Difraccin

La difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas, que es observable cuando una onda
atraviesa una rejilla cuyo tamao es del orden de su longitud de onda. Para entender este fenmeno,
podemos comparar el comportamiento de una onda con el de una partcula en un experimento
idntico.
Para simplificar, utilizaremos una rejilla con nicamente dos rendijas. En las figuras 1 y 2 se
representan los resultados que obtendramos si sobre ella se lanza un chorro de partculas o una
onda, respectivamente.
Pantalla de deteccin
Can de
lanzamiento de
partculas


+
Figura 1. De las partculas que
atraviesen la rejilla, algunas lo harn
por la rendija y otras por la . La
curva de distribucin producida en la
pantalla de deteccin por las partculas
que atraviesan por la rendija , est
acampanada debido a que el haz de
partculas es dispersado parcialmente
por choque con los laterales de la
rendija. La forma exacta de las curvas
de la rendija , de la rendija y total
+ puede diferir de las
representadas, dependiendo de la
distancia entre rendijas y otras
variables; pero lo importante es que la
cantidad de partculas que inciden en
cada punto de la pantalla detectora es
la suma de las que incidiran si slo
estuviera abierta la rendija ms las
que lo haran si slo lo estuviera la .
Pantalla de deteccin

+
Fuente de ondas
Onda en un
mximo
Onda en un
mnimo
Figura 2. En el caso de realizar el
mismo experimento con una onda,
observaramos que la onda original se
dispersa en cada rendija, pareciendo
que se origina en ella. Si tapamos una
rendija cada vez, encontraramos las
distribuciones y ; pero ahora la
curva de distribucin + que se
encuentra cuando ambas rendijas estn
abiertas no es la suma de la curva
ms la . La razn es que hay puntos,
como los marcados con crculos
negros, donde las dos ondas estn en
fase y se suman (Interferencia
constructiva), pero hay otros, como los
marcados con crculos blancos, en los
que las dos ondas estn en contrafase y
se anulan (Interferencia destructiva).
El fenmeno de interferencia de las ondas dispersadas por cada rejilla se conoce con el nombre de
difraccin.
Experimento de difraccin
La distribucin y distancia entre los mximos y mnimos de un diagrama de difraccin informa
sobre la distancia y distribucin de los nodos de nuestra rejilla. En nuestro experimento haremos
pasar un haz de luz roja, procedente de un Lser, a travs de una diapositiva en la que hay varias
rejillas dibujadas (figura 3). La longitud de onda de la luz roja utilizada es de 670 nm.
Lser de
luz visible
.
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Diapositiva
Pantalla
x
a)
b)
Figura 3. a) El experimento de
difraccin.
b) Algunas de las rejillas utilizadas
en el experimento.
La primera parte del experimento consiste en observar cmo la simetra de la rejilla afecta a la
distribucin de los puntos luminosos en el diagrama de difraccin; de hecho, se puede determinar
la distribucin de los puntos en cada rejilla estudiando su diagrama de difraccin. En la segunda
parte, determinaremos la distancia entre puntos en una de las rejillas (la primera de la figura 3b)
midiendo la distancia entre puntos en el diagrama de difraccin. Los detalles se dan en la figura 4.
Pantalla
Punto
central
Primer
punto
Segundo
punto
Tercer
punto
Diapositiva
l
d
Rayo

sen = d/l (1)

Igualando (1) y (2)
d/ l = /x
luego
x = ( l)/d
Diapositiva
Rayo
x

sen = d/l (1)

Diferencia de caminos.
Para interferencia constructiva
n
donde n = 1, para el Primer punto.
sen = /x (2)

A punto
central
A primer
punto
Figura 4. Deduccin de
la distancia x entre
puntos en la diapositiva
a partir de la distancia d
entre puntos en el
diagrama de difraccin y
la distancia l de la
diapositiva a la pantalla.
El crculo grande
enmarca una ampliacin
de la zona de la
diapositiva.
Si en una experiencia similar sustituyramos la diapositiva por la rejilla formada por los tomos de
un cristal, y el lser por una fuente de rayos X, cuya longitud de onda es del orden de las distancias
interatmicas (unos ), podramos determinar, partiendo del diagrama de difraccin obtenido, la
posicin de los tomos en el cristal. Esta es la base de la determinacin de estructuras cristalinas
por difraccin de Rayos X, una de las tcnicas ms importantes en la Qumica actual.