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Cmo funciona el Diagrama de Control

Captulo 4 Control Estadstico de Calidad

Modelo del sistema de control de proceso


( con retroalimentacin )
VOZ DEL PROCESO METODOS ESTADSTICOS
Personal Equipo Materiales Mtodos Medio ambiente

La forma en que trabajamos

Producto

CLIENTE

INPUTS

PROCESO/SISTEMA
VOZ DEL CLIENTE

OUTPUTS

Identificacin de los cambios en sus necesidades y expectativas

FUENTE : Statistical Process Control (A.I.A.G.)

Causas fortuitas y causas atribuibles de la variacin de la calidad


En cualquier proceso de fabricacin, siempre existir cierto grado de variabilidad inherente o natural (causas esencialmente incontrolables). Bajo control estadstico, un proceso con slo causas fortuitas de variabilidad. Fuera de control, un proceso con causas atribuibles de variacin. Se espera que los procesos funcionen bajo control. CEP, detectar rpidamente la presencia de causas atribuibles y tomar acciones correctivas.

Base Estadstica del Diagrama de Control


Principios bsicos

Caracterstica de calidad

Lmite superior de control

Lnea central

Lmite inferior de control

Nmero de muestra o tiempo

Principios bsicos
Si el proceso est en control, casi la totalidad de los puntos se halla entre los lmites. Un punto fuera, evidencia de que muy probablemente el proceso est fuera de control
(Acciones de indagacin y correccin)

Un patrn o secuencia no aleatoria puede estar asociado a una situacin fuera de control. Ho : El proceso est bajo control estadstico.

Errores Tipo I y Tipo II


Tipo I : Concluir que el proceso est fuera de control cuando en realidad no lo est. Tipo II : Concluir que el proceso est bajo control cuando en realidad no lo est.

Ejemplo
Caracterstica de calidad : dimetro exterior del anillo para pistn en motor de automvil (mm). Media = 74 mm, desviacin estndar = 0.01 mm. Tomar una muestra de cinco anillos cada media hora. Calcular la media muestral, x (diagrama de control de x). Desviacin estndar muestral, X = / /n = 0.01/ /5 = = 0.0045 El proceso est en control, si (1-)% de las medias muestrales de los dametros estn entre 74 + Z /2(0.0045)

Contina ejemplo...
Si Z/2 = 3 (lmites de control de 3 sigma),entonces: LSC = 74 + 3(0.0045) = 74.0125 LIC = 74 3(0.0045) = 73.9865
M edia del dimetro 74.0110 74.0010 73.9910 73.9810 11 13 Nmero de muestra 15 1 3 5 7 9

Prueba de hiptesis
Ho: = 74, H1: = 74 ( = 0.01) La grfica de control prueba esta hiptesis repetidamente en diferentes instantantes Dr. Walter A. Shewhart propuso esta teora general de las grficas de control. Los diagramas para la tendencia central y la variabilidad se denominan GRAFICAS DE CO TROL DE VARIABLES. Para productos conformes o no conformes se usan GRAFICAS DE CO TROL DE ATRIBUTOS.

Seleccin de los lmites de control


Ho : El proceso est en control Un punto fuera, rechazar Ho, proceso fuera de control Error Tipo I : Concluir que el proceso est fuera cuando en realidad NO

Se reduce riesgo de Error Tipo I, pero aumenta el riesgo de Error Tipo II

Efecto opuesto

M edia del dimetro

74.0110 74.0010 73.9910 73.9810 1 3 5 7 9 11 13 Nmero de muestra 15

Si el dimetro de los anillos se distribuye normal. Lmites a 3, P(Error Tipo I) = 0.0027 Es decir, se generar una seal incorrecta de fuera de control en slo 27 de 10,000 veces.

Si se fija P(Error Tipo I) = 0.001, entonces Z=3.09 (Un solo


lmite)

LSC = 74 + 3.09(0.0045) = 74.0139 LIC = 74 3.09(0.0045) = 73.9861 Lmites probabilsticos de 0.001 Es extendido el uso de los lmites 3. Cundo convendra un mltiplo menor de (2.0 2.5)?
Si las prdidas provocadas por un proceso que sigue funcionando fuera de control son ms grandes que los costos de indagar y, en su caso, de corregir las causas atribuibles.

Lmites de advertencia, 0.025 y lmites de accin, 0.001. Rebasados los lmites de advertencia? Incrementar la frecuencia de muestreo.

Curva caracterstica de operacin


Probabilidad de que x caiga dentro de los lmites
1.1000 1.0000 0.9000 0.8000 0.7000 0.6000 0.5000
74 .00 0 74 .00 1 74 .00 2 74 .00 3 74 .00 4 74 .00 5 74 .00 6 74 .00 7 74 .00 8 74 .00 9 74 .01 0 74 .01 1 74 .01 2 74 .01 3

n = 10 n = 15

n=5

Media del proceso

Observaciones
La probabilidad de detectar un cambio en la media aumenta al incrementarse n. Frecuencia, tomar muestras pequeas a intervalos cortos o muestras largas a intervalos largos. Para fijar la frecuencia considerar: costo del muestreo, prdidas provocadas por un proceso fuera de control que sigue trabajando, la tasa de produccin y las probabilidades de ocurrencia de diversos tipos de cambios en el proceso.

Subgrupos racionales
Se deben seleccionar subgrupos o muestras de manera que si hay causas atribuibles, la posibilidad de diferencias entre subgrupos sea mxima, mientras que la misma posibilidad dentro de un subgrupo sea mnima.

Enfoques para la construccin de subgrupos


... se produjeron en el mismo momento (o con la
menor diferencia posible)
DETECTAR CAMBIOS EN EL PROCESO

Cada muestra consta de unidades que ...

...son representativas de todas las unidades que se han producido desde la obtencin del ltimo subgrupo
ACEPTACIN DE CORRIDAS

Anlisis de patrones en grficas de control


Western Electric Handbook (1956)
Un punto cae fuera de los lmites de control de tres sigma. Dos de tres puntos consecutivos caen ms all de los lmites de advertencia de dos sigma. Cuatro de cinco puntos consecutivos se encuentran a una distancia de una sigma o ms de la lnea central. Ocho puntos consecutivos se hallan al mismo lado de la lnea central.

Otros criterios
Una corrida de por lo menos 7 u 8 puntos, donde el tipo de corrida podr ser ascendente o descendente, una corrida sobre la lnea central o bajo de ella, o bien una por encima o por debajo de la mediana. Uno o ms puntos cerca de un lmite de advertencia o control.

Error Tipo I global


Al usar k criterios, P(error Tipo I al aplicar el criterio i) = i, entonces
k

= 1
i=1

(1 i)

Incrementa la sensiblidad de la grfica, y eleva la tasa global de falsas alarmas.