3.4.

Retardo de grupo y retardo de fase 21

Fig. 3.12. Retardo de grupo y retardo de fase en una seal tipo pasabanda.
3.4. Retardo de grupo y retardo de fase
Una medida conveniente de la linealidad de la fase es el retardo de grupo, que describe el
efecto de la fase de la respuesta en frecuencia de un sistema sobre una seal de banda
angosta. Esta seal est caracterizada como
x[n] = s[n] cos(
0
n), (3.18)
donde s[n] es una seal tipo pasabajo y con ancho de banda pequeo, es decir, S(e
j
) = 0
para [[ > , donde es muy pequeo, y
0
, como se representa en la Fig. 3.12(a).
Es habitual denominar a s[n] como seal moduladora, y a la seal p[n] = cos
0
n como por-
tadora. La forma de onda temporal y el espectro de esta seal se gracan en la Fig. 3.12(b) .
Como x[n] = s[n] p[n], el espectro X(e
j
) es la convolucin entre S(e
j
) y P(e
j
), y re-
sulta en una seal de ancho de banda angosta, centrada en
0
, como se ilustra en la
Fig. 3.12(c).
Como
P(e
j
) =

k
(
0
+ 2r) + ( +
0
+ 2r),
Procesamiento Digital de Seales U.N.S. 2011
22 3. Seales y sistemas discretos
la transformada de Fourier de la sucesin discreta (3.18) es
X(e
j
) =
1
2
Z

S(e
j
)P(e
j()
) d
=
1
2
Z

S(e
j
)[(
0
) + ( +
0
)] d
=
1
2
S(e
j(
0
)
) +
1
2
S(e
j(+
0
)
)
Si esta seal excita un ltro discreto con respuesta en frecuencia H(e
j
), representada en
la Fig. 3.12(d), la transformada de Fourier de la salida y[n] del sistema es
Y(e
j
) = H(e
j
)X(e
j
)
=
1
2
H(e
j
)S(e
j(
0
+2k)
) +
1
2
H(e
j
)S(e
j(+
0
+2k)
) (3.19)
como se muestra en la Fig. 3.12(d) . La salida y[n] del ltro est dada por
y[n] =
1
2
Z

Y(e
j
)e
jn
d =
1
2
Z

H(e
j
)X(e
j
)e
jn
d.
Como el intervalo de integracin es (, ], de las innitas rplicas presentes en (3.19)
slo deben considerarse las correspondientes a k = 0. Adems, ya que la seal x[n] es de
banda angosta, su espectro X(e
j
) es nulo en todo el intervalo (, ] con excepcin de
las bandas [
0
,
0
+] y [
0
,
0
+], [Fig. 3.12(c)] de manera que
y[n]=
1
2
Z

0
+

1
2
H(e
j
)S(e
j(
0
)
)e
jn
d+
1
2
Z

0
+

1
2
H(e
j
)S(e
j(+
0
)
)e
jn
d. (3.20)
Para calcular de manera explcita la salida se deben analizar cada una de las dos integra-
les de (3.20). Si se denen
y
1
[n] =
1
2
Z

0
+

1
2
H(e
j
)S(e
j(
0
)
)e
jn
d,
y
2
[n] =
1
2
Z

0
+

1
2
H(e
j
)S(e
j(+
0
)
)e
jn
d,
es evidente que y[n] = y
1
[n] + y
2
[n]. Por lo tanto, basta analizar en detalle la primera
integral, ya que la segunda se puede derivar de manera similar. En primer lugar, conviene
introducir un cambio de variables = +
0
, de modo que d = d, y entonces
y
1
[n] =
1
2
Z

1
2
H(e
j(
0
+)
)S(e
j
)e
j
0
n
e
jn
d. (3.21)
Como
0
, H(e
j(
0
+)
) =

H(e
j
0
+
)

e
j arg[H(e
j(
0
+)
)]
se puede aproximar utilizando
series de Taylor como

H(e
j
0
+
)

H(e
j
0
)

H(e
j
)

=
0
, (3.22)
arg[H(e
j(
0
+)
)] - arg[H(e
j
0
)] +

arg[H(e
j
)]

=
0
, (3.23)
Procesamiento Digital de Seales U.N.S. 2011
3.4. Retardo de grupo y retardo de fase 23
Fig. 3.13. Aproximacin de la respuesta en frecuencia H(e
j
) en H(e
j(
0
+)
).
como se muestra en la Fig. 3.13(a) y Fig. 3.13(b) , respectivamente. Nuevamente, como
el ancho de banda de S(e
j
) o de X(e
j
) es mucho ms estrecho que el de H(e
j
), es
razonable suponer que

H(e
j
)

=
0
- 0.
Sin embargo, esto no es necesariamente cierto para la variacin de la fase, que puede ser
signicativa. Se dene el retardo de grupo como la variacin negativa de la fase de H(e
j
)
en funcin de la frecuencia ,

G
() =

arg[H(e
j
)],
lo que permite expresar (3.23) como
arg[H(e
j(
0
+)
)] - arg[H(e
j
0
)]
G
(
0
), (3.24)
y entonces, de (3.22) y (3.24) se tiene que
H(e
j(
0
+)
) -

H(e
j
0
)

e
jarg[H(e
j
0 )]
G
(
0
)
. (3.25)
En consecuencia, la salida y
1
[n] dada por la ecuacin (3.21) se puede escribir como
y
1
[n] =
1
2
Z

1
2

H(e
j
0
)

e
j arg[H(e
j
0 )]
e
j
G
(
0
)
S(e
j
)e
j
0
n
e
jn
d,
y reordenando los trminos, resulta
y
1
[n] =
1
2

H(e
j
0
)

e
j arg[H(e
j
0 )]
e
j
0
n
1
2
Z

S(e
j
)e
j[n
G
(
0
)]
d. (3.26)
De acuerdo a las propiedades de la TDFT,
1
2
Z

S(e
j
)e
j[n
G
(
0
)]
d = s[n
G
(
0
)].
Por lo tanto (3.26) se puede poner como
y
1
[n] =
1
2
H(e
j
0
)e
j
0
n
s[n
G
(
0
)], (3.27)
Procesamiento Digital de Seales U.N.S. 2011
24 3. Seales y sistemas discretos
y de manera anloga, suponiendo que la respuesta impulsiva h[n] de H(e
j
) es real,
y
2
[n] =
1
2
H
+
(e
j
0
)e
j
0
n
s[n
G
(
0
)], (3.28)
Finalmente, de (3.27) y (3.28) resulta
y[n] =

H(e
j
0
)

s[n
G
(
0
)] cos
0
n + arg[H(e
j
0
)]
=

H(e
j
0
)

s[n
G
(
0
)] cos[
0
F(
0
)]n,
donde
F
() = arg[H(e
j
)]/ es el retardo de fase del sistema H(e
j
).
En sntesis, deniendo el
retardo de grupo como
G
() =

arg[H(e
j
)],
retardo de fase como
F
() =
1

arg[H(e
j
)],
la salida del sistema con respuesta en frecuencia H(e
j
) ante una excitacin de banda
angosta x[n] = s[n] cos(
0
n), donde s[n] es una seal tipo pasabajo, con S(e
j
) = 0 para
[[ > , y
0
es
y[n] =

H(e
j
0
)

s[n
G
(
0
)] cos[
0

F
(
0
)]n.
Esta ecuacin muestra que para una seal x[n] de banda angosta, la fase de H(e
j
) aplica
un retardo
G
(retardo de grupo) a la envolvente s[n] de la seal x[n], y un retardo de
F
(retardo de fase) a la portadora cos(
0
n).
EJEMPLO 3.8. Determinacin experimental del retardo de grupo
En la Fig. 3.14 se muestra la respuesta en frecuencia de un ltro elptico de cuarto orden con
frecuencia de corte
c
= /4, con ondulacin de 1 dB en la banda de paso, y 40 dB en la banda
de rechazo. El ltro se implementa como una cascada de dos secciones de segundo orden
H(e
j
) =
b
1,0
+ b
1,1
e
j
+ b
1,2
e
j2
a
1,0
+ a
1,1
e
j
+ a
1,2
e
j2

b
2,0
+ b
2,1
e
j
+ b
2,2
e
j2
a
2,0
+ a
2,1
e
j
+ a
2,2
e
j2
,
donde
Seccin b
i
a
i
1 b
1,0
= +0,02636248173504 a
1,0
= +1,00000000000000
b
1,1
= +0,01905630958554 a
1,1
= 1,37540781597787
b
1,2
= +0,02636248173504 a
1,2
= +0,55745202060406
2 b
2,0
= +1,00000000000000 a
2,0
= +1,00000000000000
b
2,1
= 0,76923432315460 a
2,1
= 1,31689024623849
b
2,2
= +1,00000000000000 a
2,2
= +0,86140502929003
A continuacin se estudia la respuesta del sistema ante dos excitaciones distintas.
Procesamiento Digital de Seales U.N.S. 2011
3.4. Retardo de grupo y retardo de fase 25
Fig. 3.14. Respuesta en frecuencia de un ltro elptico de cuarto orden.
Si el ltro se excita con una seal senoidal del tipo x[n] = Acos
0
n, la salida y[n] ser
y[n] = A

H(e
j
0
)

cos[
0
n +\H(e
j
0
)]
= A

H(e
j
0
)

cos
0
[n +\H(e
j
0
)/
0
]
= A

H(e
j
0
)

cos
0
[n
F
(
0
)]
A la frecuencia
0
= /4, se encuentra que

H(e
j
0
)

= 0,89125 y argH(e
j
0
) =
3,86790 rad (Fig. 3.14), y por lo tanto
F
(
0
) = argH(e
j
0
)/
0
= 4,9247 mues-
tras. En consecuencia, la seal de salida y[n] est dada por
y[n] = 0,89125Acos[(/4)(n 4,9247)],
que muestra que hay un retardo de fase
F
(
0
) de casi 5 muestras (en realidad 4,9247
muestras) entre la seal de entrada y la seal de salida.
Si la excitacin se cambia a una seal modulada x[n] = s[n] cos
0
n, donde s[n] es una onda
triangular, con frecuencia fundamental
m
= 5/400, la forma de onda de salida ser
y[n] = s[n
G
(
0
)]

H(e
j
0
)

cos
0
[n
F
(
0
)].
De la Fig. 3.14 se observa que el retardo de grupo
G
() a la frecuencia
0
= /4 es

G
(
0
) = 14,91859 muestras, y por lo tanto,
y[n] = 0,89125 s[n 14,9186] cos[(/4)(n 4,9247)].
En otras palabras, mientras que la portadora cos
0
n se retarda 5 muestras aproximadamente,
la envolvente r[n] de la seal x[n] se demora casi 15 muestras.
En la Fig. 3.15 se observan las formas de onda de entrada y de salida experimentales, obtenidas de
implementar el ltro en un sistema de desarrollo basado en el DSP56303 de Motorola. Las seales
de entrada y se salida se muestrean a f
s
= 8 kHz, y por lo tanto los retardos de fase y de grupo
expresados en unidades de tiempo, calculados como
[unidadesdetiempo] = [muestras]/f
s
donde f
s
es la frecuencia de muestreo, sern

F
(
0
) = 4,9247 muestras = 0,615 ms,

G
(
0
) = 14,9186 muestras = 1,864 ms.
En la Fig. 3.15(a) se mide el retardo de grupo
G
, es decir, la demora que sufre la envolvente de la
seal al pasar por el ltro, y se aprecia que es muy cercano al valor calculado. En la Fig. 3.15(b) se
ampla la zona central de la Fig. 3.15(a) , observndose que el retardo de fase
F
de la portadora,
es tambin similar al valor calculado analticamente.
Procesamiento Digital de Seales U.N.S. 2011
26 3. Seales y sistemas discretos
Fig. 3.15. Retardo de grupo (a) y retardo de fase (b) del ltro elptico de la Fig. 3.14. Frecuencia
de la portadora
0
= /4 (1 kHz); frecuencia fundamental de la moduladora
m
=
5/400 (50 Hz).
Fig. 3.16. Medicin del retardo de grupo. Seales de entrada y salida gracada en modo normal
(a), y en modo pico a pico (b).
La medicin del retardo de grupo puede ser difcil. Para medir con precisin, se necesita
que el ancho de banda de la seal moduladora sea mucho menor que la frecuencia de
la portadora, de modo que sean vlidas las aproximaciones del mdulo y la fase de la
respuesta en frecuencia dadas por la ecuacin (3.25). Pero esto diculta la observacin de
las seales en el osciloscopio, precisamente por la gran diferencia entre ambas frecuencias
que puede confundir al sistema de disparo, e impedir la obtencin de una imagen estable.
Sin embargo, an cuando logre estabilizarse la imagen, la medicin puede ser difcil,
como ilustra la Fig. 3.16(a) donde se muestran las seales de entrada y salida del ltro,
como se observan normalmente en el osciloscopio. Debido a la diferencia de frecuencias
entre la moduladora y la portadora, es difcil elegir un punto de referencia para medir el
retardo entre ambas seales. En la Fig. 3.16(b) se muestra la misma seal pero gracada
en modo pico a pico; esta representacin facilita la eleccin de un punto de referencia.
La Fig. 3.16 indica que para medir el retardo con precisin, tambin es relevante la forma
de onda de la seal moduladora. En la Fig. 3.17 se observan otros tipos de modulacio-
nes: una onda cuadrada [Fig. 3.17(a)], una rampa [Fig. 3.17(b)], y una onda triangular
[Fig. 3.17(c)]. Se aprecia que tanto con la onda sinusoidal, con la seal cuadrada o con la
rampa es difcil determinar la diferencia de tiempo entre la entrada y la salida, pues la
suavidad de la variacin de la primera y el transitorio que se observa en la salida de las
dos ltimas (que, adems, no son de ancho de banda limitada) impide elegir una referen-
cia apropiada. Sin embargo, la modulacin triangular [Fig. 3.17(c)] parece adecuada para
Procesamiento Digital de Seales U.N.S. 2011
3.4. Retardo de grupo y retardo de fase 27
Fig. 3.17. Diferentes tipos de seales moduladoras para medir el retardo de grupo: onda cua-
drada (a); rampa (b); onda triangular (c).
efectuar la medicin. Por ello se utiliz este tipo de modulacin en el Ejemplo 3.8.
En los siguientes ejemplos se compara el retardo de grupo calculado analticamente con
el retardo medido para un ltro pasabanda angosto cuyas especicaciones son
Banda de paso: 950 Hz a 1050 Hz
Banda de rechazo: 0 Hz a 900 Hz y 1100 Hz a 4000Hz
Atenuacin mxima en la bada de paso (A
p
): 1 dB
Atenuacin mnima en la banda de rechazo (A
r
): 40 dB
Frecuencia de muestreo (F
s
) 8000 Hz
En el Ejemplo 3.9 se analiza una implementacin tipo IIR, y en el Ejemplo 3.10 una reali-
zacin tipo FIR.
EJEMPLO 3.9. Medicin del retardo de grupo de un ltro IIR
El ltro se implementa con una aproximacin elptica, que resulta en una funcin transferencia de
orden N = 8,
H(e
j
) =
0,0100,055e
j
+0,154e
j2
0,272e
j3
+0,326e
j4
0,272e
j5
+0,155e
j6
0,055e
j7
+0,010e
j8
15,604e
j
+15,702e
j2
27,498e
j3
+32,749e
j4
26,995e
j5
+15,133e
j6
5,303e
j7
+0,929e
j8
La respuesta en frecuencia en mdulo y fase se graca en la Fig. 3.18(a); la Fig. 3.18(b) muestra
un detalle de la banda de paso.
El retardo de grupo se midi utilizando una seal moduladora con forma de onda triangular, y
frecuencia fundamental de 1 Hz, variando la frecuencia de la portadora se vari en pasos de 5 Hz
entre 950 y 1050 Hz, como se resume en la tabla siguiente.
retardo de grupo
frecuencia calculado medido
Hz rad muestras ms ms
950 0.2375 279.9 34.98 30
955 0.2387 171.7 21.46 19
960 0.2400 101.5 12.68 15
965 0.2412 87.8 10.97 11
970 0.2425 89.9 11.23 11
975 0.2437 91.5 11.44 11
980 0.2450 85.7 10.71 11
985 0.2463 74.8 9.35 9
990 0.2475 64.6 8.07 8
995 0.2488 58.3 7.28 7
1000 0.2500 56.7 7.08 7
retardo de grupo
frecuencia calculado medido
Hz rad muestras ms ms
1005 0.2512 59.6 7.46 7
1010 0.2525 66.9 8.36 8
1015 0.2537 76.9 9.61 10
1020 0.2550 85.5 10.69 11
1025 0.2563 88.0 11.01 11
1030 0.2575 84.8 10.59 10
1035 0.2587 83.7 10.45 10
1040 0.2600 99.7 12.46 12
1045 0.2612 168.5 21.07 21
1050 0.2625 258.7 32.34 32

En la Fig. 3.19 se muestran las mediciones correspondientes a las frecuencias de portadora f
p
= 950
Hz, 1000 Hz y 1050 Hz, mientras que en la Fig.3.20 se graca el retardo de grupo calculado con
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28 3. Seales y sistemas discretos
Fig. 3.18. Respuesta en frecuencia del ltro IIR del Ejemplo 3.9: en la banda de Nyquist (a);
detalle de la banda de paso (b).
Fig. 3.19. Medidas del retardo de grupo del ltro IIR del Ejemplo 3.9.
Fig. 3.20. Retardo de grupo calculado () y medido (+) para el ltro IIR del Ejemplo 3.9.
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3.4. Retardo de grupo y retardo de fase 29
Fig. 3.21. Respuesta en frecuencia del ltro FIR del Ejemplo 3.10: en la banda de Nyquist (a);
detalle de la banda de paso (b).
Fig. 3.22. Medidas del retardo de grupo del ltro FIR del Ejemplo 3.10.
Fig. 3.23. Retardo de grupo calculado () y medido (+) para el ltro FIR del Ejemplo 3.10.
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30 3. Seales y sistemas discretos
Matlab a partir de la funcin de sistema, junto con los valores medidos (indicados con +)
observndose que no es constante en funcin de la frecuencia.
EJEMPLO 3.10. Medicin del retardo de grupo de un ltro FIR
El ltro se implementa utilizando un algoritmo ptimo, que resulta en una funcin transferencia
de orden N = 282. La respuesta en frecuencia en mdulo y fase se graca en la Fig. 3.21(a); un
detalle de la banda de paso se muestra en la Fig. 3.21(b). La frecuencia de la portadora se vari en
pasos de 5 Hz entre 950 y 1050 Hz; la medida del retardo de grupo a tres frecuencias diferentes
se muestra en la Fig. 3.22, utilizando una onda moduladora triangular, y perodo de 1 s. Como la
respuesta en fase es lineal, el retardo de grupo resulta constante en funcin de la frecuencia, y es

G
= 141 muestras, como se observa en la Fig. 3.23. En la misma gura se muestra el valor del
retardo medido en distintas frecuencias. Se aprecia una ligera diferencia con el valor calculado, que
se atribuye a la poca precisin que tiene la medida efectuada con el osciloscopio.
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