se podra !acer para o)tener un ni el SIL 1 de toda la funcin de seguridad (44# de al menos 077 en lugar de 8>)P Se presentan tres soluciones posi)les.

Poner dos l ulas en redundancia en ar-uitectura 0oo1, en cuyo caso el alor del P#/a g pasara de 7,7016,ao a 7,7771,ao. Pero esta solucin podra presentar algunas dificultades prcticas en su realizacin. $na solucin ms simple consiste en poner en lnea dos l ulas a conectar con )y= pass. "n caso de necesidad de sustitucin de una l ula, para someterla a test peridico, la instalacin no se detendra por-ue se conectara la otra l ula de recam)io. /e esta manera, en lugar de tener un inter alo de prue)a peridico de un ao (slo para la l ula), se podra de+ar en 9 meses. Bs, el P#/a g pasara de 7,7016, ao a 7,779,9 meses y, en consecuencia, el alor del 44# a 167. "sto conduce el P#/a g de toda la funcin a 7,77826, es decir a un alor de 44# de 017 lido para un SIL 1. "l mismo resultado se podra o)tener !aciendo un 'Partial StroQing :est (PS:)( de la l ula.

&on la segunda solucin, la nue a ta)la de alores sera.


JH E:I#sH 0,E:I# J , ao 0, JS (aos) S por ao 7,707 7,772 7,771 7,716 0<0,0 0777 677 0777 = 1*0 7,770 7,771 7,770 n,d 0<00, P#/a g 0oo0 H J/$,1 7,7797 7,77707 7,77716 ? del P#/a g total 9A,9 ? 0,1 ? 2,7 ? 98,9 ? 100 = Posi)le $so E* SIL SIL 1 SIL 2 SIL 2 SIL 1 SIL 1

Su)=sistema

E:I# (aos) 077 227 677 97 1*

J/$ , ao

44# H 0,P#/a g 167 07777 9777 167 110

:ransm. Iarrera /0709S PL& Ml ula :otales (SI#)

7,7787 7,7771 7,7776

7,7787 , 9 meses 7,77977 0<0120 0<00./*

Tabla 2,

rquitectura del sistema 1oo1 con T! para 1 a"o #e$cepto v%lvulas&

,.1

;"servacin 1.

"l P#/a g de cada componente tiene un porcenta+e propio respecto a la totalidad representada por el loop. "n los manuales de seguridad funcional de los componentes de la SI#, los fa)ricantes indican los alores de P#/a g o)tenidos de los entes de certificacin.

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"stos entes, al efectuar el clculo del ni el SIL correspondiente, aplican un acuerdo por el -ue el alor de P#/a g es 'pesado( en )ase al porcenta+e -ue representara dentro del loop. "n la siguiente ta)la mostramos un e+emplo de alores porcentuales en lnea con este criterio.
Su)sistema :ransmisor Iarrera PL& Ml ula :otales (SI#) P#/a g 0oo0 (?) 16 ? 07 ? 27 ? 26 ? 100 =

Tabla ', (aloracin del PFDavg para una arquitectura de sistema 1oo1

F) iamente, esta su)di isin no se menciona en las normati as, pero se aplica cada ez -ue se someten componentes o su)sistemas a la certificacin. "sto no impide -ue los diseadores puedan decidir otra cosa )asndose en algunas SI# especficas, so)re el 'peso( de los alores de P#/a g dentro de las mismas. :omemos como e+emplo una )arrera de seguridad intrnseca. la misma de)er tener como m*imo el 07? del P#/a g total, es decir -ue, para estar cualificada para el ni el SIL 2 tendr -ue tener efecti amente los alores especificados en la :a)la 0, para SIL 9 (se recuerda -ue el factor de multiplicacin entre un ni el y otro es de 07). Lo mismo -ue ale para la )arrera ale tam)i3n para el resto de su)sistemas, por lo -ue cuando se leen los datos certificados del alor del P#/a g, !ay -ue controlar si 3stos son e-uili)rados dentro de la funcin de seguridad deseada. "n el caso en concreto (los datos se refieren a la )arrera de RE modelo /0709S), la )arrera puede ser utilizada en efecto para un ni el SIL 2, por-ue al ocupar 0,1? del P#/a g total de la funcin, esto est permitido. "s e idente -ue el diseador podra decidir aceptar, para el ni el SIL de una determinada SI#, incluso un porcenta+e del 17? en lugar del 07?. /ado -ue el ni el SIL de la SI# es SIL 1, entonces la )arrera conser ar su funcionalidad incluso para un inter alo de prue)a peridica de 07 aos (como se indica en el manual de seguridad). /e !ec!o, decuplicando el alor de P#/a g de un ao tendremos un alor de 7,770 -ue es siempre inferior al 07? del alor indicado en la :a)la 0 para el ni el SIL 1 (7,70).

,./

;"servacin /.

La SI# tiene un ni el de integridad de la seguridad SIL 1. $; E:I# de 16 aos. $n E:I#S de 167 aos, en cam)io, podemos esperar )lo-ueo de seguridad cada 57 aos (0 , 7,705A H 0 , J/$ SI#) siempre -ue se efect%en los tests peridicos seg%n la ta)la.
Su)sistema :ransmisor Iarrera PL& Ml ula Inter alo :ests peridicos 0 ao 07 aos 6 aos 9 meses

1!

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Tabla ), rquitectura de sistema 1oo1 con optimi*acin del T+proo,

:odo esto es lido slo si durante los tests peridicos se consigue diagnosticar el 077? (o un porcenta+e muy cercano al 077?) de los alores de J/$ de cada uno de los componentes de la SI#. "n la prctica se pueden alcanzar alores entre el A7 y el >7?. "stos alores de)en ser claramente indicados por el fa)ricante en el manual de seguridad del su)sistema. "n caso de -ue no fuera as, los encargados del mantenimiento no podrn efectuar los tests y calcular su fia)ilidad. Las correcciones de)eran ser usadas tanto por los diseadores como por los encargados del mantenimiento de la planta. Los datos de fia)ilidad, la descripcin detallada de los tests peridicos, adems del porcenta+e de las cuotas de a eras peligrosas no detectadas, -ue de)era ser detectada por los tests manuales, de)en ser incluidos en el manual de seguridad funcional del producto y solicitadas al pro eedor pre iamente. ,., ;"servacin ,.

NOu3 !ay -ue !acer cuando no sean conocidos ni est3n certificados los alores de los distintos su)sistemas -ue componen la funcin de seguridadP "sto puede suceder so)re todo para los elementos finales como l ulas y accionadores u otros dispositi os mecnicos y electromecnicos. Las normati as no dan indicaciones en este sentido. ;ormalmente el E:I# es un dato facilitado por el fa)ricante o -ue se puede o)tener en los informes de mantenimiento de la instalacin. Partiendo de esto, se puede calcular la cuota de a eras glo)al J H 0 , E:I#. $na )uena regla es considerar toda esta cuota como correspondiente a a eras peligrosas no detectadas. Sin em)argo, la solucin ms usada actualmente es la del 'Partial StroQing :est( de la l ula, cuando sea posi)le. "sto permite detectar apro*imadamente el 0<87? (86?) de las posi)les a eras lle ando la cuota del 077? de los J/$ al 17?. /e este modo, el ni el SIL 1 estar ms al alcance de la mano.

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*.0

8strategias $ara un mantenimiento m9s seguro y m9s #9cil de un Sistema Instrumentado de Seguridad. 3onsideraciones #inales "l ni el de SIL de un solo e-uipo da una isin parcial e incompleta de la solucin, para una aplicacin de SI# dada. "n el Eanual de Seguridad de un e-uipo se de)e facilitar la siguiente informacin. o E:I# o 4atio de a eras seguras y peligrosas o Malor de P#/a g para 0=2=6=07 aos de operacin continua o Inter alo de prue)as peridicas (:=proof time) o Procedimiento de prue)a peridica y su porcenta+e de eficacia para 'detectar( las a eras peligrosas no detecta)les. Para recuperar los ni eles iniciales de P#/ y, por consiguiente, el ni el de SIL de cada componente de un SI# es imprescindi)le disponer de un Plan de Eantenimiento programado del sistema. "l mantenimiento formado como testeo peridico de un inter alo de prue)as peridicas re-uiere, normalmente, la instalacin de un )y=pass de los e-uipos su+etos al test. "sto implica, !a)itualmente, algunos criterios de operacin. Los inter alos de tiempo de)en ser lo ms largos posi)les y el procedimiento de prue)as de)e ser seguro, efecti o y lo ms rpido posi)le. 3onsideraciones a la 'ora de seleccionar com$onentes $ara sistemas de seguridad: 0) Para el mismo SIL, seleccionar e-uipos con el ms )a+o P#/a g y el ms alto inter alo de Prue)as Peridicas. 1) &onsiderar tam)i3n el ::4 (tiempo de reparacin) as como, el :=proof (escoger el -ue disponga del tiempo de reparacin inferior). 2) :ener en cuenta los porcenta+es de eficacia del 'proof test( y recalcular el alor P#/a g para erificar si ese alor es toda a lido para el ni el SIL re-uerido. 9) "scoger un ni el de SIL superior al re-uerido, si es posi)le, para me+orar y aumentar los inter alos de prue)as peridicas. "sto, reduce los costes de mantenimiento.

*.1

*.1

Nota: un e-uipo con un ni el SIL 2 para 0 ao, puede ser utilizado en un SI# con SIL 1 durante inter alos 'proof test( de 6 o 07 aos, dependiendo del alor de P#/a g.

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