ESPECTROSCOPA DE ELECTRONES AUGER

Qu es la caracterizacin de Materiales?
Obtencin de informacin a partir de la respuesta de un material al ser perturbado por una seal. (Caracterizacin anlisis instrumental)

Por qu es necesaria la caracterizacin de materiales?

Conocer o predecir las propiedades de un material y as valorar su utilidad en diversas aplicaciones.

Qu informacin ofrecen las tcnicas de caracterizacin y cmo se utiliza?

Composicin, estructura, topologa, topografa, morfologa, propiedades (Color, Tm, etc.)

Mtodo instrumental o de anlisis

Aplicacin especfica de una tcnica instrumental para resolver un problema determinado. Procedimiento.- Son las instrucciones (no detalle) escritas para llevar a cabo un mtodo. Protocolo.- Es un procedimiento detallado (receta) Resultados comparables (Reproducibilidad)

Clasificacin de las Tcnicas y Mtodos de anlisis

Tcnicas Clsicas a) Separacin.- Destilacin, precipitacin, extraccin. b) Reacciones qumicas productos con caractersticas fcilmente observables o medibles. c) Anlisis cualitativo.- color, olor, pto. Fusin, etc. Identificacin. d) Anlisis cuantitativo.- Gravimetras, volumetras. Cantidad de

Tcnicas instrumentales
Se basan en la medida de una propiedad fsica de la sustancia a analizar. a) Separacin.- Cromatografa. b) Tipos de Tcnicas instrumentales.

Espectroscopia de electrones Auger

La espectroscopia de electrones Auger ha recibido mayor atencin como una herramienta del anlisis de superficies durante los ltimos aos. Su importancia en este campo se ha hecho tan grande que se ha convertido en un mtodo estndar de anlisis en la caracterizacin elemental de superficies slidas y capas delgadas.

Las razones de esto son:

1. La facilidad de produccin de electrones Auger combinado con instrumentos de gran poder en el anlisis de electrones. 2. La buena sensibilidad sin grandes diferencias entre los elementos. 3. La ausencia de efectos qumicos de primer orden en la mayora de los casos. 4. La fcil combinacin con sputtering de iones de gas noble, lo que permite determinar perfiles de profundidad de concentracin bien definidos

La importancia
Espectroscopia de electrones Auger
Su importancia en este campo se ha hecho tan grande que se ha convertido en un mtodo estndar de anlisis en la caracterizacin elemental de superficies slidas y capas delgadas.

Electrn Auger
Es un fenmeno fsico en el cual la desaparicin de un electrn interno de un tomo causa la emisin de un segundo electrn. El segundo electrn emitido es llamado electrn Auger.

La siguiente figura muestra una transicin Auger KLL. El primer electrn fue quitado de la capa K. Un electrn L baja a ocupar la vacante y el exceso de energa es trasferido a un segundo electrn L, el cual es emitido del tomo.

COMO SURGIO?

El nombre de Pierre V. Auger, quien descubri este tipo especial de electrn en 1923 mientras estudiaba la emisin inducida por la excitacin de rayos X en una cmara de niebla, en donde observ electrones emitidos con energa constante independientemente de la energa de los rayosX.

Como funciona?
Diagrama esquemtico que ilustra el uso de un haz de iones para obtener el perfil de composicin a travs de una pelcula delgada por medio de la espectroscopia Auger.

CONTAMINANTES SUPERFICIALES
(a) Espectro Auger de una muestra de nquel contaminada principalmente con carbn. (b) Espectro Auger de la misma muestra despus de limpiar su superficie.

LAS GRFICAS DE AUGER

Nmero de electrones Auger multiplicados por la energa con la que salen de la superficie como funcin de esa energa para silicio.

LAS GRFICAS DE AUGER

Energas de los principales electrones Auger emitidos por los elementos qumicos. El eje horizontal es la energa con que son emitidos y el eje vertical es el nmero atmico. Se marca con una flecha el caso del silicio